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--> --> -->在嵌入原子法中, 单类型原子系统的总势能Etot可以表示为
在文献[28]中, 嵌入能F和电子密度ρ的关系表示为
图 1 Ce的EAM势 (a)对势函数和电子密度分布函数; (b)嵌入能函数
Figure1. EAM potential for Ce: (a) The pair function Φ(rij) and the density function f(rij); (b) the embedded function F(ρ).
3.1.基本性质
图2展示了由EAM势计算得到的Ce的冷能曲线. 该曲线分为两段, 每段各有一个极小点, 分别对应于α-Ce (a = 4.81 ?)和γ-Ce (a = 5.14 ?). 可以看出, 在两个极小值点中间存在一个高度为15.3—20.8 meV/atom的势垒, 远小于Chen等[25]的经验势中的对应值(0.142 eV/atom). 表1中展示了由EAM计算得出的α-Ce和γ-Ce的一些基本性质, 包括晶格常数、结合能、弹性常数等, 与实验或第一性原理计算的结果符合得很好.图 2 由本文EAM势得出的面心立方Ce的冷能曲线
Figure2. The cold energy of fcc Ce calculated with the newly developed EAM potential.
γ-Ce | α-Ce | ||||||
实验 | 第一性原理 | 本文EAM | 实验 | 第一性原理 | 本文EAM | ||
a0/? | 5.16[4] | 5.22[11] | 5.14 | 4.84[4] 4.90[30] | 4.63[11] | 4.81 | |
Ecoh/eV | 4.32[4] | 4.35[11] | 4.32 | 4.3[11] | 3.76[11] | 4.3255 | |
体弹模量/GPa | 18.18[31] | 28.3[11] | 16.78 | 35.0[32], 16.94[33] | 37.0[34] | 37.00 | |
c11 /GPa | 26.01[31] | 23.06 | 52.9[34] | 59.77 | |||
c12 /GPa | 14.26[31] | 13.64 | 29.1[34] | 25.62 | |||
c44 /GPa | 17.30[31] | 17.64 | 44.6[34] | 49.98 | |||
剪切模量/GPa | 12.73[31] | 12.47 | 17.26[33] | 36.82 |
表1面心立方Ce的基本性质的EAM计算值与实验和第一性原理结果的比较
Table1.EAM predicted properties of Ce lattice in comparison with experimental and ab initiodata.
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3.2.晶体缺陷
33.2.1.点缺陷
为了定量地研究在Ce中的点缺陷, 采用本文的EAM势在10 × 10 × 10 的FCC超胞中计算了α-Ce和γ-Ce中的空位和填隙原子的形成能. 晶体点缺陷的形成能(Ef)的定义为对于γ-Ce, 填隙原子和空位的形成能分别为1.93和0.85 eV, 分别对应于无缺陷单晶中单个原子结合能的44.7%和19.7%; α-Ce中的填隙原子和空位的形成能分别为2.97和1.15 eV, 分别对应于无缺陷单晶中单个原子结合能的68.7%和26.6%. 以往的研究中所得的FCC过渡金属的空位能约为1—3 eV[35], 这里所得的填隙原子和空位的形成能处在与之可比的范围内, 可以认为是合理的.
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3.2.2.表面能
采用本文的EAM势同时通过Polak-Ribiere共轭梯度法[36]对表面构型进行充分弛豫, 以此计算了α-Ce和γ-Ce的三种低密勒指数(即(100), (110)和(111))晶面的表面形成能, 计算结果列在了表2中. 对于γ-Ce本文中计算所得的表面能明显低于以往经验势的计算结果[22,23]. 不过两相Ce中的表面能的大小顺序都符合γ(111) < γ(100) < γ(110), 表明其中(111)表面最稳定, 这方面与Sheng等[22]以及Fu和Zhao[23]对γ-Ce的计算相结果相一致. 比较α-Ce和γ-Ce相同晶向的表面能, 则有γα < γγ, 如对于(100)晶面γα(100) < γγ(100), 另外对于γ(110)和γ(111)亦同. 到目前尚未见关于金属Ce表面能实验测量结果的报道, 本文的表面能数值可作为未来相关测量实验的参考.γ-Ce | α-Ce | ||||
之前的结果 | 本文EAM | 之前的结果 | 本文EAM | ||
Eif/eV | 3.3[22] | 1.93 | 2.97 | ||
Evf/eV | 0.75[22], 2.02[23] | 0.85 | 1.15 | ||
γ(100)/mJ·m–2 | 697[22], 2140[23] | 391 | 308 | ||
γ(110)/mJ·m–2 | 797[22], 2220[23] | 442 | 390 | ||
γ(111)/mJ·m–2 | 586[22], 2190[23] | 297 | 195 | ||
γssf/mJ·m–2 | 486[22],58[37], 16[37], –0.2[37] | 457 | 301[37], 311[37], 369[37] | 734 | |
γusf/mJ·m–2 | 501[22] | 543 | 822 | ||
γutf/mJ·m–2 | 12[22] | 768 | 1167 |
表2γ-Ce and α-Ce中晶体缺陷的形成能
Table2.Calculated formation energy of lattice defectsin γ-Ce and α-Ce.
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3.2.3.面缺陷
材料的稳定和非稳定层错能被认为是决定其力学行为(如金属的塑性变形)的重要物理量. 利用本文的EAM势计算得出了α-Ce和γ-Ce中堆垛层错和(111)孪晶缺陷的广义面缺陷能曲线. 广义层错能曲线可通过对无缺陷单晶沿(111)晶面进行刚性剪切得到, 而广义孪晶缺陷能曲线则可通过对预置层错的无缺陷单晶进行刚性剪切得出. 最终α-Ce和γ-Ce中的广义层错能曲线和广义孪晶能曲线分别如图3(a)和图3(b)所示.图 3 面心立方Ce中的广义层错能和广义孪晶能 (a) α-Ce; (b) γ-Ce
Figure3. Generalized stacking fault energy and generalized twining fault energy curve for (a) α-Ce and (b) γ-Ce.
由此可得γ-Ce的非稳定层错能γusf = 0.543 J·m–2, 稳定层错能γssf = 0.457 J·m–2 (与Sheng等[22]利用EAM计算的结果相近); 而在α-Ce中γusf = 0.821 J·m–2, γssf = 0.734 J·m–2. 虽然此处的结果与?stlin等[37]的第一性原理计算结果相差较大, 但是对比α-Ce和γ-Ce两相的稳定层错能和非稳定层错能均满足γγsf < γαsf. Swygenhoven等[38]认为要了解FCC晶体变形的机制仅有非稳定层错能或者稳定层错能都是不全面的, 还应当比较稳定层错能与非稳定层错能的比值γssf/γusf. 该比值接近于1的时候倾向于越过整个势垒产生全位错; 反之若该比值较小则倾向于产生偏位错(作为参考, 在Al中该比值为0.97, 在Ni中为0.55, 在Cu中为0.13). 在γ-Ce中γssf/γusf = 0.842, α-Ce中γssf/γusf = 0.875, 数值较高, 与Al中的比值比较接近. 因此可以推测本文的EAM势在MD模拟的FCC结构Ce塑性变形中有可能观察到全位错产生.
除位错激活与滑移之外, 形变孪晶是FCC结构晶体的另一种形变机制. 由本文EAM势计算得出的非稳定孪晶能γutf, 在γ-Ce中γutf = 0.768 J·m–2, 在α-Ce中γutf = 1.167 J·m–2. Tadmor和Hai[39,40]发现形成形变孪晶的趋势与比值γutf/γusf相关, 该比值越高越不容易产生形变孪晶. 对于γ-Ce, γutf/γusf = 1.414; 对于α-Ce, γutf/γusf = 1.420, 均接近且高于其在Al中的比值(约1.3). 由此可推测利用本文EAM势进行MD模拟很难出现形变孪晶.
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3.3.晶格动力学
33.3.1.声子态密度和晶格振动熵
图4所示为温度T = 300 K条件下晶格常数分别等于4.89 ? (α-Ce, 压强约0.7 GPa)和 5.16 ? (γ-Ce, 零压)状态的声子态密度. 两相的态密度有显著差异: 1)“肩部”由1.21 THz (γ-Ce) 移动到了 1.43 THz (α-Ce); 2)后续增长的尖峰由1.81 THz (γ-Ce) 移动到了 2.31 THz (α-Ce); 3)再之后的峰由2.58 THz (γ-Ce)移动到了3.36 THz (α-Ce).图 4 面心立方Ce的声子态密度
Figure4. Phonon density of states for FCC Ce.
Ce的α-γ相变被认为是由熵驱动的, 也就是说熵在其中扮演重要位置. 利用图4中的态密度, 可以分别计算出两种状态的晶格振动的熵(如图5). 图5中右下角虚线图为两种状态的晶格振动熵的差值, 温度T = 300 K时的熵差为ΔSvib = 0.67kB/atom, 此与Jeong等[13]的结果(0.75 ± 0.15)kB/atom相近. 然而由于经典分子动力学模拟的特性, 无法给出电子结构自由度对熵的贡献, 在此对Ce的α-γ相变过程的经典分子动力学模拟中只能将固体系统的熵全部归于晶格振动自由度. 于是本文工作中分子动力学模拟的Ce的α-γ相变过程的总熵变等于晶格振动熵变, 即ΔS = ΔSvib = 0.67kB/atom (此值较实验值1.54kB/atom少约0.87 kB/atom).
图 5 α-Ce和γ-Ce两相的晶格振动熵Svib以及熵差ΔSvib (右下插图)随温度T的变化
Figure5. The vibrational entropy Svib and its change ΔSvib between two phases (the inset) plotted as functions of temperature.
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3.3.2.声子色散谱
利用声子色散曲线可以更严格地检验经验作用势. 图6所示为300 K温度条件下计算利用本文EAM计算所得α-Ce (a = 4.89 ?, 黑实线) 和γ-Ce (a = 5.16 ?, 蓝色点虚线) 的声子色散关系谱. 两相均有三支声学波, 其中一支为纵波, 另两支为横波. 之前的实验和理论研究中发现对于γ-Ce在 [ζζζ] 方向横波的L点处存在反常下沉(软模)[6,19,41]. 而本文计算中无论α-Ce还是γ-Ce均未找到此反常下沉.图 6 面心立方Ce的声子色散谱
Figure6. Phonon dispersion relations for FCC Ce.
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3.4.α-γ相变
利用本文中的EAM势并通过分子动力学模拟研究了Ce的α-γ相变. 对初始为FCC结构的Ce进行静水压(各向同性)加载, 计算所得的压强-体积等温线如图7(a)—图7(c)所示, 其中图7(a)和图7(b)的等温线由NPT系综分别增、减压强得出, 图7(c)的等温线由NVT系综弛豫得出. 如在温度为T = 300 K的条件下, 增大压强到0.80 GPa时发生相变, 体积突变减小2.68 ?3/atom; 反之, 减小压强到0.59 GPa时发生逆相变, 体积突变增大2.83 ?3/atom. 由此看出300 K温度条件下存在明显的(0.21 GPa)迟滞.当温度升高至约550 K时, 图7(a)和图7(b)中的等温线变为光滑曲线, 体积随压强连续变化. 对应图7(c)中的极小值点与极大值点重合于拐点处, 此时拐点的斜率为零. 当达到更高的温度, 如600, 700和800 K时, 拐点的斜率变为负值. 由此得出临界点温度Tc ≈ 550 K, 压强Pc ≈ 1.21 GPa. 根据图7(a)和图7(b)绘出的静水压加载下该相变的温度-压强相变路径如图8所示, 此可视为该相变的P-T相图.图 7 面心立方Ce的等温线 (a) NPT增压; (b) NPT减压; (c) NVT
Figure7. Isotherms of FCC Ce: (a) NPT, pressure increased; (b) NPT, pressure decreased; (c) NVT.
图 8 Ce的γ→α和α→γ相变路径
Figure8. The path of Ce γ→α and α→γ phase transition.
为了确认该相变否是为Ce的α-γ同构相变, 利用径向分布函数对相变前后的晶格结构进行了分析. 图9中比较了温度为300 K时不同压强加载下的径向分布函数: 零压加载下的前三个峰值对应的间距值分别为3.62, 5.16 和6.30 ?; 增压加载当压强增大至0.7 GPa (图7中A点所指状态) 时对应的这三个间距值分别为3.56, 5.06 和6.18 ?; 减压加载当压强降至0.7 GPa时 (图7中B点所指状态) 对应的这三个间距值分别为3.42, 4.89 和5.98 ?. 这三种不同加载情况下的径向分布函数均符合FCC结构的最近三阶近邻间距之间的关系. 于是可以认为相变前后的两相均为FCC结构, 以上模拟的相变正是Ce的α-γ同构相变, 其中晶格常数较大的一相对应于γ-Ce, 而晶格常数较小的一相对应于α-Ce. 也就是说, 本文的EAM势可以用于FCC结构Ce的α-γ同构相变的分子动力学模拟, 对α-γ同构相变进行多尺度的研究.
图 9 零压以及图7中A, B两点状态的径向分布函数
Figure9. Radial distribution function for zero pressure (black), the A state (red), and the B state (blue) pointed in Fig.7.