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--> --> --> -->2.1.磁场仿真
筒形溅射阴极的结构如图1所示, 主要包含筒形阴极和电磁系统两个部分. 其中筒形阴极包含一组磁极相反的永磁铁, 电磁系统置于筒形阴极两侧, 由直径为5 mm的铜导线缠绕而成. 仿真采用柱坐标体系, 图中z轴表示筒形溅射阴极的中心轴线[12]. 仿真区域的总磁场强度B(T)为电磁场强度Bcoil和永磁场强度Bmagnet的矢量和, 如下式所示, 其中Bcoil和Bmagnet可分别通过方程组(2)和方程组(3)求得图 1 筒形溅射阴极结构示意图
Figure1. Schematic diagram of the cylindrical cathode.
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2.2.放电仿真
利用粒子网格/蒙特卡罗法(particle in cell/Monte Carlo collision, PIC/MCC)对优化前后的筒形溅射阴极进行等离子体放电仿真[19,20]. 计算过程中, 屏蔽罩为阳极并设置为接地, 靶材为阴极, 电压为–800 V, 背景放电气体为Ar气, 温度为300 K, 气压为1.0 Pa. 初始电子和Ar+的密度设置为1 × 1014 m–3, 仿真过程中仿真区域中分别随机取3600个仿真Ar+离子和仿真电子, 能量满足Maxwell分布, 每个粒子代表2 × 106 个实际粒子. 由于仿真区域为规则的矩形, 初始时刻将仿真区域划分成多个尺寸为1 mm × 1 mm 的正方形网格. 模型考虑简单的Ar气放电过程, 具体反应如表1所列, 其二次电子发射系数由Trim软件计算获得. 此外, 仿真过程中考虑仿真粒子的三维速度, 模拟计算时间步长为1 × 10–12 s, 并且于每个步长之后都通过泊松方程计算等离子体的自洽电势[10].反应方程式 | 反应能量/eV | 反应类型 |
${{{\rm e}}} + {{\rm Ar}} \to {{\rm Ar}} + {{{\rm e}}}$ | — | 弹性 |
${{{\rm e}}} + {{\rm Ar}} \to {{\rm A}}{{{\rm r}}^ + } + 2{{{\rm e}}}$ | 15.76 | 电离 |
${{{\rm e}}} + {{\rm Ar}} \to {{\rm A}}{{{\rm r}}^m} + {{{\rm e}}}$ | 11.56 | 激发 |
${{{\rm e}}} + {\operatorname{Ar} ^m} \to {{\rm Ar}} + {{{\rm e}}}$ | –11.56 | 退激发 |
${{{\rm e}}} + {{\rm A}}{{{\rm r}}^m} \to {{\rm A}}{{{\rm r}}^ + } + 2{{{\rm e}}}$ | 4.2 | 电离 |
${{\rm A}}{{{\rm r}}^ + } + {{\rm Ar}} \to {{\rm A}}{{{\rm r}}^ + } + {{\rm Ar}}$ | — | 弹性 |
${{\rm A}}{{{\rm r}}^ + } + {{\rm Ar}} \to {{\rm Ar}} + {{\rm A}}{{{\rm r}}^ + }$ | — | 电荷交换 |
表1Ar气放电的主要反应表
Table1.The main reactions of simple Ar gas discharge.
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2.3.放电测试
放电测试在尺寸为600 mm × 600 mm × 500 mm的真空腔内进行, 所用电源为Melec GmbH复合高功率脉冲磁控溅射电源, 输出电压为: 600—1000 V, 脉冲频率: 50 Hz, 脉冲宽度: 300 μs. 溅射靶为Cr靶(99.5%), 靶内径: 120 mm, 外径: 132 mm, 高: 46 mm. 本底真空: 1.0 × 10–3 Pa, 放电气压: 1.0 Pa, 溅射气体为Ar(99.99%).使用Tektronix TDS1012 BSC示波器采集靶电压及靶电流曲线, 为优化测试信号, 测试时将测试电压及电流缩小100倍, 同时进行64倍平滑. 采用自主设计的等离子体发射光谱仪检测阴极轴心处等离子体的光谱强度, 自主搭建的等离子体电流测试装置测量离子电流, 具体的通过在真空腔室内放置厚度为0.5 mm, 直径为40 mm的不锈钢片, 一端串联一个1 Ω, 100 W的电阻, 并对不锈钢施加–100 V的偏压, 通过示波器测试电阻两端的电压差获得离子电流[8].
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3.1.耦合磁场优化
图2(a)和图2(b)分别展示了电磁系统线圈电流对筒形阴极靶面切向磁场强度Bz和法向磁场强度Br的作用. 为方便描述, 将电磁场方向与筒形阴极中永磁场方向相同时的线圈电流定义为正电流, 方向相反时的电流定义为负电流. 以前的研究表明, 靶面切向磁场强度Bz大于等于40 mT的区域更容易发生等离子体放电, 本文将此区域定义为有效磁场区域. 图2(a)中红色虚线表示切向磁场强度Bz等于40 mT, 红色虚线与每条曲线形成两个交点, 交点间的距离表示有效磁场区域的宽度. 如图2所示, 当线圈电流由0 A变为15 A时, 电磁场对阴极磁场产生压缩, 靶面切向磁场强度Bz增大, 导致靶面有效面积变宽, 筒内放电加强, 但靶面两侧法向磁场强度Br强度减小, 对电子约束作用减弱, 导致大量电子从两侧逃逸, 等离子体难以形成积累, 此时虽阴极的放电面积增大, 但等离子体密度产生大量衰减[12]. 当线圈电流由0 A变为–15 A时, 电磁场对阴极磁场产生拉伸, 靶面切向磁场强度Bz减小, 导致有效磁场区域变窄, 此时靶面放电面积减小, 放电强度稍微减弱. 但靶面两侧法向磁场强度Br增大, 阻止了电子向两侧的扩散损失, 有助于电子密度向筒内中心区积累, 弥补切向磁场下降造成的放电损失, 形成仍然较强的放电, 但Br的增大也严重阻止了等离子体向两侧的输运, 离子束流面积减小, 沉积效率无法进一步增强.图 2 线圈电流对靶面磁场的作用规律 (a) 对切向磁场强度Bz的影响; (b)对法向磁场强度Br的影响
Figure2. Effects of coil current on the target magnetic field: (a) Tangential magnetic field strength Bz; (b) longitudinal magnetic field strength Br.
考虑到线圈电流–15 A时放电的强化效果, 选择在此条件下对阴极磁场进一步的设计, 在保证放电强度的同时, 进一步增大放电面积, 进而提高沉积束流强度, 提高沉积效率. 初始筒形阴极的磁场结构如图3(a)所示, 在线圈电流为–15 A的条件下, 筒内磁感线分布情况如图3(d)所示. 由于电磁场的磁极方向与相邻的永磁铁磁极方向相反, 二者之间形成磁感线回路, 因此两组永磁铁之间形成的磁感线密度减小, 导致切向磁场强度Bz的减小. 为补偿靶面切向磁场强度Bz, 在两组永磁铁中间增加一组横向磁铁, 如图3(b)所示, 为方便描述, 将其定义为中央磁铁. 图3(e)为仿真得到的磁感线分布, 可见中央磁铁N极和S极之间形成的磁场对永磁铁之间形成的磁场向上挤压, 使得靶面的磁感线密度得到提升, 从而使放电强度得到保证. 同时, 在电磁系统与阴极磁铁之间增加一组与相邻永磁铁磁极相同的小磁铁, 如图3(c)所示, 为方便描述, 将其定义为同极小磁铁. 可以看出同极小磁铁与电磁场之间形成了磁感线回路, 使电磁场对阴极磁场的影响大幅减弱, 如图3(f)所示.
图 3 –15 A条件下筒形溅射阴极磁铁排布示意图及其内部磁感线分布 (a), (d)优化前; (b), (e) 增加中央磁铁; (c), (f)含有中央磁场和同极小磁铁
Figure3. Magnet arrangement and magnetic induction lines distributions in the cylindrical cathode under –15 A: (a), (d) Before improvement; (b), (e) with the central magnets; (c), (f) with the central magnets and dipole magnets.
为获得最优的放电特性, 分别对中央磁铁和同极小磁铁得磁极强度和位置进行优化. 选择同极小磁铁磁极强度200 mT, 中央磁铁距靶后端面76 mm时, 靶面切向和法向磁感应强度随中央磁铁磁极强度的变化如图4(a)和图4(b)所示. 随着中央磁铁的磁极强度由0 mT增至400 mT, 靶面切向磁场强度Bz的峰值大幅上升, 由55 mT增至85 mT. 而红色虚线(Bz = 40 mT)与各切向磁场曲线的交点位置无明显变化, 坐标分别为z =7 和33 mm, 表明中央磁铁对有效磁场区域没有明显作用, 只是显著提升有效区域内切向磁场强度. 根据下式 [21]可知,
图 4 中央磁铁磁极强度对靶面磁感应强度的影响 (a) 对切向磁感应强度Bz的影响; (b) 对法向磁感应场Br的影响
Figure4. Effects of central magnets strength on magnetic induction lines distribution of target surface: (a) Tangential magnetic field strength Bz; (b) longitudinal magnetic field strength Br.
固定中央磁极强度400 mT, 其距靶后端面76 mm时, 同极小磁铁磁极强度对靶面磁场的影响如图5所示. 随着同极小磁铁磁极强度由0 mT增至400 mT, 靶面切向磁感应强度Bz的峰值由78 mT增至92 mT. 此外, 红色虚线(Bz = 40 mT)与各切向磁场曲线的交点位置分别向两侧移动, 其间距逐渐由24 mm拓宽至31 mm, 表明切向磁感应Bz的有效宽度明显增大, 意味着等离子体放电区域增大, 并伴随着靶面的放电面积拓宽. 图5(b)所示为同极小磁铁磁极强度对靶面法向磁感应强度Br的影响, 随着同极小磁铁强度由0 mT增至400 mT, 靶面边缘的法向磁感应强度Br也进一步增强, 其峰值强度由89 mT增加至112 mT. 同时, 法向磁感应强度Br峰值位置向靶面的边缘移动, 坐标分别由z = 4 mm和z = 36 mm外移至2 mm和38 mm, 峰值间距宽度的增幅占靶面总宽度的8%, 意味着靶面可利用的放电面积将进一步增大. 值得注意的是, 此时靶面中央的法向磁感应强度基本不变, 即同极小磁铁对靶面有效区域的磁感线弧度几乎没有影响, 说明随着同极小磁铁磁极强度增强, 同极小磁铁与电磁系统之间形成的磁感线联系逐渐增强, 从而抑制了电磁系统对阴极磁铁的拉伸作用, 有效地保证了靶面的磁场强度. 为了保证切向磁感应Bz有效区域的宽度, 将同极小磁铁磁极强度定为400 mT.
图 5 同极小磁铁磁极强度对靶面磁感应强度的影响 (a) 对切向磁感应强度Bz的影响; (b) 对法向磁感应场Br的影响
Figure5. Effects of dipole magnets strength on magnetic induction lines distribution of target surface: (a) Effects on tangential magnetic field strength Bz; (b) effects on longitudinal magnetic field strength Br.
在添加中央磁铁和同极小磁铁后, 靶面切向磁感应强度Bz和法向磁感应强度Br分布均得到明显提高. 然而此时, 靶面切向磁感应强度Bz的峰值达到110 mT, 相对放电等离子体来说过高, 从而抑制了等离子体向外扩散, 降低沉积效率. 且磁感线形状呈圆滑的上凸状, 会降低等离子体分布均匀性, 并引起靶面局部刻蚀[22,23]. 根据Qiu等[24]的研究, 当切向磁感应强度Bz的曲线形状近似矩形时, 靶面刻蚀最均匀. 为调整靶面切向磁场形状, 研究了中央磁铁与靶面的距离对切向磁感应强度Bz的作用, 如图6所示. 随着中央磁铁到靶后端面距离由7.6 cm增加至8.4 cm, 切向磁感应强度Bz的磁感线形状逐渐由上凸变为下凹状, 其峰值位置由最初靶面中央(z = 20 mm)处向两侧(z = 10和30 mm)处转移, 最高磁场强度由110 mT减弱至62 mT, 与HiPIMS放电对应关系较好[25]. 随着中央磁铁到靶面距离的增大, 红色虚线(Bz = 40 mT)与切向磁感应强度Bz交点之间的距离有微弱增加, 表明放电面积略有增大. 对比多组仿真数据后发现, 当中央磁铁距离靶后端面8.2 cm时, 切向磁感应强度Bz的磁感线形状最接近矩形, 因此将8.2 cm定为中央磁铁距靶后端面的距离.
图 6 中央磁铁与靶后端面距离对靶面磁场强度的影响 (a) 对切向磁感应强度Bz的影响; (b) 对法向磁感应场Br的影响
Figure6. Effects of distance between the central magnets and the rear face of target on magnetic induction lines distribution of target surface: (a) Tangential magnetic field strength Bz; (b) longitudinal magnetic field strength Br.
磁铁优化前后靶面切向磁感应强度Bz和法向磁感应强度Br的分布如图7所示. 与原始情况相比, 优化后靶面的切向感应强度Bz明显增强, 其有效宽度由24 mm增至31 mm, 靶面占比由51%增至67%, 增幅为16%, 可显著增大等离子体的放电面积和放电强度. 同时, 靶面边缘的法向磁感应强度Br的显著增强且其峰值外移, 不仅能够抑制电子从靶面两侧逃逸, 还有助于放电面积的进一步提高. 为验证磁场对放电的改进效果, 对优化前后的筒形阴极进行简单的气体放电仿真, 得到0.4 μs时等离子体密度(Ar+)分布情况分别如图7(e)和图7(f)所示, 可见优化仿真区域内Ar+离子的密度分布产生明显差异. 与原始情况相比, 优化后放电区域内Ar+的分布范围更广, 靶面的放电面积更宽, 从z = 10到40 mm, 总宽度为30 mm, 与磁场仿真结果中切向磁感应强度的有效区域一致. 同时, 由于靶面约束电子的能力增强, 减弱了电子的逃逸, 增加了电子的回旋运动, 使得电离碰撞概率大幅上升, 因此经过相同的时间, 优化后的筒形阴极可获得更高的等离子体密度和离化率[24,26]. 这表明相同工艺条件下, 优化后的筒形阴极更容易发生放电, 且筒内的放电强度显著增大.
图 7 优化前和优化后靶面磁场分布及放电预测 (a), (b) 切向磁场Bz分布; (c), (d) 法向磁场Br分布; (e), (f) 0.4 μs时放电Ar+离子密度分布
Figure7. The magnetic distribution of target surface and the discharge prediction before and after improvement: (a), (b) The tangential magnetic field strength Bz; (c), (d) the longitudinal magnetic field strength Br; (e), (f) the distributions of Ar+ ions at 0.4 μs.
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3.2.高功率放电特性研究
对优化前后的筒形溅射阴极进行放电测试, 结果如图8所示. 可见相同实验参数条件下(–800 V, 1.0 Pa, 线圈电流–15 A), 优化后筒形阴极靶面的刻蚀区域显著增大, 由23 mm提升至28 mm, 相应的靶面占比由50%增至60.8%, 表明靶面放电面积得到明显拓宽. 图8(c)和图8(d)为辉光照片, 可见优化后辉光强度明显增强且输出等离子体束流宽度增大, 与仿真结果基本一致. 值得注意的是, 优化后筒形阴极辉光区域延伸的距离更大, 表明等离子输运距离更远, 这一方面是由于靶面切向磁场增强, 导致靶面放电强度增大, 从而产生更多的等离子体, 即增加了筒形阴极出口处输出离子密度; 另一方面, 靶面端口处法向磁感应强度增大抑制了电子从筒形阴极靶面边缘逃逸, 使得电子向中央轴处聚焦, 然后再由中央轴处向外扩散, 与此同时离子在电子的引导下沿中央轴向外输运, 从而减小了等离子体的损耗, 增大了输运距离.图 8 靶面放电宽度及强度图 (a)优化前和(b)优化后放电宽度; (c)优化前和(d)优化后放电辉光图
Figure8. The etching width and plasma flow pictures: The etching width (a) before and (b) after the improvement; the plasma flow pictures (c) before and (d) after the improvement.
图9为优化前后筒形阴极的靶电流与离子电流放电电压的演化. 靶电流符合HiPIMS典型放电特征, 靶电压施加后, 靶电流缓慢上升到达峰值, 随后缓慢下降, 直到脉冲结束后降至为零[27]. 电流达到峰值前主要是气体放电阶段, 电子与Ar原子发生电离碰撞造成电子雪崩, 产生的Ar+在靶面发生溅射并生成二次电子, 使得靶电流快速上升[18]. 溅射产生的Cr原子生成了金属原子溅射风, 与Ar原子发生碰撞使其溢出放电区域, 产生气体稀薄效应[28], 导致等离子体中的Cr元素成为放电区域的主要成分. 随着Cr原子进一步电离生成Cr+和Cr2+离子, 自溅射过程大部分代替了气体溅射过程[18]. 由于相同电压下Ar+轰击靶面的溅射产额大于Cr+离子, 且靶面温度升高使得Cr各组分扩散损耗加剧, 放电区域内等离子体密度开始逐渐下降, 减弱了离子在靶面的溅射强度, 最终导致电流达到峰值后缓慢下降[29]. 根据下面公式, 自溅射阶段靶电流主要由离子溅射通量Гion(m–2·s–1)和靶面刻蚀面积ST(m2)决定[18]:
图 9 不同电压下靶电压、靶电流及离子电流 优化前的 (a)靶电压、(c)靶电流及(e)离子电流曲线; 优化后的(b)靶电压、(d)靶电流及(f)离子电流曲线
Figure9. Target voltage, target current and ion current curves under different target voltages: (a), (c), (e) Before the improvement; (b), (d), (f) after the improvement.
图9(e)和图9(f)为优化前后离子电流随靶电压的变化情况, 表征沉积区域的离子数量. 离子电流先缓慢上升达到峰值后缓慢下降, 直至脉冲结束后缓慢下降为零, 与靶电流的变化趋势相同. 随着靶电压的升高, 离子回吸程度增大, 导致脉冲结束后离子电流下降的速度随电压的上升而同步增大. 通过对比优化前后的离子电流可以发现, 优化后离子电流增大, 达到峰值所需时间缩短, 这主要是由于优化后放电增强, 等离子体更快达到稳态, 从而离子可以更快地到达探针所在的区域. 此外, 优化后离子电流达到峰后下降形成了一个稳定的平台, 与靶电流相似, 此时靶面处于金属放电阶段[30], 离子电流主要由金属离子组成, 其持续时间直接影响着薄膜的沉积速率及薄膜质量[31]. 根据离子电流曲线, 由下式计算一个脉冲内到达探针的离子电荷量Q(C):
为进一步验证辉光区域内等离子体的演变趋势, 利用等离子体整体模型[20]对一个HiPIMS脉冲内的Ar/Cr放电过程进行了解析, 结果如图10所示, 其中虚线和实线分别表示优化前和优化后. 可见在一个脉冲时间内, Cr元素各组分以Cr, Cr+和Cr2+的顺序依次出现, 这是由各组分不同的生成机制决定的: 最初Cr原子由气体离子Ar+溅射靶材生成; 而Cr+需要由Cr原子与电子的电离碰撞生成; 而Cr2+最后出现是基于部分Cr+发生的二次电离[18,28]. Cr原子密度随时间的演变曲线呈现三个拐点, 0—25 μs在Ar+溅射作用下快速上升并达到极大值, 此后由于大量的电离反应, Cr密度逐渐下降并在50 μs左右取得极小值. 此后, 放电进入金属放电阶段, 自溅射过程几乎取代了气体溅射, 使得Cr密度继续上升最终达到稳定[23]. 注意到优化前后Cr原子密度在气体放电阶段的变化趋势几乎完全一致, 表明此时体系内Ar+离子的气体溅射强度基本相同. 随着电子的雪崩效应, 电子密度逐渐增加, 而优化后靶面两侧的法向磁感应强度Br和靶面切向磁感应强度Bz均增强, 进而束缚了电子逸散. 因此, 优化后筒形阴极的电子密度大幅上升, 进而使Cr原子、Cr离子密度均成倍增加, 以Cr+离子为例, 其密度密度由1.2 × 1020 m–3增至2.6 × 1020 m–3, 增加了一倍有余.
图 10 (a) 金属粒子浓度; (b) 离化率及电子温度变化图
Figure10. (a) Metal particle concentration; (b) ionization rate and electron temperature before and after the improvement.
进一步处理得到放电区域内的金属离化率和平均电子温度, 其中金属的离化率根据下式进行计算:
图11为优化强化筒形阴极的放电光谱随靶电压的变化情况, 随着电压的增大, 金属离子光谱强度增大, 根据Schiebe - Lomakin方程[32]:
图 11 中央轴处的原子发射光谱(OES)强度 (a) 优化前光谱强度; (b)优化后光谱强度
Figure11. The OES intensity at the center axis of cylindrical cathode: (a) Before the improvement; (b) after the improvement.