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应用相关性模型的测试性设计分析

文献类型	会议
作者	刘艳[1];赵廷弟[2]
机构	[1]北京航空航天大学工程系统工程系(北京 [2]北京航空航天大学工程系统工程系(北京 ↓
会议论文集	航空可靠性工程进展暨可靠性工程专业委员会第9届学术年会论文集
来源信息	年:2003页码范围:231-236
会议信息	中国航空学会可靠性专业委员会学术年会ISSN:
关键词	测试性;测试点;故障诊断;相关性模型;电路板;航空电子设备;系统工程
摘要	利用相关性模型的方法,对一个电路板进行了测试性设计及分析.通过对电路进行功能与结构的划分,建立了电路的相关性模型,优选测试点,并确定出优化的故障诊断策略.通过与原有测试性设计的比较,说明相关性模型法能够以较少的平均测试步骤对电路进行故障的检测与隔离.
所属部门	可靠性与系统工程学院
全文链接	http://d.g.wanfangdata.com.cn/Conference_5302748.aspx
会议地点	井冈山
会议开始日期	2003-08-01

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院机关赵廷弟

dc:title:应用相关性模型的测试性设计分析
dc:creator:刘艳;赵廷弟
dc:date: publishDate:2003-08-01
dc:type:会议
dc:format: Media：中国航空学会可靠性专业委员会学术年会
dc:identifier: LnterrelatedLiterature：中国航空学会可靠性专业委员会学术年会.2003,231-236.
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dc: identifier:ISBN: