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--> --> -->想要获得具有高效率和高电致发光强度的钙钛矿发光二极管, 其中作为发射层的钙钛矿薄膜一定要均匀且具有较高的覆盖度. 但是, 微米尺度的钙钛矿晶体在形成时, 极易出现覆盖率低的不连续层, 因而容易造成器件短路, 对于器件的制备十分不利. 现在已经有多种方法, 如: 溶剂工程[13,14]、氢卤酸添加剂[8,15]、前驱体有机化合物与无机化合物比例的调控[16,17]、使用添加剂的OIHP复合材料[18-20]等, 均可改善OIHP薄膜的均匀性和表面覆盖率. 比如, Cho等[18]研究发现基于三溴化铅甲基胺(MAPbBr3)钙钛矿材料的PeLEDs表现出很高的性能, 他们以氯仿作为溶剂, 生成纳米晶钉扎(NCP), 缩短了溶剂的蒸发时间, 进而诱导了MAPbBr3的快速结晶. 通过使用NCP, 他们最终获得了晶粒大小为100 nm到250 nm之间的具有完美覆盖率的钙钛矿薄膜, 并且利用添加物1, 3, 5-三(1-苯基–1H-苯并咪唑–2-基)苯 (TPBi)[21]进一步将MAPbBr3晶粒缩小到了50—150 nm. 其中, 第一个单层薄膜由MAPbX3 (X = Cl, Br, I)和聚(环氧乙烷)(PEO)的复合材料组成, 该复合材料夹在铟锡氧化物(ITO)和铟/镓或金(Au)之间作为正极. 基于PEO掺杂的MAPbBr3器件(质量比为0.75:1)在5.5 V时显示绿光发射, 最大亮度为4064 cd·m–2, 与之前多层器件[22]的结果相当. 此外, 还有研究人员在钙钛矿前驱体中加入聚酰亚胺前驱介质(PIP)[23]和四丁基溴化铵(TBAB)[24], 通过控制OIHPs与聚合物之间的相互作用来调节形态. 尽管目前利用添加剂控制钙钛矿膜的方法已经得到了广泛的报道, 但仍有必要对添加剂在钙钛矿膜制备中的作用进行研究.
本文通过在聚(3, 4-乙撑二氧噻吩):聚(4-苯乙烯磺酸盐)(PEDOT:PSS)中加入不同体积比的PSS来修饰空穴注入层(HIL). PSS改性使得PEDOT:PSS的功函数(WF)增加了约0.19 eV, 降低了HIL与MAPbBr3钙钛矿层之间的空穴注入势垒. 另外, 我们还通过PEO掺杂钙钛矿制备了具有致密均匀膜的复合发光层, 最终获得了最大亮度为2476 cd·m–2和最大电流效率为7.6 cd·A–1的高效发光二极管.
将质量分数为0.03%的PSS与PEDOT:PSS (AI4083)按照1∶100、1∶50和1∶20体积比混合, 制备了PSS改性的PEDOT:PSS. 将溴化甲胺(MABr)和溴化铅(PbBr2)以2∶1物质的量比溶解于无水N, N-二甲基甲酰胺(DMF)中, 得到质量分数为5%的钙钛矿前驱体溶液, 进而在60 ℃下搅拌2 h. 将PEO溶于DMF中, 配置成浓度为10 mg·mL–1的PEO溶液. 随后将钙钛矿前驱体与PEO溶液按规定比例(1∶0, 1∶0.75, 1∶1, 1∶1.25)混合. 所有溶液在70 ℃下搅拌30 min后使用. 带有ITO电极的玻璃基底依次用丙酮、乙醇、去离子水进行清洗, 清洗后再分别用去离子水、丙酮、乙醇依次超声清洗15 min, 烘干后备用.
进行器件制备时, 先将改性后的PEDOT:PSS以3000 r/min的转速旋涂于ITO玻璃基板上, 时间为40秒, 而后在120 ℃的热板上退火40 min. 之后将玻璃基板转移至手套箱中, 逐一旋涂MAPbBr3层, 转速为7000 r/min, 旋涂完毕后在80 ℃的热板上退火10 min. 最后将所有样品转移到真空室中, 在1 × 10–4 Pa的高真空条件下依次蒸发TPBi (45 nm)、LiF (1.2 nm)和Al电极(100 nm).
所有样品均使用玻璃覆盖片封装在手套箱中, 玻璃覆盖片通过UV固化黏合剂粘合. 每个器件的有效面积为10 mm2, 取决于ITO和Al电极重叠的面积. 利用日立S-4800场发射扫描电子显微镜(SEM)对钙钛矿层形貌进行了测量; 利用Bruker D8 X射线衍射仪(XRD)对MAPbBr3薄膜的晶体结构进行了表征; 利用Kimmon Koha荧光光谱仪对薄膜的PL光谱进行了测量; 利用放电光源(He I 21.22 eV)进行了紫外光电子能谱(UPS)分析. 用Keithley 2400源表和PR655光谱仪测量了亮度、光谱和电流曲线.
图 1 (a) 掺杂和未掺杂PSS的PEDOT:PSS的UPS光谱; (b) PeLEDs能级示意图Figure1. (a) UPS spectra of PSS-doped and pristine PEDOT:PSS; (b) schematic energy-level of PeLEDs.
图 2 不同PSS与PEDOT:PSS体积比的PeLEDs的特性 (a)亮度-电压特性; (b) 电流密度-电压特性; (c) 电流效率-电压特性Figure2. The characteristics of PeLEDs with varying volume ratio of PSS and PEDOT:PSS: (a) Luminance-voltage; (b) current density-voltage; (c) current efficiency-voltage.
图2给出了不同PSS与PEDOT:PSS掺杂比的HIL制备出的PeLEDs的亮度、电流密度和电流效率特性曲线. 其中, PSS与PEDOT:PSS体积比分别为1∶100, 1∶50, 1∶20. 从图2(a)中可以看出, 经过PSS改性的器件的电流密度高于未改性器件, 且随着PSS的增加, 器件的电流密度逐渐增大. 这一趋势表明, 随着PSS数量的增加, WF也会随之增加, 并因此促进了钙钛矿发光层的空穴注入. 产生这种效果的主要原因是PSS减小了空穴注入势垒, 这与之前的研究[7]一致. 同时, 随着PSS掺入量的提高, 发光亮度和电流效率也得到了提高. 在此基础上制备的PeLEDs的最大亮度可以达到1534 cd·m–2, 其中体积比为1∶20的器件展示出了最大的电流效率, 为0.69 cd·A–1, 但由于PSS的导电性较低, 器件的性能不会继续提高, 这与之前论文的报道[25]是一致的. 然而, 由于钙钛矿薄膜性能不佳, 器件的电流效率仍然很低, 因此, 我们将PEO加入钙钛矿前驱体溶液中, 以进一步提高钙钛矿薄膜的质量.
体积比为1∶0, 1∶0.75, 1∶1, 1∶25的MAPbBr3:PEO复合膜的表面形貌如图3所示. 在没有PEO的情况下, 钙钛矿晶粒尺寸明显较大(约200 nm, 图3 (a)), 并且从SEM图中可以看出, 薄膜的覆盖率很低, 约为70%. 随着PEO浓度的增加, 晶体尺寸明显变小, 表面覆盖率大大提高, 如图3 (b)和图3 (c)所示. 当MAPbBr3:PEO比为1∶0.75时, 晶体尺寸减小到约150 nm, 表面覆盖率提高到90%左右(图3 (b)). 当MAPbBr3:PEO比例达到1∶1时, 晶体尺寸减小到100 nm以下, 表面覆盖率接近100%, 此时不仅钙钛矿晶体的尺寸进一步减小, 复合材料的分散也更加均匀. 值得注意的是, 比例为1∶1.25的MAPbBr3:PEO复合膜表面又出现了更大粒径的立方晶体, 如图3 (d)所示, 这是由于较小的钙钛矿晶粒低的表面能促成了大晶粒的形成. 事实上, 这种晶体生长的现象被称为奥斯特瓦尔德熟化, 在量子点的制备过程中经常被观察到. 因此, 在MAPbBr3溶液中加入PEO有利于减小MAPbBr3晶体的尺寸, 同时有利于提高钙钛矿膜层的表面覆盖率. 图4给出了钙钛矿膜层掺杂PEO前后的X射线衍射模式. 从图中可以看出, 14.95°, 21.38°, 30.30°, 33.75°, 45.42°处出现的6个特征峰, 分别对应于(100), (110), (200), (210), (300)晶面, 这与之前文献报道的结果一致. 复合膜的衍射峰强度较低, (100)晶面半峰宽(FWHM)明显变宽, 说明晶粒尺寸有所减小, 这与SEM测试到的结果一致, 表明钙钛矿晶体在(100)晶面的生长受到抑制.
图 3 不同体积比的MAPbBr3:PEO薄膜的SEM形貌图 (a) 1∶0; (b) 1∶0.75; (c) 1∶1; (d) 1∶1.25Figure3. The SEM images of the MAPbBr3 films with different MAPbBr3:PEO volume ratio: (a) 1∶0; (b) 1∶0.75; (c) 1∶1; (d) 1∶1.25.
图 4 本征MAPbBr3钙钛矿和MAPbBr3:PEO(1∶1)钙钛矿薄膜的XRD. 图中Pe为MAPbBr3的简写Figure4. The XRD of the perovskite films of pristine MAPbBr3 and MAPbBr3:PEO (1∶1). Here, Pe is the abbreviation of MAPbBr3.
图5给出了纯MAPbBr3和MAPbBr3:PEO(1:1)复合膜的光致发光(PL)光谱. 从图中可以看出, 两者的PL谱形状相似, 峰值位置均为539 nm, 可见PEO掺杂并不影响钙钛矿膜层本身的发光. 此外, 可以看出MAPbBr3:PEO复合膜的PL强度略低于标准钙钛矿样品, 这与PEO的加入对钙钛矿产生稀释致使PL强度降低有关. 以上分析结果表明, MAPbBr3:PEO复合膜不仅改善了膜层质量, 提高了覆盖率, 还保持了MAPbBr3的光学特性, 因此有望在器件应用中获得良好的效果.
图 5 MAPbBr3和MAPbBr3:PEO (1∶1)复合薄膜的PL光谱Figure5. Photoluminescence spectra of the MAPbBr3 and MAPbBr3:PEO (1∶1) composite thin films.
我们在上述膜层分析的基础上, 制备了不同PEO掺杂比的PeLEDs, 器件的亮度、电流密度、电流效率和电致发光光谱曲线如图6所示. 图中的MAPbBr3:PEO的掺杂比分别为1∶0, 1∶0.75, 1∶1, 1∶1.25. 基于上述掺杂比的PeLEDs的启亮电压(1 cd·m–2)分别为3.5, 3.5, 3.2, 3.3 V. 1:1器件在5 V条件下, 亮度大于1000 cd·m–2, 在6.5 V偏压下达到最大, 为6762 cd·m–2. 1∶0.75器件的发光亮度最大为2794 cd·m–2, 1∶1.25器件最大为2476 cd·m–2, 后两者最大亮度均明显低于1:1器件. 在1∶0.75, 1∶1, 1∶1.25器件中, 最高的电流效率分别达到2.0, 6.2, 7.6 cd·A–1, 均高于未掺杂PEO标准器件的0.39 cd·A–1. 其中, 最佳掺杂比器件(1∶1)效率比标准未掺杂器件高出18.5倍, 可见均匀性和高覆盖率的膜层对器件发光性能的影响非常大. 从图6(e)电致发光光谱可以看出, PEO掺杂未对MAPbBr3发光光谱产生影响, 光谱的峰值(524 nm)保持不变. 此外, 我们测试了MAPbBr3:PEO掺杂比分别为1∶0, 1∶0.75, 1∶1, 1∶1.25时器件的半衰期寿命(即亮度降至初始值(100 cd·m–2)一半时的寿命), 发现掺杂适量PEO有助于改善器件的稳定性, 半衰期寿命值从标准器件的15 s分别提升至125 s (1∶0.75)、275 s (1∶1)和203 s (1∶1.25). 器件寿命的提升一方面得益于致密均匀的钙钛矿膜层质量, 另一方面与PEO包覆于钙钛矿晶体表面, 对其表面缺陷存在一定的钝化效果有关[27].
图 6 (a) 使用了MAPbBr3:PEO的器件结构示意图; 不同MAPbBr3:PEO体积比钙钛矿所制备出发光器件的(b)亮度-电压, (c)电流密度-电压, (d)电流效率-电压和(e)电致发光光谱曲线Figure6. (a) PeLED structure using MAPbBr3:PEO, and the (b) luminance, (c) current density-voltage, (d) current efficiency-voltage and (e) electroluminant curves of PeLEDs with varying volume ratio of MAPbBr3:PEO.
