金属硅化物及纳米硅薄膜的研究
文献类型 | 学位 |
作者 | 王金良[1] |
机构 | 北京航空航天大学 ↓ |
授予学位 | 博士 |
年度 | 2000 |
学位授予单位 | 北京航空航天大学 |
语言 | 中文 |
关键词 | 硅基;金属硅化物 |
摘要 | 该研究课题的主要目的就是对Si基底上蒸发的Cr、Fe、Mn薄膜进行热处理,用固相反应法(SPR)作成过渡金属硅化物薄膜.通过X射线衍射线衍射法(XRD)和软X射线发射光谱法(SXES)对它们进行了表征,发现这些过渡金属在Si基底上都形成了单一相的、均匀的硅化物薄膜.进而又用软X射线发射光谱法对这些硅化物的价电子结构进行了研究,发现这些硅化物 与Si晶体的软X射线Si-L<,2,3>和Si-K<,β>发射谱具有不同的形状. |
影响因子:
dc:title:金属硅化物及纳米硅薄膜的研究
dc:creator:王金良
dc:date: publishDate:1753-01-01
dc:type:学位
dc:format: Media:北京航空航天大学
dc:identifier: LnterrelatedLiterature:北京航空航天大学.2000.
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dc: identifier:ISBN: