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--> --> -->近年来, 二维(two-dimentional, 2D)材料[13,14]因其显著的电学和光学性质而受到广泛关注, 例如石墨烯[15]、六方氮化硼[16]及过渡金属二硫化物[17]. 石墨烯是一种层状二维材料, 由于它的高载流子迁移率、可调谐性和宽带响应等独特的特点, 令其已成为设计太赫兹吸收器最有前景的材料之一, 例如, Zhang等[18]通过将石墨烯与图案化金属谐振器结合, 设计了一种极化不敏感的宽带吸收器结构; Li和Sun[19]通过基于伞形石墨烯超表面的经典三层结构设计出了多频带可调谐的太赫兹吸收器. 然而, 虽然单层石墨烯拥有很大的可研究性, 但由于它始终具有零带隙, 因此在器件应用方面存在一定的缺陷性. 与石墨烯不同, 当过渡金属二元化合物(transition metal dichalcogenides, TMDCs) (如二硫化钼、二硒化钼、二硫化钨和二硒化钨)从宏观结构转化为2D单层结构时, 它们会成为直接带隙半导体[20,21]. 同时TMDCs是在单层厚度下具有独特性质的新型半导体, 它所具有的光电特性引起了研究者的关注[22]. 其中, 二硫化钼(molybdenum disulfide, MoS2)是最典型的过渡金属硫属化合物, 它的直接带隙约为1.8 eV[23], 在电子跃迁方面有很重要的作用. 与此同时, 因为MoS2的直接带隙和低暗电流的特殊性质, 它被认为是更优选的2D原子级薄材料, 用于光电检测[24]、光致发光[25]、场效应晶体管[26]以及光伏器件[27]. 但是, 尽管MoS2在光子学和光电子学应用领域的潜力很大, 但由于其固有的原子厚度使得光-物质相互作用被严重破坏, 从而导致极低的光发射和吸收[28], 这将阻碍MoS2应用于实际光电子器件领域. 例如, 在可见光光谱范围内, 厚度为6—7 ?的单层MoS2的平均光吸收约为10%[29]. 因此, 提高光-物质相互作用和光吸收的研究将在基于MoS2的光电器件领域有着极大的发展潜力.
迄今为止, 人们在提高单层MoS2对光的吸收方面已经有了大量的研究, 通过几种物理方法可以增强单层MoS2和入射光之间的相互作用. 一种由于激发了高约束的塔姆等离激元模式的多层光子结构被Lu等[30]提出, 单层MoS2在可见光光谱范围内的绝对吸收率可达96%. Cao等[31]设计了一种新式银光栅与分布式布拉格反射器相结合的结构, 通过银光栅的等离子共振效应作用, 可以在420至700 nm的波长范围内得到59%的平均吸收. 单层MoS2在啁啾平面电腔中, 平均可见光吸收达到33%[32]. 导向共振光子晶体与MoS2相互作用, 在可见光光谱范围内吸收率为51%[33]. 在高效光催化、光致发光和光电探测等应用方面, 具有动态波长选择特性与超高效率光吸收的多波段吸收峰的MoS2吸收结构是不可或缺的, 但相关结构却鲜有报道.
本文利用临界耦合与导向共振提出了一种基于单层MoS2的完美吸收器. 与现有的研究对比, 我们提出的方案可以更有效地增强单层MoS2的光-物质相互作用, 实现了单层MoS2的多波段可调谐超高效率的光吸收. 同时, 时域有限差分法(finite difference time domain, FDTD)模拟表明, 模拟结果与理论计算符合良好. 此外, 单层MoS2的工作波长和吸收效率的变化与结构的周期、介质层厚度参数的大小密切相关. 因此, 本文研究方法将能在增强原子级2D材料中的光-物质相互作用方面起到更明显的效果, 同时也分析了吸收器的品质因子和普适性. 因此, 该共振结构为在可见光光谱范围内的基于TMDC可调谐多波段MoS2完美吸收器的设计提供了不一样的研究途径, 其可用于设计制造光电探测器、化学传感器、光开关和调制器等众多光电器件.

Figure1. (a) 3D schematic diagram of monolayer MoS2 absorption enhancement system; (b) the corresponding top view. The specific geometric parameters are shown in the figure.
周期性长方体空气槽中的介质被设定为空气, 其折射率为1. 空气槽的深度与PMMA层的厚度一致表示为D4, MoS2层的厚度表示为D3, SiO2层和Ag反射层厚度分别表示为D2和D1. 空气吸收器的长方体空气槽被引入到每个单元中, 如图1(b)所示, 晶格的周期在x和y方向上表示为Px和Py. 空气吸收器的空气槽由四个长方体空气槽嵌入等厚的PMMA层形成. 在x和y方向每个空气槽距离边缘的宽度均为W2, 两个空气槽之间的短间距为W1. 同时, x方向上两个长方体之间长间距为A, y方向上两个空气槽之间长间距为B. 本文将吸收器在临界耦合状态时的结构参数当作整个性能分析部分的最优数据. 因此最优数据如下: 空气槽与PMMA层的厚度D4 = 380 nm, SiO2层的厚度D2 = 175 nm, Ag层的厚度D1 = 220 nm, 周期Px = 1010 nm, Py = 890 nm, 短间距W1 = 89 nm, 宽度W2 = 170 nm, 长间距为A = 832 nm, B = 712 nm. 在数值计算中, 我们的模拟采用了Li等[34]实验测量得到的厚度为D3 = 0.615 nm的单层MoS2的波长相关复介电常数, MoS2层的光吸收利用公式



Figure2. (a) Absorption spectrum of MoS2 monolayer (blue line) in the perfect absorber at D1 = 220 nm, D2 = 175 nm, D3 = 0.615 nm, D4 = 380 nm, Px = 1010 nm, Py = 890 nm, W1 = 89 nm, W2 = 170 nm, A = 832 nm, B = 712 nm. For comparison, the light absorption spectra of the entire absorber without MoS2 (red line) and bare MoS2 monolayer (black line) are shown (Mode A corresponds to absorption peak 1, Mode B corresponds to absorption peak 2, Mode C corresponds to absorption peak 3, Mode D corresponds to absorption peak 4); (b) the real part (blue line Re(Z)) and imaginary part (green line Im(Z)) of the effective impedance showing the ideal absorption peak.
除此之外, 在宏观电磁学的层面, 当满足临界耦合条件时, 结构的阻抗将会与自由空间的阻抗(Z0 = 1)相等. 使用下列公式来研究完美吸收器的有效阻抗:
图3(a)和图3(b)分别为正常TM偏振光下含和不含银层结构的吸收、反射和透射光谱的数值计算. 从图3(a)可知, 所设计的结构在可见光光谱范围内的四个共振波长下(λ1 = 510.0 nm, λ2 = 518.8 nm, λ3 = 565.9 nm, λ4 = 600.3 nm)获得了完美吸收, 吸收率分别为99.03%, 98.10%, 97.30%和95.41%, 同时平均吸收率高达97.46%. 这四个完美吸收峰分别被定义为Mode A, B, C和D. 其共振吸收峰的半峰全宽(full width at half maximum, FWHM)分别为1.939, 1.515, 7.625和2.093 nm, 品质因子(



Figure3. Numerical calculation of the absorption, reflection and transmission spectra of the structure with (a) and without (b) silver layer under normal TM polarized light, where A represents absorption, R represents reflection, and T represents transmission.
由于FWHM较窄, 这也令此吸收器在传感器检测领域拥有更大的优势. 如果吸收器不包含Ag反射层, 如图3(b)所示, 由于穿过该吸收器的电磁波显著增大, 导致结构的透射率将不再如图3(a)所示为零. 此研究结果也正面验证了超材料吸收器的理论, 在超材料吸收器中, 金属层会阻止电磁波通过吸收器, 从而导致零传输.
当入射光垂直入射到吸收器时, 周期性超单元的图案化PMMA可以支持面内引导模式, 该模式通常被图案化PMMA强烈限制而不与外部辐射耦合. 我们模拟仿真了上述最优参数下改变空气槽形状时的吸收光谱, 如图4所示. 从图4可以明显地看出, 三种情况下, 长方体空气槽((图4(a))对应的吸收器表现出最优的吸收特性. 而在相同结构参数下, 交叉椭圆盘空气槽(图4(b))和三棱柱空气槽(图4(c))对应的吸收器所产生的吸收光谱却杂乱无章, 并且吸收峰的吸收率也没有达到完美吸收. 这说明长方体周期单层MoS2基完美吸收器在光吸收性能方面具有较大的研究价值和实际应用价值.

Figure4. Absorption spectra when the air groove is (a) cuboid, (b) cross-elliptic disk, (c) triangular prism. D1 = 220 nm, D2 = 175 nm, D3 = 0.615 nm, D4 = 380 nm, Px = 1010 nm, Py = 890 nm, A = 832 nm, B = 712 nm,
除此之外, 绘制了518.8 nm (共振波长)和542.0 nm (非共振波长)条件下x -y, y -z和x -z三个截面的电场(|E|)分布. 通过图5(a)—(f)来对比和讨论同一谐振模式的临界耦合和非临界耦合的横向电场图. 在临界耦合状态下, 当腔被触发(共振模式)时[43], 出现图2(a)中蓝色曲线的吸收峰Mode B (518.8 nm), 如图5(a)—(c)所示, 在此共振波长处, 单层MoS2周围的电场强度分布显著增强, 而吸收器没有受到刺激. 与之不同的是, 当在非临界耦合状态时, 即542.0 nm的非共振波长下, MoS2层周围的电场强度分布很弱, 此时无损系统的反射系数为1, 如图5(d)—(f)的电场分布图所示, 系统在该波长下发展到过耦合条件. 对比共振波长与非共振波长的x -y截面电场, 其位于结构的上方, 在共振波长518.8 nm处, 大部分电场分布在空气槽的单层MoS2周围, 而空气槽位置的电磁场由于共振几乎被MoS2完全吸收. 但在非共振波长(542.0 nm)处的x -y截面电场强度由于x方向谐振腔内的入射光场未被完全消耗掉, 所以结构在共振模式时的吸收强度明显比非共振模式大. 而y -z电场分布处于共振时, 电场主要分布在y方向的两端形成驻波模式, 而非共振情况下的电场图显示出整体强度不高. 最后x -z方向上的共振和非共振模式也有着一样的特点.

Figure5. Simulated electric field (|E|) distributions of (a)?(c) resonance mode B (resonant wavelength of 518.8 nm) in x -y, y -z and x -z based on the MoS2 absorber; (d)?(f) simulated electric field (|E|) distributions of non-resonant mode (non-resonant wavelength 542.0 nm) in x -y, y -z and x -z under normal incidence.
图6给出了四个共振波长在x -y, y -z和x -z三个截面的不同剖视图, 以此阐述临界耦合所带来的光吸收增强的物理机制. 图6(a)—(d)、图6(e)—(h)与图6(i)—(l)分别代表四个共振波长达到临界耦合状态时在x -y, y -z和x -z三个截面的电场剖视图. 四个共振模式在结构中有着不同的位置, 其所对应的共振峰对应不同阶数的GMR (guided mode resonance): 510.0 nm的零阶GMR (即GMR0模), 518.8 nm的一阶GMR (即GMR1模), 565.9 nm的二阶GMR (即GMR2模), 以及600.3 nm的三阶GMR (即GMR3模). 共振吸收效应因为MoS2周围的传导模式捕获入射光产生. MoS2层周围的局部电磁场能量被MoS2吸收, 进而能有效地提升器件的吸收强度. 在这里, 以GMR0模为例, 可以看见周期模式沿y方向形成典型的驻波剖面, 这说明系统中存在GMR. 所以当入射波和泄漏的侧向波导模式之间的相位匹配得到满足时, 可以成功激发GMR[44-46].

Figure6. (a)?(d) Electric field diagrams of the x -y cross section; (e)?(h) the electric field diagrams of the y -z cross section; (i)?(l) the electric field diagrams of the x -z cross section. Mode A corresponds to absorption peak 1, Mode B corresponds to absorption peak 2, Mode C corresponds to absorption peak 3, Mode D corresponds to absorption peak 4. λ1 = 510.0 nm, λ2 = 518.8 nm, λ3 = 565.9 nm, λ4 = 600.3 nm.
在通过上述的讨论后, 可以发现实现临界耦合的关键点是令外部泄漏率等于固有损失率. 同时, 也可以发现在可见光光谱范围内, 结构的固有损耗主要来自MoS2, 其吸收几乎与作用波长无关, 固有损失率基本没有变化. 结构的几何参数可以调节外部泄漏率的大小, 且结构的泄漏率对耦合谐振峰值波长有所贡献. 因此, 为了更好地理解该器件临界耦合机制, 接下来首先讨论关于SiO2厚度D2与该结构的外漏率γe之间的关系, 以及改变两个长方体空气槽之间的短间距W1对MoS2吸收强度的影响, 结果如图7(a)和图7(b)所示. 如图7(a)所示, 当D2从155 nm增至195 nm (间隔为10 nm), 四个共振吸收峰产生了红移, Mode A—C的吸收强度均是先增大后减小, Mode D吸收强度随着D2的厚度增大而增大. 如图7(b)所示, 当长方体空气槽之间的短间距W1的宽度从170 nm增长到210 nm (间隔为10 nm)时, Mode A—D的吸收峰值位置呈现出红移的变化, 且吸收强度均下降. 这个过程中, 谐振器的外漏率γe不断增大, 光吸收的变化趋势与耦合状态对应, 展示了该系统结构经历未耦合、临界耦合和过耦合的三种状态, 同时, 可以发现在D2 = 175 nm和W1 = 170 nm处出现了具有临界耦合的四波段完美吸收. 这些现象都说明这个结构具有良好的吸收峰可调谐性.

Figure7. (a) Corresponding light absorption of the structure when D2 increases from 155 to 195 nm; (b) the corresponding light absorption of the structure when W1 increases from 170 to 210 nm.
此部分, 将探讨吸收器在不同PMMA厚度D4以及W2下的吸收特性和外漏率γe之间的关系. 在图8(a)中, 当D4从330 nm增加到430 nm (间隔25 nm)时, Mode A—D的吸收率同时先增大后减小, 且在D4 = 380 nm时同时达到完美吸收的效果. 在图8(b)中, 四个模式共振峰随着D4的增大发生明显的红移, 且成正比变化. 同时在图8(c)可以发现当W2从79 nm增大到129 nm时, Mode A, B和C的吸收光谱同时在W2 = 89 nm时达到临界耦合, 而在图8(d)中其波长与W2的关系图与图8(b)变化趋势一样(如补充材料图S1 (

Figure8. (a) Relationship diagram between D4 and the absorption rate; (b) the relationship diagram between D4 and the corresponding resonance wavelength range; (c) the relationship diagram between W2 and the absorption rate; (d) the relationship diagram between W2 and the corresponding resonance wavelength range. Mode A corresponds to absorption peak 1, Mode B corresponds to absorption peak 2, Mode C corresponds to absorption peak 3, Mode D corresponds to absorption peak 4.
众所周知, 周期的改变对于超材料表面共振模式的频率有着极大的影响[47-49]. 接下来将探究吸收器在不同周期P下的吸收特性和外漏率γe之间的关系, 如补充材料图S2和图S3 (
当确定了吸收器的其他几何结构参数后并且达到临界耦合状态时, 讨论了周期与吸收峰波长和品质因子的函数关系, 如图9(a)—(d)所示. 当Px增加时, 结构的品质因子有着四种不一样的变化趋势: Mode A的品质因子先减小后增加; Mode B的品质因子随着周期Px增大而增大; 而Mode C的品质因子变化与其共振波长相类似, 均变化不明显; 最后, Mode D的品质因子与其对应的波长变化成反比, 品质因子随着周期Px增大而增大. 除此之外, 当Py增加时, 结构的品质因子也有着四种完全不同的变化: Mode A的品质因子先减小后增加; Mode B的品质因子与Mode A完全相反, 先增加后减小; 而Mode C的品质因子先减小后增加; Mode D的品质因子与Mode B的品质因子变化趋势相似, 都为先增加后减小. 综上所述, 在周期为Px = 1050 nm处最大的品质因子为1294.1, 对应的FWHM与共振波长分别为0.4 nm和531.9 nm.

Figure9. (a)?(d) Relationship among the period, the absorption peak wavelength, and Q-factor (quality factor) when other parameters are kept constant (Mode A corresponds to absorption peak 1, Mode B corresponds to absorption peak 2, Mode C corresponds to absorption peak 3, Mode D corresponds to absorption peak 4).
表1列出了本文吸收器与其他类似结构[30,50-54]的性能参数的对比, 其中Px =1050 nm, 发现我们提出的吸收器具有相对较高的品质因子.
参考文献 | 波长/nm | 半峰全宽/nm | 品质因子 |
[30] | 662 | 11.5 | 57.57 |
[50] | 1500 | 20 | 75 |
[51] | 679.2 | 8.72 | 77.89 |
[52] | 663 | 11.35 | 58.32 |
[53] | 661 | 9 | 73 |
[54] | 408 | 7.34 | 55.59 |
本文 | 531.9 | 0.4 | 1294.1 |
表1所提出的吸收器与其他类似吸收器的比较
Table1.Comparisons of the proposed absorber with other similar absorbers.
吸收器的传感性能会影响其应用领域, 因此我们分析了所设计结构的传感性能, 如图10所示. 这里, n是吸收器周围介质的折射率, 调节n的大小, 从1.00增大到1.08. 从图10(a)可以看出, 四个共振吸收峰的变化清晰可见, 随着n的增加, 四个共振波长发生红移, 吸收光谱强度呈线性减小. 与此同时, 灵敏度(sensitivity, S)和品质因数(the figure of merit, FOM)都是量化传感器性能的重要依据[55-57], 将灵敏度定义为单位折射率共振波长的位移, 表示为

Figure10. (a) Absorption spectra of the four resonance peaks move with the change in the refractive index of the surrounding medium; (b)?(e) when the refractive index of the surrounding sensing medium changes (the refractive index is from 1.0 to 1.08, the interval is 0.02), the relationships of FOM value of the four peaks and FWHM to wavelength (Mode A corresponds to absorption peak 1, Mode B corresponds to absorption peak 2, Mode C corresponds to absorption peak 3, Mode D corresponds to absorption peak 4).
除此之外, 窄模式半峰全宽与宽模式相比, 相应的吸收器的品质因数会更优, 检测小频移更方便, 模式的定位也更加准确. 在这里, 也列出了一些类似传感器的FOM值, 见表2[59-64].
参考文献 | [59] | [60] | [61] | [62] | [63] | [64] | 本文 |
FWHM/nm | 50 | 8 | 3.94 | 97 | 50 | 100 | 0.3 |
FOM (max) | 2.8 | 25 | 254 | 4.68 | 7.1 | 3.1 | 436 |
表2其他类似吸收器的FOM值的比较结果
Table2.Comparisons of FOM values of other similar absorbers.
上述结果表明, 折射率传感器与折射率紧密相关. 因此, 本吸收器可以用来监测或感测被测试剂的折射率变化. 同时这些高FOM传感器在生物传感器领域有着更大的发展可能性.