1.School of Electronic and Information Engineering, Beihang University, Beijing 100191, China 2.Beijing Advanced Innovation Certer for Big Data and Brain Computing, School of Microelectronics, Beihang University, Beijing 100191, China 3.Beijing National Laboratory for Condensed Matter Physics, Institute of Physics, Chinese Academy of Sciences, Beijing 100190, China 4.School of Physical Sciences, University of Chinese Academy of Sciences, Beijing 100049, China 5.Beihang-Goertek Joint Microelectronics Institute, Qingdao Research Institute, Beihang University, Qingdao 266000, China
Fund Project:Project supported by Beijing Natural Science Foundation (Grant No. 4194083), the National Natural Science Foundation of China (Grant Nos. 61905007, 61774013, 11827807, 61731001), and the National Key R&D Program of China (Grant No. 2019YFB2203102)
Received Date:10 April 2020
Accepted Date:06 May 2020
Available Online:12 May 2020
Published Online:20 October 2020
Abstract:We systematically investigate the influence of annealing effect on terahertz (THz) generation from CoFeB/heavy metal heterostructures driven by femtosecond laser pulses. The THz yield is achieved to increase triply in W/CoFeB through annealing effect, and doubly in Pt/CoFeB. The annealing effect originates from both the decrease of synthetic effect of THz absorption and the increase of hot electron mean free path induced by crystallization, with the latter being dominant, which is experimentally corroborated by THz transmission measurement of time-domain spectrum and four-probe resistivity t. Our observations not only deepen understand the spintronic THz radiation mechanism but also provide a novel platform for high speed spintronic opto-electronic devices. Keywords:terahertz emission/ ferromagnetic/heavy metal heterostructure/ annealing effect/ super-diffusion model
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--> --> --> 1.引 言太赫兹科学与技术的研究和应用离不开高效的太赫兹辐射源[1]. 在飞秒激光激发的太赫兹源中[2-5], 基于磁性材料的太赫兹发射器具有超宽带、低成本、易集成等优点[6-17], 近期受到广泛的关注, 已成为太赫兹领域研究热点. 但是, 这种新型太赫兹源的研究仍处于起步阶段, 辐射机理、偏振调控、器件制备、稳定性等仍需要进一步更加深入地研究. 这种新型太赫兹源的基本原理是飞秒激光脉冲与铁磁异质结发生相互作用, 将电子激发到费米能级以上的子带中[18], 由于自旋向上和自旋向下的电子具有不同的密度和迁移率, 因此产生了纵向自旋极化电流. 当该自旋极化流到达重金属层时, 由于逆自旋霍尔效应[7,8], 该电流被转换为面内横向电荷电流, 基于麦克斯韦辐射理论, 继而产生太赫兹波辐射. 在辐射过程中, 通过在异质结自旋发射器上使用非均匀磁场和级联发射等方式, 可以实现高质量的椭圆和圆偏振太赫兹产生[19,20], 并对产生的太赫兹波偏振实现调控. 不仅如此, 通过双抽运发射技术可以实现对飞秒自旋电流和太赫兹辐射的相干调控, 进而研究这个过程中的非线性自旋动力学过程[21]. 这些工作进一步表明自旋太赫兹发射具有很丰富的物理和很好的潜在应用价值. 同时, 材料类型(特别是重金属材料的自旋霍尔角)和几何结构对太赫兹波的发射性能有非常重要的影响[8]. 除此之外, 材料的制备条件也极有可能影响太赫兹波的辐射特性[11]. Sasaki等[11]证明了在钽/钴铁硼/氧化镁薄膜上, 退火效应可以提高太赫兹波的发射强度. 他们提出了两种可能的机理, 一种是硼原子扩散到钽层中, 引起自旋霍尔角的增大以及热电子速度弛豫长度的减小[22]; 另一种是氧化镁层的存在, 使钴铁硼层结晶, 从而导致热电子平均自由程增加[11]. 而这种退火效应对太赫兹波强度的增强作用是否也可以扩展到钨(铂)/钴铁硼异质结体系中, 从而进一步提升该材料体系的太赫兹辐射效率, 是本文关注的焦点, 但还没有被人们深入研究过. 本文通过对比研究退火和未退火的钨/钴铁硼、铂/钴铁硼样品产生太赫兹辐射的特性, 观察到退火样品产生的太赫兹波强度高于未退火样品, 对于钨/钴铁硼材料, 增强因子高达3倍. 通过太赫兹时域光谱系统以及四探针法实验, 对退火效应的物理机理进行深入研究, 证实钴铁硼层结晶所引起的热电子平均自由程的增加可能是退火后太赫兹波增强的主要原因. 2.实验装置与测量结果太赫兹波发射实验的装置如图1所示. 驱动激光器采用了商用钛: 蓝宝石激光振荡器, 产生中心波长为800 nm, 脉冲宽度为70 fs, 重复频率为80 MHz的超快脉冲. 90%的激光功率用于抽运铁磁异质结样品产生太赫兹波, 剩余能量用于电光采样探测太赫兹波[23]. 从图1可以看出, 产生太赫兹波的激光脉冲经过一个透镜(焦距为150 mm)聚焦到发射样品上. 产生激光照射到样品上的光斑直径约为0.5 mm. 产生的太赫兹波经过4个抛物面镜的准直与聚焦后, 与探测激光脉冲一起到达探测晶体碲化锌(厚度为1 mm, 晶向$ \langle 110\rangle $)上. 太赫兹电磁波通过线性电光效应诱导探测晶体折射率发生变化, 通过1/4波片、沃拉斯顿棱镜和一对平衡探头间接探测折射率的变化, 通过锁相放大技术获得太赫兹时域电场波形. 在这个实验中, 我们并未对太赫兹光谱仪抽真空或充入氮气以排除水蒸汽的影响. 所有的实验测量均在室温下进行. 图 1 实验装置示意图以及样品结构信息 (a) 太赫兹发射实验装置: BD, 平衡探测器; WP, 沃拉斯顿棱镜; $ \lambda /4 $, 1/4波片; SW, 硅片; M, 铝反射镜; P1—P4, 90°离轴抛物面镜; S, 样品; (b), (c) 对n–和n+的定义: 抽运激光入射到玻璃基底定义为n–, 入射异质结薄膜定义为n+. HM, 重金属, 包括钨和铂; FM, 铁磁性金属, 即钴铁硼 Figure1. Schematic diagram of experimental setup and sample structure information. (a) Experimental setup of the terahertz emission system. BD, balanced detector; WP, Wollaston prism; λ/4, quarter wave plate; SW, silicon wafer; M, aluminum mirror; P1–P4, 90° off-axis parabolic mirrors; S, sample; (b) and (c) definitions of n– and n+. When the laser pulses first incident onto the glass substrate, it is defined as n–, while the other case is defined as n+. HM, heavy metals including W and Pt; FM, ferromagnetic metal CoFeB.
我们在钴铁硼/重金属的双层样品上进行了太赫兹波发射实验, 双层样品包括钨(2.2)/钴铁硼(2.0), 钨(4.0)/钴铁硼(2.2)和铂(4.0)/钴铁硼(2.2), 括号中的数字表示相应材料层的厚度, 单位是nm. 样品的衬底材料是玻璃, 厚度是1 mm. 样品是在高真空AJA溅射系统中制备而成, 制作过程中基本压力为10–9 Torr (1 Torr = 1.33 × 102 Pa)[24]. 通过优化沉积条件来确保最佳质量和可重复性, 钨、钴铁硼和铂的生长速率分别为0.21, 0.06和0.77 ?/s. 在制备过程中, 通过均匀旋转样品以确保良好的均匀性. 为了进行对比研究, 将本实验中的所有样本分为两组, 分别为退火和未退火组. 退火温度为280 °C, 退火时间为1 h. 在退火过程中, 外部磁场设置为1 T. 在进行太赫兹波发射实验时, 施加的静磁场强度为50 mT. 图2(a), (e)是飞秒激光照射样品示意图和样品的双层结构图. 图2(b), (d)分别给出了飞秒激光脉冲入射到钨(2.2)/钴铁硼(2.0)纳米薄膜时, 退火和未退火样品辐射的太赫兹时域波形及其对应的频谱(n+)(光谱的吸收线来自水蒸气). 在添加均匀磁场的情况下, 产生的主要是线偏振太赫兹波, 偏振方向与外加磁场方向垂直. 本实验中外加磁场方向为水平方向, 因此, 产生的太赫兹波为线偏振, 且方向为竖直方向. 实验结果表明, 退火效应确实提高了太赫兹波发射强度. 当抽运激光脉冲入射在n+侧时, 退火和未退火样品辐射的太赫兹波信号峰峰值之比为P+退火/P = 2.9. 而当抽运激光脉冲入射在n–侧时, 也可以观察到这种增强行为. 在这种情况下, 如图2(c)所示, 退火样品的太赫兹波强度是未退火样品太赫兹波强度的3.2倍. 图 2 (a), (e) 钴铁硼(2.0)/钨(2.2)和钴铁硼(2.2)/铂(4.0)双层结构示意图; (b), (c) 退火和未退火的钴铁硼(2.0)/钨(2.2)样品辐射的时域太赫兹波形, 分别对应n+和n–情况; (f), (g) 退火和未退火的铂(4.0)/钴铁硼(2.2)样品辐射的时域太赫兹波形, 分别对应n+和n–情况; (d), (h) 退火和未退火钴铁硼(2.0)/钨(2.2)、钴铁硼(2.2)/铂(4.0)样品辐射太赫兹波的频谱 Figure2. (a), (e) Bilayer structure diagram of CoFeB(2.0)/W(2.2) and CoFeB(2.2)/Pt(4.0); (b), (c) terahertz temporal waveforms from the CoFeB(2.0)/W(2.2) samples with and without annealing, for the cases of n+ and n–, respectively; (f), (g) terahertz temporal waveforms from the Pt(4.0)/CoFeB(2.2) samples with and without annealing, for the cases of n+ and n–, respectively; (d), (h) terahertz spectra obtained from CoFeB(2.0)/W(2.2) and CoFeB(2.2)/Pt(4.0), respectively, with and without annealing.
此外, 我们还观察到了辐射的太赫兹波出现了极性反转行为, 这证明了逆自旋霍尔效应机理的方向性对称破坏性质. 同样, 无论抽运激光脉冲入射到样品的n+或n–侧, 在铂(4.0)/钴铁硼(2.2)纳米薄膜都探测到了退火效应引起的太赫兹波发射增强(见图2(f))和图2(g)). 对于n+和n–, 信号峰峰值之比分别为P+退火/P = 2.3和P–退火/P = 2.1. 其中, 钨和铂样品中n+和n–之间的细微差异可能是玻璃基底在光学频率范围和太赫兹波频率范围的吸收系数不同所致. 如果忽略掉这种小影响, 可以得出结论: 通过退火效应, 钨(2.2)/钴铁硼(2.0)和铂(4.0)/钴铁硼(2.2)纳米薄膜的太赫兹波发射强度分别提高了3倍和2倍, 这一结果比前人研究报道使用钽(5.0)/钴铁硼(1.0)/氧化镁(2.0)异质结的实验结果要高出很多[11]. 在钽(5.0)/钴铁硼(1.0)/氧化镁(2.0)异质结的太赫兹发射实验中, 采用了退火前后太赫兹信号的峰值进行对比, 而该实验仅获得1.5倍的提升. 从图2(d), (h)的发射频谱上可以看出, 对于钨(2.2)/钴铁硼(2.0)样品, 退火效应产生的太赫兹发射信号振幅的提升反应在了整个辐射频段上, 而且非常明显. 但是对于铂(4.0)/钴铁硼(2.2)样品, 由于未退火的双层样品产生的太赫兹辐射信号本身就偏弱(见图2(f), (g)), 将时域信号转换为频谱信号之后, 噪声的信号被放大, 在图2(h)上出现了一些振荡. 由于自旋太赫兹辐射的主要能量集中在0.5—1.2 THz之间, 对于高频辐射信号, 退火效应引起的提升变得不明显. 为了消除由样品厚度引起的干扰, 选择了相同厚度的钨(4.0)/钴铁硼(2.2)和铂(4.0)/钴铁硼(2.2)异质结用于后续实验. 图3(a)给出了退火后从这两个样品发射的时域太赫兹波形. 可以看出, 两个样品发射的太赫兹波相位相反, 这是由于钨和铂的自旋霍尔角分别为负和正导致[8]. 此外, 钨/钴铁硼的信号比铂/钴铁硼高1.9倍. 这种现象可能是因为钨的自旋霍尔角大于铂[24]. 如图3(b)所示, 当飞秒激光脉冲入射到n–侧时, 观察到钨(4.0)/钴铁硼(2.2)辐射的太赫兹波振幅是铂(4.0)/钴铁硼(2.2)的5倍. 同样, 在图3(d),(e)中, 未退火情况下, 观察到钨(4.0)/钴铁硼(2.2)辐射太赫兹波振幅比铂(4.0)/钴铁硼(2.2)更大的现象. 这些现象清楚地表明, 无论是否退火, 基于钨的太赫兹波发射器的发射强度始终大于基于铂的发射器. 通过这些实验, 我们可以排除样品厚度带来的干扰, 且证明了在铁磁异质结中钨比铂更适合作为重金属层, 从而带来更大的太赫兹波发射强度. Seifert等[8]已有报道称, 钨或铂/钴铁硼系统由于其固有的大自旋霍尔角而具有实现高发射效率的能力. 根据上述结果, 通过将退火效应扩展到这一高效的双层体系结构中, 实现了太赫兹波发射的三倍增强. 图 3 (a), (b) 当两个样品都经退火处理, 飞秒激光脉冲分别从正(n+)和负(n–)侧入射到钨(4.0)/钴铁硼(2.2)和铂(4.0)/钴铁硼(2.2)纳米薄膜上产生的太赫兹时域信号; (d), (e)未退火样品的结果; (c), (f)退火和未退火的钴铁硼(2.2)/钨(4.0)和钴铁硼(2.2)/铂(4.0)辐射太赫兹波的频谱 Figure3. (a), (b) terahertz temporal waveforms in the annealed W(4.0)/CoFeB(2.2) and Pt(4.0)/CoFeB(2.2) nanofilms from the positive (n+) and negative (n–) sides, respectively; (d), (e) results from both the samples without annealing; (c), (f) terahertz spectra radiated from annealed and unannealed CoFeB(2.2)/W(4.0) and CoFeB(2.2)/Pt(4.0), respectively.
3.讨 论以前的报道指出, 当提高退火温度时, 钴铁硼会经历从非晶态到纳米晶嵌入的非晶态的相变[25-27], 而退火不会对晶体结构以及钨[28]和铂[25]中相关的性质产生显著影响. 这种再结晶可能会提高钴铁硼层中太赫兹波的传输和自旋电流的生成, 从而增强退火样品中太赫兹波的发射. 为了深入了解退火效应对太赫兹波发射增强的影响, 我们随后在样品中可能的机理进行了全面的分析. 第一个是在退火和未退火的钨(4.0)/钴铁硼(2.2)和铂(4.0)/钴铁硼(2.2)样品上进行太赫兹波透射实验. 该实验在太赫兹时域光谱仪中进行. 这套太赫兹时域光谱仪与太赫兹发射系统共用飞秒激光振荡器, 但产生太赫兹的辐射源采用低温生长砷化镓光导天线, 探测太赫兹波采用1 mm厚的碲化锌晶体[29]. 在这个测量中, 太赫兹光路部分充入氮气以消除水蒸气的影响. 相比于未退火样品, 经过退火处理的两个样品的太赫兹波透射强度显现出轻微并且可重复的增强现象, 见图4(a),(b). 在钨(4.0)/钴铁硼(2.2)中, 传输的太赫兹信号的强度增加了1.36%, 而在铂(4.0)/钴铁硼(2.2)中, 该数值增加了3.75%. 以上结果表明, 退火效应确实可以增强太赫兹波的透射, 进而通过降低发射过程中材料对太赫兹波的吸收率来提高太赫兹波发射. 但是, 考虑到退火后样品发射的太赫兹波强度具有2倍和3倍增大, 以上因素有可能并不是主要原因. 图 4 (a), (b) 退火和未退火状态下, 钨(4.0)/钴铁硼(2.2)和铂(4.0)/钴铁硼(2.2)样品透射的太赫兹时域信号, 插图为峰值放大图; (c) 样品电阻率的退火温度依赖性, 插图为样品的磁光克尔测量结果; (d) 退火前后, 钴铁硼从非晶态结晶转为结晶态的原子结构示意图; (e) $z = {z_{\rm{s}}}$处, 电子密度的模拟结果, 其中电子速度v = 0.5 nm/fs Figure4. (a) Transmitted terahertz signals in W(4.0)/CoFeB(2.2) and (b) Pt(4.0)/CoFeB(2.2) with and without annealing. Inset: Enlarged peak values. (c) The annealing temperature dependence of the resistivity of samples. Inset: result of magneto-optic Kerr measurement of the samples. (d) Schematic diagram of the atomization of CoFeB crystallize from amorphous state to crystalline state before and after annealing. (e) The simulation results of electron density at $z = {z_{\rm{s}}}$. The electron velocity v = 0.5 nm/fs.