中文题目: 基于相位调制法的光学元件检测新技术
作者: 潘兴臣;刘诚;朱健强;
来源图书: 第十六届全国光学测试学术交流会摘要集
年: 2016 页： "1"
会议名称: 第十六届全国光学测试学术交流会摘要集
中文关键词:
相位调制;光学元件;衍射光;波前;光强分布;相干调制;参考光;迭代算法;核心结构;瞬态;
中文摘要:
利用单幅衍射光斑和迭代算法,基于相位调制的相干调制成像技术可是实现对波前振幅和相位信息的同时重构,因此除用于CCD曝光时间量级的准瞬态成像外,还可以用于波前检测和光学元件测量,作为一种非干涉元件检测技术,由于只需要记录一幅衍射光斑的光强分布,不需要参考光,核心结构可和CCD体积相比拟,对环境稳定
文献类型: 会议论文
正文语种: chinese
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基于相位调制法的光学元件检测新技术_上海光学精密机械研究所
上海光学精密机械研究所 免费考研网/2018-05-06
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