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--> --> -->第IV主族元素Si和Ge具有和C原子相同的外层电子结构, 因此用Si或Ge掺杂石墨烯, 有希望保留狄拉克锥, 从而保存石墨烯原有的优异性质. 掺杂打破其对称性可能产生带隙, 从而克服石墨烯零带隙的缺点. 最近Si掺杂的石墨烯-硅石墨烯 (siligraphene)—作为一种新的二维材料被广泛地研究[7-10]. g-SiCn表示C和Si原子数比例为n∶1的siligraphene. 不同于一般的Si掺杂, siligraphene中的Si的含量很高, 因而又被看作是石墨烯和硅烯的复合体. 研究表明siligraphene性质比石墨烯和硅烯更丰富. 改变siligraphene的化学计量比, 带隙可在很宽的范围内变化 (0—2.87 eV)[11]. 研究发现, g-SiC2具有1.09 eV的带隙, 有望成为太阳能电池材料[12,13]. g-SiC3被发现是一种拓扑绝缘体, 其边缘态具有受拓扑保护的带隙[14]. 而g-SiC5是半金属, 具有出色的气体传感性能[15]. g-SiC7的能隙 (1.13 eV) 在红外和可见光范围内[16], 研究发现其具有出色的吸光率和太阳能转化率, 在光伏电池中具有很大的应用价值. g-SiC7还被发现具有很高的电导率、良好的热学和光学性质[17,18].
到目前为止, 关于siligraphene的研究都基于两个假设. 第一, 假设Si原子在siligraphene中的分布是具有较高对称性. 这样假设的目的可能是为了尽量不打破石墨烯的原有对称性, 从而使石墨烯的优良性质得以保留. 第二, 假设siligraphene具有平面结构. 其原因可能是在g-SiCn (n > 1) 中, 大多数化学键与石墨烯中的键类似, 是具有sp2杂化的C—C键, 因此认为不会发生翘曲. 但是由于Si—C键 (1.785 ?) 要比C—C (1.420 ?) 键明显长[19-21], 为了容纳更长的Si-C键, 石墨烯中原有的C原子正六边形环会发生形变. 该形变是否导致翘曲与Si原子浓度及其分布有关, 因此需要对比平面与非平面结构的稳定性. 图1所示的是文献中重点研究的g-SiC7, 它具有高对称的Si分布和全平的结构[17,18,22]. 但是哪一种分布是更可能的, 应该根据稳定性来判断, 而不是根据高对称性和平面性的要求或假设. 此前还没有研究表明在siligraphene中Si原子高对称分布比低对称的能量更低, 或者全平结构比非平面结构的能量低. 所以有必要研究各种可能的Si分布及其平面和非平面结构, 从中找出能量最低的情形.

Figure1. The atomic structure of g0-SiC7 are studied in the literature [16]. The brown and green spheres represent C atoms and Si atoms in the plane, respectively. The rhombus denotes the unit cell.
为了研究siligraphene的Si原子分布和其结构, 将不局限于上述两个假设, 充分考虑各种可能的分布和结构, 从中找出能量更低的siligraphene, 并研究其性质. 在本文中, 选取g-SiC7为研究对象, 因为在众多的siligraphene中, g-SiC7在光伏、储氢、电学、热学和光学方面有优异潜质而受到广泛研究, 而且还因为相较于g-SiC2, g-SiC3和g-SiC5, g-SiC7中的Si原子有足够多的分布方式, 有利于探索Si原子分布的规律. 通过排列组合, 考虑所有Si原子可能的占位, 从中筛选出不等价的分布, 然后对每种分布考虑平面和各种非平面结构, 通过第一性原理计算总能来比较其稳定性, 找到了几种能量相近最稳定的结构, 并通过计算声子谱、电子能带和贝里曲率, 研究了它们的稳定性、电子性质和能谷自由度, 发现它们仍然保留狄拉克锥, 并且打开了带隙. 这些研究将有助于未来研究IV族原子掺杂的石墨烯、硅烯和锗烯的物理性质.

以往对g-SiC7的研究一般只考虑了如图1所示的平面结构[16,17]. 在本文中, 对每种Si分布分别考虑两种不同的初始翘曲. 一种初始翘曲类似于硅烯的翘曲结构, 其中所有相邻原子(包括Si和C原子) 在z方向相对位移0.3 ?; 另一种是C原子固定在平面内不动, 仅掺杂Si原子在z方向有相对位移0.3 ?. 首先优化图1中所示平面结构获得其总能量E0, 并以此能量为参照进行比较. 为了探索非平面siligraphene, 对每种Si分布的两种初始非平面结构进行弛豫, 并选择能量较低的情况进行研究, 以查看它们最终是非平面还是平面结构. 如果弛豫得到的结构是平面的, 则非平面结构是不稳定的. 如果得到的是非平面结构, 则将其能量和总能量E0比较, 以确定哪个更稳定.
按照以上思路, 对这365种分布的结构进行优化, 计算其总能. 在以下讨论某种Si分布的能量时, 如无特别指出, 都是指该分布经弛豫后所得到结构的最低能量. 用Si原子间绝对距离 (考虑z方向的移动) 的平均值作为指标来描述Si原子的聚集度, 以文献[17, 18]中的高对称和全平g0-SiC7 (图1)的总能E0为参照, 分析总能与Si原子聚集度的关系, 从中找出具有较低能量的分布和结构所具有的特征. 从图2可见, 在文献[17]中具有高对称Si分布和平面结构的g0-SiC7 (图1)的能量几乎处于最高位置, 绝大多数Si分布的能量比g0-SiC7的低很多, g0-SiC7的Si原子平均距离也是最大的. 计算发现的趋势是: 比较聚集的Si原子分布一般有较低的能量; 在相同的Si原子分布情况下, 具有翘曲的非平面结构大多数情况下具有较低能量.

Figure2. For the relationship between the total energy of g-SiC7 and the average distance between Si atoms, the total energy of g0-SiC7 in the literature [17, 18] is selected as the reference zero point. The Roman numerals in the figure mark the non-planar structures with the lowest energy, planar structures, and some structures compared with them in this article. The inset histogram represents the percentage of unequal Si distribution in the total distribution in different energy intervals.
尽管图2表明对绝大多数Si分布是非平面结构更稳定, 仍有8种分布的平面结构是稳定的, 即从初始具有翘曲的结构出发, 弛豫后体系会回到全平状态. 在这些全平结构中也有Si平均距越小能量越低的趋势(图2). 图2中的结构Ⅴ是能量最低的平面结构, 其原子结构和Si原子分布如图3(a)所示, 其中Si原子分布在一条带上, 占据了原来石墨烯C原子六环中长对角线端点的位置. 在图2中可见, 几乎在结构V的正下方有个非平面结构Ⅳ, 其Si平均距离几乎与结构Ⅴ的相等, 但其能量比平面结构Ⅴ的小. 图3(b)所示为非平面结构Ⅳ, Si原子也分布在一条带上, 占据了C环的短对角线的端点, 两个一组, 高低交错排列. 其他平面结构也都有类似情况, 总存在与其Si分布相近的能量更低的非平面结构. 计算了图2中Ⅴ和Ⅳ结构的声子谱, 发现没有虚频, 所以它们是动力学稳定的. 同时计算了它们的能带, 如图3所示, 可见它们在K和–K处的狄拉克锥仍然保留, 结构Ⅴ和Ⅳ在狄拉克点处分别有0.007 eV和0.009 eV的带隙. 这八种稳定的全平分布不包括文献[16-18]中研究的g0-SiC7 (图2中的结构VII), 因为以往计算g0-SiC7时只考虑了其全平初始结构, 如果让其初始结构中原子具有垂直于平面的位移, 弛豫后会得到能量低得多的非平面结构[11] (图2中的结构VI).

Figure3. The left panels of (a) and (b) are the top and side views of the structures V and IV in Fig. 2, respectively. The brown spheres stand for C atoms. The red, green and blue spheres denote the Si atoms above, inside and below the plane, respectively. The rhombus denotes the unit cell. The middle and right panels are their phonon spectra and energy bands, respectively.
除了这八种分布的平面结构, 其余分布的稳定结构都是有翘曲的, 它们从有初始面外偏移的结构出发, 弛豫后原子不回到平面, 而是得到有翘曲的结构, 且能量比全平结构的能量低. 从图2可见, 随着Si原子平均距离减小, 能量也减小, 说明在siligraphene中, Si原子倾向于聚集. 我们对图2中左下角能量最低的三种结构Ⅰ, Ⅱ和Ⅲ进行了更详细的研究, 其优化后的结构如图4所示, 结构Ⅰ(Ⅱ, Ⅲ)的晶格常数a和b分别为9.88 (9.93, 10.05) ?和10.18 (10.30, 9.90) ?, 计算的能量、带隙和翘曲高度如表1所列. 结构Ⅰ的能量最低, 一个g-SiC7原胞里的四个Si原子聚在一起构成一个Si原子环, 这个环中两个相邻Si原子在平面上面, 另两个相邻Si原子在平面下面, Si的最大翘曲高度有2.84 ?, 比硅烯中的翘曲高度0.44 ?大了很多. 能量比g0-SiC7的能量低了每单位化学式1.85 eV. 为验证其动力学稳定性, 计算了其声子谱, 如图4(a)所示. 声子谱中没有虚频, 说明结构Ⅰ是动力学稳定的. 对其进行第一性原理分子动力学计算, 如图5(a)所示, 在500 K温度下能量在平衡位置附近震荡, 基本维持了原来的形貌, 说明其具有热力学稳定性. 对其弹性模量计算, 如表1所列, 其C11, C12, C22以及C44满足二维材料的玻恩准则(C11C22 – C12 > 0, C44 > 0)[28], 说明它们都是机械稳定的. 计算的能带表明, 虽然翘曲较大, 但是狄拉克能谷得以保存, 在狄拉克点处打开了0.02 eV的带隙.

Figure4. The left panels in Fig. (a), (b) and (c) are the top and side views of the structures I, II and III in Fig. 2 with the lowest energies, respectively. The brown spheres stand for C atoms. The red, green and blue spheres denote the Si atoms above, inside and below the plane, respectively. The rhombus denotes the unit cell, h denote buckling height. The middle and right panels are their phonon spectra and energy bands, respectively. The central color gradient plane between the bands shows the calculated total Berry curvature of the valence bands.
Structure | Ⅰ-SiC7 | Ⅱ-SiC7 | Ⅲ-SiC7 |
Energy/(eV per formula unit) | –1.85 | –1.81 | –1.80 |
h/? | 2.84 | 2.45 | 2.63 |
Band gap/eV | 0.02 | 0.42 | 0.26 |
C11/(N·m–1) | 237.30 | 270.45 | 219.15 |
C22/(N·m–1) | 178.20 | 209.40 | 218.55 |
C12/(N·m–1) | 12.30 | 31.50 | 21.90 |
C44/(N·m–1) | 93.60 | 97.65 | 95.70 |
表1最稳定的三种g-SiC7的总能(以g0-SiC7的总能为参照)、翘曲高度h、带隙和弹性模量, 罗马数字与图2中的对应
Table1.The total energy (with respect to the total energy of g0-SiC7), buckling height h, band gap and elastic moduli of the three most stable g-SiC7, the Roman numbers correspond to those in Fig. 2.

Figure5. (a), (b) and (c) are the molecular dynamics simulations (at 500 K) of the three most stable structures I, II and III of g-SiC7 in Fig. 2. The left and right panels show the structures after 15 ps and the total energies vs time, respectively.
结构Ⅱ和Ⅲ的能量更相近, 比结构Ⅰ的能量高, 如表1所列. 结构Ⅱ中, 由4个Si原子和1个C原子构成一个5-原子环. 结构Ⅲ中, 有两个Si原子上下正对着分布在平面的两侧, 另两个Si原子分别于平面两侧的这两个Si原子成键. 结构Ⅱ和Ⅲ的最大翘曲高度分别为2.45 ?和2.63 ?. 如图4(b)和图4(c)所示, 它们的声子谱也没有虚频, 所以也是动力学稳定的. 对它们进行第一性原理分子动力学计算, 如图5(b)和图5(c)所示, 在500 K温度下它们的能量在平衡位置附近震荡, 结构基本维持了原来的形貌, 说明它们都具有热力学稳定性. 它们的弹性模量如表1所列, 也满足二维材料的玻恩准则, 是机械稳定的. 结构Ⅱ和Ⅲ的能带中仍然保持了狄拉克能谷, 在狄拉克点处的带隙分别为0.42 eV和0.26 eV, 远大于结构Ⅰ的带隙.
由于结构Ⅰ, Ⅱ和Ⅲ都具有狄拉克能谷而且打开了带隙, 所以有可能具有能谷自由度. 为验证这一点, 用WANNIER90计算了他们的价带总贝里曲率, 如图4能带图中间的颜色梯度图所示, 发现在K和-K处不等价的狄拉克能谷处有较大的贝里曲率, 而且符号是相反的, 因此结构Ⅰ, Ⅱ和Ⅲ都可作为能谷电子学材料, 具有能谷霍尔效应 (valley Hall effect) 和圆偏振光的二色性 (circular dichroism) 等量子效应.
我们统计了在每个能量区间内Si分布所占的百分比. 从图2中可见, 在能量区间–1.0—–0.8 eV内Si的分布数最多, 占总分布数的36.1%, 能量在–0.8—–0.6 eV和–1.0—–1.2 eV之间Si的分布数分别为17.8%和24.9%, 这三个能量区间的分布数占总数的78.8%.