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--> --> --> -->2.1.实验材料
将摩尔比为2.6∶1∶1的溴化铯(CsBr为0.2 mmol·mL–1, TCI公司, 纯度99.0%)、溴化铅(PbBr2, TCI公司, 纯度99.0%)、氯化铅(PbCl2, 西安宝莱特光电科技有限公司, 纯度99.99%)与质量分数为10 wt%的苯乙基溴化铵(PEABr, 博润新材料公司, 纯度99.5%)溶于二甲基亚砜(DMSO, Alfa Aesar公司, 纯度99.9%)中, 制备成蓝光钙钛矿前驱体溶液.为了优化钙钛矿成膜质量, 质量分数为3.3 wt%的聚乙二醇(PEG, MACKLIN公司, 平均Mv为600000)加入至钙钛矿前驱体溶液中.
为了改善发光光谱在外加电压下的红移现象, 在溶液中加入浓度为2 mg·ml–1的溴化钾(KBr, Aladdin公司, 纯度99.5%). 所有制备的前驱体溶液在40 ℃下搅拌数小时, 静置备用. 以上实验材料均直接购买使用, 没有进一步处理及提纯. 制备流程如图1所示.
图 1 基于PEAxCsPbBr3–yCly + PEG + KBr钙钛矿前驱体溶液的合成路线
Figure1. Synthesis of PEAxCsPbBr3–yCly + PEG + KBr based perovskite precursor solution
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2.2.器件制备
将氧化铟锡(indium tin oxide, ITO)玻璃基片用丙酮、乙醇、异丙醇溶剂分别超声清洗15 min, 放入110 ℃烘箱中烘干残留溶剂, 30 min后取出备用. 在薄膜沉积之前, 干燥的ITO玻璃基板用紫外线臭氧处理20 min, 以增强表面亲水性. 过滤后的聚(3, 4-乙基二氧噻吩): 聚(苯乙烯磺酸盐) (PEDOT:PSS, Clevios Al 4083)旋涂在ITO玻璃基板上, 转速为4000 rpm, 旋涂好后的基片在150 ℃的加热台处退火15 min, 以除去残留的水分. 退火后, 样品转移至充满氮气的手套箱中, 三种钙钛矿前驱体溶液过滤后, 旋涂在PEDOT:PSS基底上, 转速设定为3000 rpm, 时间为60 s, 随即放至70 ℃的加热台处退火8 min. 将样品转移至有机热蒸发仪中(Trovato, 基准压力 <3× 10–7 Torr (1 Torr ≈ 133.322 Pa), 依次蒸镀电子传输层2, 2′, 2″-(1, 3, 5-benzinetriyl)-tris(1-phenyl-1-H-benzimidazole) (TPBi, Nichem公司, 纯度99.0%)、电子注入层氟化锂(LiF, MACKLIN公司, 纯度99.99%)和Al电极, 厚度分别为50, 1和100 nm. 蒸镀后对PeLEDs器件进行简易封装并测试其电学性能, 测定PeLEDs的有效面积为10 mm2.2
2.3.测试与表征
钙钛矿薄膜的表面微观形貌利用扫描电子显微镜(SEM, Zeiss Supra 55)进行表征. 薄膜物质的晶体结构使用X 射线衍射分析仪(XRD, PANalytical X’Pert Pro)进行分析, 以 Cu Kα作为射线源 (λ = 0.154 nm). 用荧光光谱仪(PL, Horiba Jobin Yvon)测定了稳态光致发光光谱, 瞬态光致发光光谱使用Quantaurus-Tau荧光寿命光谱仪(C11367-32, Hamamatsu Photonics)测量, 激发波长均为373 nm.钙钛矿发光器件的电流密度-电压-亮度(J-V-L)特性曲线和电致发光(EL)光谱均由程控电源(Keithley model 2400)与光谱光度计(PhotoResearch PR670)测定. EQE值是通过积分球(Hamamatsu Photonics K.K. C9920-12)测量光通量得到的. 采用64通道ZJLS-4型老化测试系统, 在恒流模式下测试器件寿命. 以上测试与表征均在空气环境中完成.
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3.1.薄膜形貌
图2为PEAxCsPbBr3-yCly钙钛矿溶液中加入不同添加剂的表面微观形貌图, 图3为含有不同添加剂的钙钛矿晶粒尺寸分布柱状图. 不添加任何添加剂的PEAxCsPbBr3-yCly钙钛矿薄膜表面覆盖不完整, 颗粒尺寸较大(平均晶粒尺寸为38.47 nm), 低的薄膜覆盖率将会导致器件漏电流较大, 限制了器件性能(图2(a)和图3(a)). 作为对比, 纯PEG的加入可以抑制快速生长的钙钛矿晶粒, 降低晶粒尺寸(平均晶粒尺寸减小至24.09 nm), 同时由于聚合物添加剂自身较好的溶液可加工性, 薄膜表面粗糙度显著降低, 覆盖率大幅度提高, 提高薄膜的覆盖度与均匀性可有效减少非辐射复合造成的电流损失(图2(b)和图3(b))[33]. 纯KBr的加入可以使晶粒尺寸变得更小(平均晶粒尺寸为20.50 nm), 研究表明小晶粒可以在空间上限制激子扩散长度, 增大激子辐射复合的可能性[34]. 同时KBr可以减缓结晶过程, 使钙钛矿结晶更加完美[31](图2(c)和图3(c)). PEAxCsPbBr3–yCly + PEG + KBr钙钛矿薄膜表面均一平整, 覆盖度最高, 晶粒尺寸最均匀, 平均粒径仅为17.53 nm(图2(d)和图3(d)).图 2 含有不同添加剂的PEAxCsPbBr3-yCly钙钛矿薄膜SEM图像, 标尺为200 nm
Figure2. SEM images of PEAxCsPbBr3-yCly perovskite films with different additives, the scale bar is 200 nm
图 3 含有不同添加剂的PEAxCsPbBr3-yCly钙钛矿晶粒尺寸分布柱状图
Figure3. Histograms of grain size distributions of PEAxCsPbBr3-yCly perovskite films with different additives.
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3.2.光学性能
图4为三个样品ITO/PEDOT:PSS/PEAxCsPb图 4 含有不同添加剂的PEAxCsPbBr3-yCly钙钛矿薄膜在PEDOT:PSS上的XRD图谱
Figure4. XRD patterns of various PEAxCsPbBr3-yCly perovskite films with different additives on PEDOT:PSS.
图5为上述三种薄膜在石英基底上的稳态光致发光光谱 (steady state photoluminescence spectroscopy)和时间分辨光致发光衰减曲线(time- resolved photoluminescence decay curves), 激发波长均为373 nm. 图5(a)所示, 纯PEAxCsPbBr3–yCly钙钛矿薄膜的光致发光峰为484 nm, 含有两种添加剂的钙钛矿薄膜光致发光峰与标件相比均出现微量红移, 为486 nm, PEG的存在可能在一定程度上抑制了PEABr形成准二维钙钛矿的过程. 如图5(b)所示, 在激发波长为373 nm时, 未含添加剂的薄膜PLQY为1.37%, 含有PEG的薄膜PLQY为4.71%, 含有PEG与KBr的薄膜PLQY为18.9%. 钙钛矿薄膜获得更高的光致发光量子产率, 有利于载流子的辐射复合发光. 如图5(c)所示, 标件钙钛矿薄膜PL寿命较短, 发光猝灭现象严重. PEG和KBr的共同存在可以延长PL寿命, 呈现出较长的PL衰减曲线. 密度泛函理论表明钙钛矿薄膜中存在的卤素空位会在带隙内产生缺陷, 可能成为非辐射复合中心, 不利于制备高效的钙钛矿发光器件[36]. 而在钙钛矿中引入合适的添加剂可以钝化钙钛矿薄膜处缺陷, 抑制薄膜中卤素空位的形成, 从而降低非辐射复合概率[16,17]. 关于界面缺陷钝化有待进一步深入研究, 探究其物理机理.
图 5 含有不同添加剂的PEAxCsPbBr3–yCly钙钛矿薄膜的光学性能表征 (a) PL光谱; (b) PLQY; (c)TRPL曲线
Figure5. Optical characterization of PEAxCsPbBr3–yCly perovskite films with different additives: (a) PL spectroscopy; (b) PLQY; (b) TRPL decay curves.
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3.3.电学性能
图6(a)为基于PEAxCsPbBr3-yCly钙钛矿薄膜的电致发光器件结构示意图, 器件结构为ITO/PEDOT:PSS/钙钛矿/TPBi/LiF/Al, 其中钙钛矿层分别为PEAxCsPbBr3–yCly, PEAxCsPbBr3–yCly + PEG, PEAxCsPbBr3–yCly +PEG+KBr. 图6(b)为整体器件的SEM截面图, 从下至上依次为玻璃, 阳极ITO, 空穴传输层PEDOT:PSS, 钙钛矿发光层, 电子传输层TPBi, 电子注入层LiF, 阴极Al.图 6 (a) PeLEDs的器件结构示意图; (b) PeLEDs的截面SEM图像
Figure6. (a) Device structure diagram of PeLEDs; (b) Cross-sectional SEM images of PeLEDs
图7为基于不同钙钛矿发光层器件的电学性能, 测量了器件亮度(luminance, L)、电流效率(current efficiency, CE)、功率效率(power efficiency, PE)、外量子效率(external quantum efficiency, EQE)、开启电压(voltage on, Von)、半峰宽(FWHM)、电致发光(EL)光谱等. 图7(a)为电流密度-电压-亮度(J-V-L)性能曲线, 图7(b)为电流效率-电流密度-外量子效率(CE-J-EQE)性能曲线. 对照器件的电流密度明显高于含有添加剂的器件, 结合钙钛矿薄膜的表面形貌, 可以发现没有添加剂钙钛矿薄膜的晶粒覆盖度差、存在较多孔洞, 会引起电流泄露, 空穴-电子对无法在发光层中进行有效辐射复合. 该器件表现的性能不佳, 最大亮度为779 cd·m–2, CE和EQE仅为1.62 cd·A–1和1.2%. 加入PEG后, 器件的电流密度显著降低, 亮度在一定程度上有所提高, 亮度、CE和EQE分别增长至1038 cd·m–2, 3.69 cd·A–1和3.0%. 器件性能的提高可归功于PEG的引入促进形成致密无孔洞的钙钛矿薄膜. 为了进一步提升钙钛矿薄膜的性能以及发光器件的效率, 在制备钙钛矿薄膜过程中引入双添加剂—PEG和KBr, 我们发现双添加剂的引入促使形成了高表面覆盖率、晶粒尺寸较小且均匀的钙钛矿薄膜, 最大程度地抑制了电流泄漏, 同时改善了发光器件的空穴电子注入平衡, 提高了辐射复合效率. 最终PeLEDs的CE和EQE分别达到了5.68 cd·A–1和4.6%, 相比对照器件提高了近3倍. 在器件的CE及EQE到达最高值后, 效率开始滚降, 随着电流密度的增加, 器件性能不断衰退, 这可能是源于俄歇复合引起的器件发光猝灭, 或是钙钛矿内部不断累积的电流热效应所引发[13,37]. 综上所述, 不同钙钛矿薄膜的PeLEDs电学性能变化与其薄膜形貌和其他光学性能变化相一致. 图7(c)为三种器件归一化后的EL光谱图, 发光峰在488 nm处, 半峰宽窄(FWHM = 20 nm), 均呈高斯分布, 没有分峰. 相对于PL, EL发光谱存在微量红移现象, 这可能是电荷载体与激子动力学的相互作用, 注入的载流子传输到能量较低的区域, 在更小的带隙间辐射复合[24]. 图7(d)为国际照明委员会(CIE)色坐标图, 基于PEAxCsPbBr3–yCly + PEG + KBr钙钛矿薄膜的PeLEDs可以在蓝色显色区域内发射出高纯度的蓝光, 色坐标为(0.0747, 0.2570). 表1总结了不同添加剂钙钛矿发光层的PeLEDs电学性能.
Devices | Max. L/cd·m–2 | CE/cd·A–1 | EQE/% | EL peak/nm |
Control | 779 | 1.62 | 1.2 | 488 |
PEG | 1038 | 3.69 | 3.0 | 488 |
PEG+KBr | 1049 | 5.68 | 4.6 | 488 |
表1含有不同添加剂钙钛矿发光层的蓝光PeLEDs性能
Table1.The performance of blue PeLEDs with different additive perovskite materials.
图 7 含有不同添加剂的PeLEDs电学性能表征 (a)电流密度-电压-亮度(J-V-L); (b)电流效率-电流密度-外量子效率(CE-J-EQE); (c)归一化后的EL光谱图; (d)国际照明委员会(CIE)色坐标图
Figure7. Electrical performance characteristics of PeLEDs with different additives: (a) Current density-voltage-luminance(J-V-L); (b) current efficiency-current density-external quantum efficiency(CE-J-EQE); (c) the normalized EL spectra; (d) the Commission Internationale de I’Eclairage (CIE) coordinates
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3.4.器件寿命与稳定性
图8(a)为三种器件在空气环境下运行时的寿命衰减图, 测量的器件寿命是指在电压驱动下, 从初始亮度(L0)衰减至亮度一半 (L0/2) 时所需要的时间(T50)[38]. 当初始亮度为100 cd·m–2时(此时对照器件的电压为5.88 V, 电流密度6.039 mA·cm–2; 含有PEG的器件电压为5.90 V, 电流密度2.025 mA·cm–2; 含有PEG +KBr的器件电压为6.0 V, 电流密度1.707 mA·cm–2), 对照器件的半衰期为6.6 min, 含有PEG的器件半衰期提高至9.0 min, 而PEG与KBr同时存在的器件半衰期可达11.4 min, 比对照器件提高近一倍. 主要原因是空穴-电子对能够在钙钛矿层进行有效的辐射复合出光, 内部热量损耗现象得到显著改善. 通过对比3种器件在T0与T50时刻分别对应的EL光谱(图8(b)—图8(d)), 可以看出在T0时刻, 3种器件的EL光谱均为488 nm. 当亮度下降至初始亮度的一半时, 未含添加剂的器件(T50时EL光谱为494 nm)与只含PEG的器件(T50时EL光谱为492 nm)均发生不同程度的红移, 而含有双添加剂的器件EL光谱仍保持在488 nm, 证实了KBr的存在可以提高器件运行时的稳定性.图 8 (a)含有不同添加剂的PeLEDs寿命特性图. 含有不同添加剂的PeLEDs在T0与T50时对应的EL光谱 (b)标准器件; (c)有PEG; (d)有PEG与KBr
Figure8. (a) Operating lifetime characteristics of PeLEDs with different additives. The corresponding EL spectra of PeLEDs with different additives at T0 and T50: (b) Control; (c) with PEG; (d) with PEG+KBr
图9研究了KBr的引入对PeLEDs光谱稳定性的影响, 测量了施加不同电压情况下EL发光光谱的变化情况. 可以看出, 在不含KBr的器件中, 当驱动电压达到6.9 V时, EL光谱发生了微量红移(标准器件发光峰从488 nm红移至492 nm, 含有PEG的器件发光峰从488 nm红移至490 nm). 而在添加KBr的器件中, 随着驱动电压的增加, EL光谱并未发生显著变化. 为进一步证明含有KBr的器件具有光谱稳定性, 在恒压下(5.7 V)测试了不同工作时长的器件EL光谱图, 如图10所示, 在器件运行至3 min时, 未含KBr的器件光谱已经发生红移, 5 min时, 能明显看出EL光谱的变化, 而含有KBr的器件在5 min时仍保持良好的运行稳定性. 因此, 这种现象可以理解为在钙钛矿前驱体中引入KBr可以显著降低界面缺陷密度, 消除了钙钛矿膜中移动卤化物的离子缺陷, 同时还抑制离子迁移, 因此在工作电压下发光光谱的稳定性得到提高[32,39].
图 9 PeLEDs光谱稳定性 (a)标准器件; (b)有PEG; (c)有PEG与KBr
Figure9. The spectral stability of PeLEDs: (a) Control; (b) with PEG; (c) with PEG + KBr.
图 10 5.7 V下, PeLEDs不同工作时长的EL光谱图 (a)标准器件; (b)有PEG; (c)有PEG与KBr
Figure10. The EL spectra of PeLEDs with different working minutes at 5.7 V: (a) Control; (b) with PEG; (c) with PEG+KBr.