紧缩场设计,检测与应用研究
| 文献类型 | 学位 |
| 作者 | 全绍辉[1] |
| 机构 | 北京航空航天大学 ↓ |
| 授予学位 | 博士 |
| 年度 | 2003 |
| 学位授予单位 | 北京航空航天大学 |
| 语言 | 中文 |
| 关键词 | 紧缩天线测试场;紧缩场;卷积积分法;相似理论;平面波谱;谱;一维成像;误差模型;幅相测量系统 |
| 摘要 | 本论文在反射面式紧缩场的电气设计、检测、应用技术和理论方面开展深入研究,并取得了较大进展.紧缩场可以在近距离上提供一个性能优良的准平面波,从而满足天线测量和RCS测量的远场条件.目前,在常规微波频段,反射面式紧缩场是应用最普遍的紧缩场类型,其研制涉及到高精度面板制造、电气设计、精密机械装调和定位等多个学科领域的尖端技术.紧缩场机械安装、调整结束后,还需要对其电气性能进行检测和评估,因而要求掌握幅相测量系统的研制和集成、干扰波的分析和排除等技术和理论.这也是与紧缩场应用密切相关的一个环节.在紧缩场应用中,由于其本身并不能提供理想平面波,如何能在已有的紧缩场测量环境下获得最佳测量结果,以及如何根据已知静区场特性分析、评估测量误差,是众多用户非常关心的问题.在上述工程背景和实际需求下,开展对紧缩场设计、检测、应用等领域的整体理论和技术研究已经成为紧缩场技术的发展趋势,这也是本课题产题的初衷.在电气设计中,本论文对电气设计中的主要问题和方法进行了研究,包括静区场计算方法、口面场优化设计理论、边齿设计等.基于卷积积分法和口径场连续锥削公式,提出了一种新型曲边齿设计方法,并给出了仿真计算结果. |
影响因子：
dc:title:紧缩场设计,检测与应用研究
dc:creator:全绍辉
dc:date: publishDate:1753-01-01
dc:type:学位
dc:format: Media：北京航空航天大学
dc:identifier: LnterrelatedLiterature：北京航空航天大学.2003.
dc:identifier:DOI：
dc: identifier:ISBN:
