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可靠性分析在新产品研制开发中的作用

文献类型	会议
作者	赵和义[1];蔡懿[2]
机构	[1]北京航空航天大学 [2]信息产业部电子5所 ↓
会议论文集	2003第十届全国可靠性物理学术讨论会论文集
来源信息	年:2003页码范围:195-198
会议信息	2003第十届全国可靠性物理学术讨论会ISSN:
关键词	失效模式;失效机理;可靠性分析;产品研制;技术指标;质量验证;电子元件
摘要	文章主要围绕产品开发的特点,提出了可靠性分析在研制开发过程的重要作用和工作程序,将以往研制开发工作中单纯追求产品仿造转换为失效模式分析与失效机理分析相结合,技术指标与质量验证相结合的工作模式,不仅改进和提升了研制开发工作模式,而且保证了产品的可靠性,其目的是确保研制开发产品达到预定的技术指标.由于这种工作模式从根本上确保质量达标,因此可以固化为标准的方法,应用在所有的新产品开发工作中.
全文链接	http://d.g.wanfangdata.com.cn/Conference_5205578.aspx
会议地点	西宁
会议开始日期	2003-09-01

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dc:title:可靠性分析在新产品研制开发中的作用
dc:creator:赵和义;蔡懿
dc:date: publishDate:2003-09-01
dc:type:会议
dc:format: Media：2003第十届全国可靠性物理学术讨论会
dc:identifier: LnterrelatedLiterature：2003第十届全国可靠性物理学术讨论会.2003,195-198.
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dc: identifier:ISBN: