中文题目: 相干调制成像技术测量大口径光学元件复振幅透过率
作者: 陶华;潘兴臣;刘诚;朱健强;
来源图书: 第十六届全国光学测试学术交流会摘要集
年: 2016 页： "1"
会议名称: 第十六届全国光学测试学术交流会摘要集
中文关键词:
光学元件;相干调制;透过率;复振幅;干涉仪测量;相位板;变化梯度;高功率激光;透射光;衍射光;
中文摘要:
高功率激光驱动器中使用了大量的大口径光学元件,光学元件质量的好坏直接影响驱动器的整体性能,因此对于每块大口径光学元件都需要进行精确的测量与安装。传统的光学元件复振幅透过率测量是采用大口径干涉仪进行,但是对于某些特殊的元件,例如面型高度不规则的用于光束匀滑的连续分布相位板(CPP),由于其具有较大的相位变化梯度,实际中使用干涉仪测量难以进行。相干调制成像(CMI)技术是为了克服
文献类型: 会议论文
正文语种: chinese
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相干调制成像技术测量大口径光学元件复振幅透过率_上海光学精密机械研究所
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