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--> --> --> -->5.1.弛豫铁电单晶的学术价值
1)从实验角度验证了铁电材料的本征压电效应在MPB附近有显著提升在弛豫铁电单晶出现之前, PZT陶瓷的研究工作虽然已开展了数十年, 但是人们始终无法找到合适的实验方法将本征压电效应与非本征压电效应(主要指畴壁运动)区分开. 在这种情况下, 大多数文献将PZT陶瓷在MPB附近性能的提升以及软性掺杂后压电效应的提高习惯性地归结于畴壁运动的贡献. 但这种认识的前提是: 本征压电效应的变化很小, 可以忽略. 然而实际情况是这样么? 单晶材料显然是回答这一问题的“一把利器”. 利用合适的极化条件, 沿弛豫铁电单晶的自发极化方向极化晶体, 可以获得单畴单晶, 这样便可以完全将畴壁运动的贡献排除掉. 根据电场方向与自发极化方向的关系, 单畴铁电单晶的压电效应可以简单地分为两类. 1)纵向压电效应(电场方向与自发极化方向平行), 对应于自发极化在外场作用下的“伸缩”, 即强度变化; 2)剪切压电效应(外加电场方向与自发极化方向垂直), 对应于自发极化在外场下的“旋转”, 即方向变化, 如图5所示. 从热力学角度可以很容易得到, 铁电晶体靠近顺电相时, 纵向压电效应提高; 靠近铁电-铁电相变点时(如三方-四方、三方-正交), 相应的剪切压电效应会提高. 利用弛豫铁电单晶, 可完美地实验证明了这一点. 如图6所示, 随着组分靠近准同型相界, 单畴弛豫铁电单晶的剪切压电效应大幅提高, 且远高于单畴纵向压电效应[15]. 因此, 这里需要特别指出的是, 弛豫铁电单晶高压电效应的根源是单畴剪切压电效应. 多畴结构晶体中的高纵向压电系数均可以通过对单畴晶体性能进行坐标变换来解释. 例如: 工程上最常用到的[001]极化的三方相弛豫铁电单晶(多畴状态)压电系数d33, d31等[14,15].
图 5 剪切与纵向压电效应示意图(对于任意的铁电畴, 所受外加电场总可以按照电场与自发极化方向关系分为两类: 1)电场方向与自发极化相同的分量, E3; 2)电场方向与自发极化垂直的分量, E1. 图中红色箭头代表自发极化方向, 绿色箭头代表加电场后的自发极化方向)
Figure5. Schematic of shear and longitudinal piezoelectric responses. For a ferroelectric single-domain, the applied electric field can be divided into two categories: 1) The electric field (E3) parallel to the direction of the spontaneous polarization; 2) the electric field (E1) perpendicular to the direction of the spontaneous polarization. The red arrows represent the direction for the spontaneous polarization, and the green arrows represent the direction for the spontaneous polarization after applying an electric field.
图 6 单畴PMN-PT弛豫铁电单晶剪切、纵向压电效应与准同型相界的关系[15]
Figure6. Shear and longitudinal piezoelectric properties versus MPB for single-domain PMN-PT crystals[15].
如上所述, 弛豫铁电单晶的出现告诉我们: PT基铁电体的本征压电效应本身就可以很高(~2000 pC/N), 远高于不少****基于PZT陶瓷研究的推断, 即本征压电效应在200 pC/N量级.
2)局域结构与压电效应存在重要联系
紧接着带来的第二问题是: 高剪切压电效应是否与“弛豫铁电体”有所联系? 换句话说弛豫铁电体的结构特点, 即“局域结构在纳米尺度上的分布不均”, 是否能使其极化矢量更容易在垂直电场作用下发生旋转? 这是一个非常难以回答的问题, 也因此吸引了大量的研究人员. 然而, 到目前为止仍然存在争议. 说这个问题困难, 主要是缺乏一个“公平”的对比实验, 即: 保证所有其他条件都不变(比如: 居里温度、三方-四方相变温度), 只对晶体局域结构进行微调, 观察压电效应的变化. 对于PMN-PT单晶来说, PZT单晶是一个比较好的参照物. 因为, 同是PT基钙钛矿晶体, 相比于PMN-PT, PZT单晶在纳米尺度上的局域结构更为均匀(有中子散射实验为证, 图7[16]). 但是, 非常可惜, 组分在准同型相界附近的PZT单晶十分难于生长, 在很长一段时间内都缺乏满足测试条件的PZT单晶. 直到2010年前后, 龙西法教授与叶作光教授才成功生长出了勉强满足测试条件的PZT单晶, 压电系数约为1000 pC/N, 大约是PMN-PT单晶的一半[16]. 此结果在一定程度上说明了PMN-PT单晶中的局域结构不均匀很可能对压电效应有显著贡献. 但是, 这样的推断仍然不够严谨. 相比于PMN-PT而言, PZT居里温度更高, 同时在三方-四方相变温度上也有所不同, 这些都可能是造成压电效应差异的因素. 缺少关键实验证据, 那么不依赖于实验的理论计算, 如密度泛函理论计算等, 是否可以解决这个问题呢? 答案是消极的. 原因在于, 构建一个足够大的超晶胞, 涵盖PMN-PT单晶中B位离子的准确分布, 是一项在目前十分棘手的工作.
图 7 PMN与PZT单晶的中子弹性弥散散射实验结果(图中纵轴为弥散散射强度, 其强度越大, 则表示局域结构无序性越强; 插图给出了在(001)散射面附近测得的弹性散射强度等值线的形状)[16]
Figure7. Neutron elastic diffuse scattering results for PMN and PZT single crystals. The y-axis represents the diffuse scattering intensity. The higher the intensity indicates the higher degree of the local structural heterogeneity. The inset figures give the contour maps of elastic scattering intensity measured near the (001) plane[16].
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5.2.弛豫铁电单晶高压电效应起源的介观物理机制
2006—2016年, 笔者课题组一直从事弛豫铁电单晶压电效应起源方面的研究工作. 2010年, 我们发现了一个十分重要的实验现象: 单畴弛豫铁电单晶中与极化旋转对应的介电常数(ε11/ε22)在低温段出现了异常的变化, 如图8所示[17,18]. 说它异常, 主要是因为这个现象无法用传统的热力学理论进行解释, 在出现异常的温度段并没有任何铁电相变发生. 在实验层面, 这项工作主要有以下两点贡献: 1)利用高质量单畴晶体做测试, 确定畴壁运动与介电、压电效应的低温异常衰减没有关系; 2)首次在单畴PMN-PT晶体中发现了介电弛豫现象. 这两个实验的发现使我们必须承认单畴PMN-PT单晶与理想的铁电单畴有所不同. 如图8(d)所示, 低温段, 介电、压电效应经历了一个类似于“热激活”的过程, 这是弛豫铁电单晶在室温条件下具有高压电效应的关键因素.图 8 单畴弛豫铁电单晶低温介电、压电性能[17,18] (a)单畴三方相PMN-0.28PT单晶横向介电常数(ε11); (b)单畴四方相PZN-0.15PT单晶横向介电常数(ε11); (c)两种晶体的低温剪切压电系数; (d)相比于传统铁电单晶, 弛豫铁电单晶室温高性能起因的示意图
Figure8. Low-temperature dielectric and piezoelectric properties of single-domain relaxor ferroelectric single crystals[17,18]: (a) Transverse dielectric (ε11) permittivity for rhombohedral PMN-0.28PT crystal; (b) transverse dielectric (ε11) permittivity for tetragonal PZN-0.15PT crystals; (c) shear piezoelectric properties for relaxor-PT crystals; (d) the origin of the ultrahigh dielectric/piezoelectric properties in relaxor-PT ferroelectric crystals when compared to the conventional ferroelectric crystals.
那么如何来解释这个实验现象呢? 单畴PMN-PT与传统意义上的单畴铁电体的主要区别在哪呢? 通过对单晶结构表征工作的调研, 我们梳理出弛豫铁电单晶在结构方面的两个重要特点: 1)弛豫铁电单晶的长程铁电畴中, 存在着一些纳米尺度的区域, 这些区域的局域结构以及极化方向与长程铁电畴有所不同; 2)在远低于居里温度的条件下, 随着温度的升高, 局域结构与长程铁电畴的区别逐渐减小, 在衍射实验中, 表现为弥散散射强度(diffuse scattering intensity)随温度升高而下降, 如图9所示[19]. 根据弛豫铁电单晶结构特点, 在相场模拟中, 我们在一个长程铁电畴中引入了与其组分相异的极性纳米微区(如图10(a)所示), 这些区域的尺寸为3—6 nm (通过激活能推算)[17]. 简便起见, 我们以四方相PZN-0.15PT为模拟对象. 根据实验结果, 假设铁电畴的化学组分对应的相结构为四方相, 极性纳米微区组分对应的为正交相. 当这些极性纳米微区被引入长程铁电畴后, 它们的极化方向受到两个因素影响: 一是由它们本身化学组成而决定的自由能(在相场模拟中, 用Landau-Devonshire函数表示, 简称Landau能), 它使极性纳米微区处于正交相(相的稳定性由势垒深度决定, 如图10(b)所示[17]), 极化方向沿立方体的面对角线方向; 二是因长程铁电畴与极性纳米微区界面处极化不连续而产生的静电能和梯度能(简称为“界面能”), 这些能量驱使着极化矢量向长程铁电畴极化方向转动, 从而降低界面处极化的不连续. 一般来说, 极性纳米微区尺寸越大, 则其比表面积越小, 界面能的影响越小; 温度越高, 稳态相的势垒深度下降, 导致界面能的作用增强. 当界面能与Landau能呈现出“势均力敌”的状况时, 极性纳米微区的极化矢量处于“横向失稳”的状态, 即: 自由能曲线被“扁平化”(在稳态时, 自由能曲线曲率减小), 如图10(b)所示. “横向失稳”是指极化矢量容易发生转动, 与其对应的是“纵向失稳”, 指极化矢量容易出现“伸缩”, 即: 强度发生变化. 极化矢量的“纵向失稳”通常发生在铁电-顺电相变点.
图 9 (a) PZN-0.15PT单晶与(b) PZN单晶的X射线弥散散射实验结果[19]
Figure9. X-ray diffuse scattering results of (a) PZN-0.15PT and (b) PZN crystals[19].
图 10 (a)四方相长程铁电畴中嵌入正交相极性微区的结构示意图; (b)正交相极性微区自由能随界面能作用增强的变化(热力学计算结果), 其中横轴表示极化矢量与[001]方向的夹角[17]
Figure10. (a) Phase-field simulated microstructural variation of a tetragonal ferroelectric with embedded orthorhombic polar nanoregions (PNRs); (b) the change of free energy profiles of the PNRs with increasing the impact of interfacial energy. The x-axis represents the angle between the polar vector and the [001] direction[17].
图11为PZN–0.15 PT单晶的模拟结果. 温度较低时(< 50 K), 极性纳米微区Landau能的势垒深度较深, 极化状态稳定, 对宏观性能影响不大[17]. 随着温度的升高, Landau能势垒变浅, 界面能的作用开始增大, 极性纳米微区的极化方向逐渐开始变得与长程铁电畴方向一致(图11(a)). 在这种情况下, 由于自由能曲线的“扁平化”, 极性纳米微区极化矢量非常容易受外场扰动的影响, 从而对介电、压电效应产生显著贡献(图11(b)). 图12给出了单畴PZN-0.15PT晶体在外加电场条件下极化矢量的变化情况[17]. 可以明显地看出, 在没有外加电场时, 极性纳米微区的极化方向与长程铁电畴方向基本一致, 但是, 当电场作用时, 由于极性纳米微区的极化矢量处于“横向失稳”状态, 这些区域极化矢量的旋转角度要远大于其他区域, 从而对介电、压电效应产生贡献.
图 11 单畴PZN-0.15PT的相场模拟结果 (a)极化矢量方向随温度的变化, 图中颜色代表极化矢量与水平方向的夹角; (b)横向介电常数与温度关系的模拟结果[17]
Figure11. Phase-field simulation results of single-domain PZN-0.15PT crystal: (a) Temperature-dependent microstructural variations (the color bar denotes the angle between the polar vector and the horizontal direction); (b) the transverse dielectric permittivity versus temperature[17].
图 12 温度为350 K时, 单畴PZN-0.15PT晶体在横向电场作用下介观结构变化(a)和相应的极化强度-电场(P-E)曲线(b), 图(a)中, 颜色代表极化矢量与水平方向的夹角(为了与经典铁电畴性能进行对比, 图(a)和(b)中给出了没有极性微区的长程铁电的模拟结果)[17]
Figure12. Microstructural variation under a transverse electric field for the single-domain PZN-0.15PT crystal at 350 K and the corresponding P-E curve. In panel (a), the color represents the angle between polar vectors and the horizontal direction. Panels (a) and (b) also gave the simulated results for a classical ferroelectric single-domain (tetragonal matrix)[17].
简单总结单畴弛豫铁电单晶相场模拟的要点: 1)在结构和性能两个方面, 模拟结果与实验结果均一致; 2)纳米尺度上的局域结构无序所造成的极化“横向失稳”, 是弛豫铁电单晶具有高性能的重要因素; 3)局域结构无序在介电温谱上有一个明显的特征: 低温介电损耗增强, 源于电场作用下纳米微区极化矢量在不同(亚)稳态之间跳转所致的能量损耗.
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5.3.Sm掺杂PMN-PT
至此, 我们给出了一个可解释弛豫铁电单晶高压电效应起源的介观机理. 然而, 机理研究的最终目标是提升材料压电性能. 因此, 我们以PMN-PT体系为例, 尝试对其局域结构进行“改进”. 对于陶瓷和单晶材料而言, 掺杂是相对简单且可能改变局域结构的方法. 然而, 面对元素周期表中众多元素, 到底应该如何来选择呢? 对于每一种掺杂陶瓷而言, 化学组分筛选(确定准同型相界), 合成、烧结工艺优化(避免杂相出现并保证结晶性), 是获得高性能的必要工作. 因此, 对掺杂元素采取地毯式的搜索显然不是明智之举, 不但耗时巨大, 而且疲劳作战可能导致关键实验数据上的遗漏. 经过文献调研, 我们发现在20世纪90年代已有工作表明: La系稀土元素掺入PMN中, 可使B位Nb:Mg有序排列区域的体积明显增大, 起到对局域结构的调控作用[20]. 因此, 本课题组[21]首先对镧系稀土掺杂的PMN-0.28PT进行了研究, 发现在所有La系稀土元素中, Sm对局域结构的影响最大, 表现在低温介电温谱上, 它的低温介电损耗峰最强(图13). 接下来, 课题组对Sm-PMN-PT陶瓷和单晶的制备工艺和组分进行了优化, 获得了压电系数分别为1500 pC/N和4000 pC/N的陶瓷和单晶材料[21,22], 远高于未掺杂PMN-PT. 同时, 通过原位透射电子显微镜实验确认了Sm掺杂对PMN-PT局域结构不均匀性有增强作用. 近期, 课题组又详细对比了不同稀土元素掺杂PMN-PT陶瓷的结构与性能, 发现: 所有镧系稀土离子中, 可以完全进入PMN-PT固溶体A位、并取代Pb离子的最小离子, 就是Sm3+[23]. 这很可能是Sm掺杂对PMN-PT局域结构造成显著影响的重要因素.图 13 掺杂PMN-0.28PT陶瓷低温介电常数(a)和介电损耗(b)[21]
Figure13. Low-temperature dielectric permittivities (a) and dielectric losses (b) for PMN-0.28PT ceramics[21].
这里需要指出的是, Sm掺杂还存在另一个效果: 降低了PMN-PT的居里温度. 显然, 居里温度降低也可能是造成Sm掺杂PMN-PT性能提高的一个因素. 然而, 我们通过以下两个比较, 说明在本例中居里温度下降并不是Sm-PMN-PT压电性提高的关键因素. 1) Sm-PMN-PT与PMN-36PT的介电温谱对比. 如图14所示[21], 只有当材料温度非常靠近居里温度时, 其介电性能才会有明显提高. 换句话说, 如果有一种方法可以只改变铁电材料的居里温度, 而不改变其他任何因素, 那么只有当居里温度降到离室温只有10—20 ℃附近时, 介电常数才会明显升高. 将PMN-36PT的居里温度向下平移70 ℃与Sm-PMN-PT相同后, 虽然PMN-36PT的室温介电常数有所提高, 但是仍远低于Sm-PMN-PT. 2) Sm-PMN-PT与Sr-PMN-PT的比较. 与Sm掺杂类似, Sr掺入PMN-PT也有降低居里温度的效果, 但是其室温介电常数远小于Sm-PMN-PT. 原因在于Sr掺入没有使PMN-PT局域结构无序性无明显增强, 这一点可由低温介电损耗无明显增大来佐证(图15)[21].
图 14 Sm掺杂PMN-0.31PT陶瓷与PMN-36PT陶瓷介电性能的对比(图中横轴ΔT = T-TC, 插图的横轴为陶瓷实际温度)[21]
Figure14. Comparison of dielectric properties between Sm-doped PMN-0.31PT and PMN-36PT ceramics. The x-axis of the figure ΔT = T-TC, while the x-axis of the inset figure represents the actual temperature of the ceramics[21].
图 15 (a) Sr掺杂与(b) Sm掺杂PMN-0.31PT陶瓷介电性能性能对比(图(a)中给出了Sr掺杂PMN-0.31PT的室温介电和压电系数)[21]
Figure15. Comparison of dielectric properties between (a) Sr-doped and (b) Sm-doped PMN-0.31PT ceramics. The room temperature dielectric and piezoelectric properties of Sr-doped PMN-0.31PT are given in (a)[21].
简单总结一下Sm掺杂PMN-PT的研究工作. 在获得室温高压电效应的同时, 这个例子更重要的意义在于: 进一步说明了调控铁电材料局域结构无序性是提升压电性能的有效方法. 当然, 由于居里温度的下降, 本例并不是最理想的例子. 若要毫无瑕疵地说明这一问题, 仍需继续努力, 在不改变居里温度的条件下实现局域结构的有效调控, 提升铁电材料压电性能.
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5.4.“软性”掺杂机理的启发
PZT中的软性掺杂作为压电陶瓷领域最重要的发现之一, 虽然已有60多年, 但是其中奥义仍然没有被揭开, 对于新型压电陶瓷材料的发展无疑是一个严重地阻碍.虽然软性PZT种类繁多, 掺杂元素也不尽相同, 但是Nb, Mg, La是三种最经典的掺杂元素, 因而与PMN-PT以及稀土掺杂PMN-PT存在一定程度的相似度. 这就使我们得到如下推断: 除了与畴壁运动有关外, 软性PZT陶瓷高压电效应与铁电畴本身的“变软”有关, 而这是由于掺杂而引入的局域结构无序所致. 如图16所示, 软性PZT陶瓷也表现出了与Sm掺杂PMN-PT陶瓷和PMN-PT单晶类似的特征—介电损耗在低温出现明显的增强. 同时, 与硬性PZT陶瓷比较可见, 软性陶瓷的室温高性能同样是源于介电常数在室温下的一个类似于热激活的过程.
图 16 软性(P5H)和硬性PZT陶瓷(P4)陶瓷低温(a)介电常数与(b)介电损耗
Figure16. Low-temperature (a) dielectric permittivities and (b) dielectric losses for soft (P5H) and hard PZT (P4) ceramics.
那么怎样的掺杂才能使铁电畴“变软”呢? 我们又该如何寻找最佳掺杂元素呢? 在总结前辈经验的基础上, 我们认为有如下几点可供参考:
1)掺杂离子要与所取代离子在半径、价态、外层电子结构等方面有明显差距
原子价态、半径以及外层电子情况比较相似时, 局域结构没有呈现显著的不均匀现象. 例如: BZT-BCT单晶, A位Ba2+与Ca2+离子、B位Zr4+与Ti4+离子, 价态一样、半径相似、外层电子结构相似, 因此在介电温谱中没有表现出局域结构不均匀的特征(图17(a)). 再比如: Ta掺杂的KNN单晶, A位K+与Na+离子、B位Nb5+与Ta5+离子, 也在价态、离子半径和外层电子结构方面相似, 因此介电温谱并未出现异常(图17(b)).
图 17 两种铁电单晶的低温介电性能 (a) [001]极化的BZT-BCT单晶, 室温为三方相, 晶体为韩国H Y Lee教授提供; (b) [001]极化的Ta掺杂KNN单晶, 室温为正交相
Figure17. Low-temperature dielectric properties for (a) [001]-poled rhombohedral BZT-BCT crystal. The crystals were from Professor H Y Lee in Korea; (b) [001]-poled orthorhombic Ta-doped KNN crystal.
2)掺杂离子不宜导致氧空位出现
在钙钛矿铁电材料中, 氧空位通常可以在自发极化所产生的电场作用下发生迁移, 而迁移最终的结果通常是形成一个与自发极化方向相同的缺陷电场, 使电畴极化更加稳定, 也称“缺陷钉扎”作用, 会使陶瓷压电效应降低.
3)掺杂离子不可对偶极子的长程有序排列产生过大的破坏作用
为了获得高压电效应, 高自发极化强度是必须的. 因此, 我们并不希望掺杂元素过分地破坏偶极子的长程有序, 导致极化强度大幅降低.
最后我们需要指出的是, 畴壁密度/电畴尺寸与压电效应的关系也是铁电领域中非常重要且极具争议的科学问题. 比如: Wada等[24]在钛酸钡晶体中发现, 电畴尺寸减小可导致晶体压电效应升高; 然而, Qiu等[25]在三方相PMN-PT中发现, 晶体压电效应随电畴尺寸的增大而增大. 由于篇幅原因, 本文并未涉及这些问题, 有兴趣的读者可参考文献[24, 25].
今年, 恰逢铁电材料满一百周岁, 在这一百年中, 压电应用一直是支撑着铁电材料发展的核心驱动力. 本文由于篇幅所限, 仅介绍了钛酸铅基铁电材料的压电效应, 并没有介绍LiNbO3、铌酸钾钠、铋层状结构、钨青铜结构等铁电材料. 然而, 这些铁电材料在许多压电器件中(如滤波器、高温压电传感器等)也扮演着重要角色. 长期以来, 铁电材料虽然在存储、红外成像、固态制冷等应用领域遇到很大的挑战, 但是在压电应用中, 铁电材料一直是无法取代的. 可以说, 在这一百年间, 压电效应一直为铁电材料的发展保驾护航. 于此同时, 每当在压电效应接近瓶颈时, 铁电材料总会给我们带来新的惊喜, 比如: 从BaTiO3到PZT陶瓷, 再从PZT陶瓷发展到弛豫铁电单晶, 以及近期无铅压电材料[26-28]和分子铁电晶体[29,30]所取得的一系列突破等. 相信下一个惊喜离我们并不遥远.
本文是在南京大学刘俊明教授和清华大学沈洋教授的鼓励下完成的, 在此特别表示感谢. 感谢西安交通大学刘金凤博士对文字和图片的校对工作.