1.Institute of Mathematical, Lanzhou Jiaotong University, Lanzhou 730070, China 2.Department of Physics, Lanzhou City University, Lanzhou 730070, China
Fund Project:Project supported by the National Natural Science Foundation of China (Grant No. 51562021), the Excellent Research Team of Lanzhou Jiaotong University, China (Grant No. 201803), and the Foundation of A Hundred Youth Talents Training Program of Lanzhou Jiaotong University, China.
Received Date:27 February 2019
Accepted Date:16 September 2019
Available Online:27 November 2019
Published Online:05 December 2019
Abstract:The band structure and transmission characteristics of a new two-dimensional (2D) piezoelectric phononic crystal plate consisting of four epoxy short plates periodically connected with a square lattice of a prismatic piezoelectric material coated with plexiglass are investigated by supercell method and finite element method. By changing the electric boundary conditions imposed on the upper and lower surfaces of piezoelectric scatterers, a point defect waveguide with adjustable paths is formed, which overcomes the limitation of immutability in the direction of the vibration waveguide, with material and structural parameters fixed. Then the controlling of the piezoelectric effect can change the material parameters of piezoelectric components in phononic crystals, showing that the piezoelectric constants have a great influence on the complete bandgap, which is beneficial to the formation of defect states; when the frequency of the defect state appears in the band gap, the frequency-responding range of the defect state expands. The analysis of the displacement vector field indicates that the strain energy in the resonance of the new structure is almost completely limited to the upper and lower surfaces of the central piezoelectric scatterer. We use the recycling circuit to connect the electrodes on the upper and lower surfaces of the piezoelectric sheet. At this time, the output electrical energy can supply the power to the DC load, and the mechanical energy of vibration can be converted into electrical energy. The results of this work provide a reference for the self-powered technology of waveguide and wireless sensor device with adjustable path. Keywords:phononic crystal/ finite element method/ point defect/ vibration energy recovery
全文HTML
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2.模型及方法图1为1 × 5超元胞二维压电声子晶体板及其初基原胞示意图, 其中图1(a)为超胞平面图, 图1(b)为原胞立体图, 图1(c)为原胞平面图, 图1(d)为第一布里渊区及不可约布里渊区. 该单胞结构由包裹有机玻璃涂层的四棱柱形压电材料按正方形晶格周期性连接在四个环氧树脂短板上构成, x-y平面位于板的中间平面上, z轴沿着厚度方向. 研究采用沿[001]方向极化且具有高机电耦合系数的压电材料0.27 PIN-0.4 PMN-0.33 PT作为中心散射体, 该结构参数定义如下: 晶格常数为a, 环氧树脂连接板的长度和高度分别为l1和d; 四棱柱压电散射体的深度和高度分别为l2和h1; 有机玻璃涂层的长度和高度为l3和h2. 图1计算所需的压电材料和弹性材料的参数分别由表1和表2给出. 图 1 1 × 5超元胞二维压电声子晶体板及其初基原胞示意图 (a) 1 × 5超胞; (b)原胞立体图; (c)原胞平面图; (d)第一布里渊区(阴影部分为不可约布里渊区) Figure1. 1 × 5 supercell two-dimensional piezoelectric phonon crystal plate and its primary cells: (a) The supercell plan; (b) the protocell stereogram; (c) the protocell floor plan; (d) the first Brillouin zone (the shadow part is the irreducible brillouin zone).
密度ρ/kg·m–3
弹性常数Cij/1010 N·m–2
压电常数e/C·m–2
介电常数ε/10–11 F·m–1
C11
C12
C13
C33
C44
C66
e15
e31
e33
ε11
ε33
8189
12.2
11.3
10.8
11.2
6.9
6.2
16.0
–2.7
18.6
4193
585
表1压电材料0.27PIN-0.4PMN-0.33PT的参数 Table1.Piezoelectric material parameters of 0.27PIN-0.4PMN-0.33PT.
密度ρ/kg·m–3
杨氏模量E/1010 Pa
剪切模量μ/1010 Pa
有机玻璃
1142
0.200
0.072
环氧树脂
1180
0.435
0.159
表2弹性材料参数 Table2.Material parameters of elastic materials.
本文设计的由包裹有机玻璃涂层的四棱柱形压电材料按正方形晶格周期性连接在四个环氧树脂短板上构成的二维压电声子晶体板, 结构参数取值为: a = 20 mm, h1 = 10 mm, h2 = 4 mm, l1 = 5 mm, l2 = 16 mm, l3 = 18 mm, d = 2 mm. 采用超晶胞法结合有限元方法来模拟无限长压电声子晶体板波导并计算能带结构, 超晶胞包含5个单位单元. 在超晶胞的x和y方向施加Bloch周期性边界条件, 将中间压电散射体的z方向设置成开路电边界条件, 两侧压电散射体的z方向设置成短路电边界条件, 从而形成电边界缺陷. 图3给出了1 × 5超晶胞完美声子晶体板和缺陷态声子晶体板周期性结构的色散关系, 通过对比, 可以看到缺陷态声子晶体板能带结构在900—1300 m/s之间存在三个频散曲线, 即缺陷频带. 图4为完美声子晶体板和缺陷声子晶体板的传输损失对比示意图, 可以看出该传输损失谱中存在的频率衰减范围与图3中的完全带隙的频率范围相符合, 很好地验证了能带结构的数值结果, 并且在0—1550 m/s频率范围内, 压电声子晶体板传输损失谱存在三个明显的能量衰减区域, 其能量衰减频率范围分别是180—750, 1031—1289和1408—1507 m/s, 当引入点缺陷时, 第一和第三完全带隙的频率范围几乎保持不变, 而在第二个能量衰减区域中的1248 m/s附近出现峰值, 表明峰值是由电边界缺陷造成的. 图 3 完美和缺陷周期性结构压电声子晶体板的能带结构示意图 Figure3. Schematic diagram of energy band structure of piezoelectric phononic crystal plate with perfect and periodic defect structures.
图 4 完美和缺陷周期性结构压电声子晶体板传输特性对比示意图 Figure4. Schematic diagram of transmission characteristics of piezoelectric phonon crystal plates with perfect and periodic defect structures.
本文设计的1 × 5新型二维压电声子晶体板超元胞总共有的三种点缺陷振动模式, 即点缺陷分别位于超元胞中间位置(模式A)、左二或右二位置(模式B)和任意端位置(模式C). 为了进一步说明峰值是由点缺陷造成的这一事实, 计算了电边界缺陷位置为模式B和模式C时的能带结构和传输损失, 计算结果如图5所示. 图6给出了超元胞三种不同点缺陷位置的传输特性对比结果. 通过对比发现, 位于超元胞中间位置的点缺陷即模式A的峰值频率为1248 m/s, 模式B点缺陷的峰值频率为1139 m/s, 模式C点缺陷的峰值频率为1050 m/s, 可见点缺陷的位置越靠近中心, 其峰值频率越大, 表明峰值变化是由引入点缺陷所造成的. 图 5 1 × 5超元胞的两种不同点缺陷位置传输损失和能带结构 (a)点缺陷为模式B; (b)点缺陷为模式C Figure5. The position transmission loss and band structures of two different defects in the 1 × 5 supercells: (a) The point defect is at pattern B; (b) the point defect is at pattern C.
图 6 超元胞的三种不同点缺陷位置的传输特性对比 Figure6. Comparison diagram of transmission characteristics of three different defect locations of the supercell.
图7给出了上述三种处于不同电边界缺陷位置峰值频率的位移矢量场, 三种模式都是良好的振动模态, 其弹性能量主要限制在开路电边界缺陷处, 中心压电散射体的有效弹性刚度通过消除切向电场而减小, 因此可以将弹性波限制在点缺陷周围. 压电散射体在z轴方向上有一个振幅很大的振动, 且带动了包覆层和连接板的z方向振动, 从而产生大幅变形, 以得到最大的应变, 因此振动能量将局域在上下表面开路条件的压电散射体中, 更强烈地限制在缺陷处, 利用压电散射体在z方向上(面外波)振动导致声子晶体板形变从而将机械动能转化为电能进行能量回收. 图 7 压电声子晶体板缺陷态处于三种不同位置的位移矢量场 Figure7. Displacement vector fields of piezoelectric phonon crystal plates with defect states at three different positions.
23.2.压电常数对带隙特性的影响 -->
3.2.压电常数对带隙特性的影响
压电材料具有正压电效应, 当受到外界压力作用时会在上下两端面间形成电势差, 而压电常数e''是反映力学量(应力或应变)与电学量(电位移或电场)间相互耦合的线性响应系数, 对带隙的位置和宽度有着很大的影响, 从而导致缺陷态频率发生改变. 假定压电常数e'' = e/e', 对于真实的压电材料属性, 设定e'' = 1, 对于没有压电效应的情况, e'' = 0. 本文计算了点缺陷处于超元胞中间位置的压电声子晶体的压电常数 e''从0 (无压电)逐渐改变为1 (实际值)的传输损失谱, 结果如图8所示. 第一和第三完全带隙的频率范围几乎保持不变, 而随着第二个能量衰减区域中压电常数的增大, 对应的峰值频率也越来越大. 图 8 压电常数对声子晶体板传输特性的影响 Figure8. Influence of piezoelectric constant on the transmission characteristics of phonon crystal plates.
为了进一步分析, 图9给出了第五条带隙和第六条带隙边缘随压电常数的变化情况. 结果表明: 随着压电常数增大, 第五带隙下边缘大致保持不变, 而带隙上边缘随着耦合强度的增加而上移; 第六完全带隙的下边缘随着压电常数的增大而向上移动, 致使缺陷态频率提高, 这是因为较低的频带边缘上的模式主要为压电散射体的平移振动或不受压电效应影响的弹性材料的振动, 上边缘模式是压电柱的扭曲振动. 因此, 可以得出结论: 压电效应对完整带隙有显著影响, 并有利于缺陷态的形成和扩大. 图 9 压电常数e''对第五和第六完全带隙上边缘和下边缘(即缺陷态)的影响 Figure9. Effect of piezoelectric constant e'' on upper and lower edge (i.e. defect state) of fifth and sixth complete bandgap.
其中e是0.27PIN-0.4PMN-0.33PT压电陶瓷的压电常数, h为压电层的厚度, ${\bar \sigma _{\rm max }}$为整个压电层自由面上的横向应力取平均值. 压电散射体在共振频率处发生共振所产生的是交流电压, 因此用整流电路连接压电片上下表面的电极将交流电变成直流电, 输出的电能就可以为直流负载供电. 图11给出了交流电压的波形图, 图12给出了结构发生共振时, 负载电阻RL两端的功率随激励交流电压源的变化, 可以看出负载电阻RL两端的功率随共振频率处的电压增大而增大, 对比三种模式缺陷态回收电能的能力发现, 当缺陷态处于超元胞中间位置, 即模式A时, 其振动能量回收能力为三种方式中最大的, 是缺陷态为模式C的能量的两倍多. 图 11 压电散射体上下表面电压波形图 Figure11. Voltage waveform of upper and lower surface of piezoelectric scatterer.
图 12 三种不同点缺陷位置的电阻R输出功率随激励电压的变化示意图 Figure12. Schematic diagram of resistance R output power varying with excitation voltage at three different defect positions