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一种IC测试系统的可靠性分析与改进设计

外文标题	IC Testing System Reliability Analysis and Improving Design
文献类型	期刊
作者	Cai, Rengang[1];Dai, Cizhuang[2];Tu, Zezhong[3]
机构	[1]Beijing Univ of Aeronautics and, Astronautics, Beijing, China [2]Beijing Univ of Aeronautics and, Astronautics, Beijing, China [3]Beijing Univ of Aeronautics and, Astronautics, Beijing, China ↓
通讯作者	Cai, Rengang
来源信息	年:1999卷:25期:1页码范围:117-120
期刊信息	北京航空航天大学学报ISSN:1001-5965
关键词	集成电路;测量系统;可靠性;在线仿真;程序移植
摘要	美国GR系列IC测试系统采用磁带机作为系统程序的输入设备, 由于磁带机故障率较高, 因此使用中经常发生程序输入失败的现象,严重影响了该测试系统的可靠性. 本文在对GR1732M型测试系统的组成结构进行深入分析的基础上, 应用在线仿真器对主处理器进行实时仿真, 跟踪了引导程序的执行流程和系统磁带的输入过程, 提出用PC微机代替磁带机, 通过RS-232串行接口传送所有软件.本文详细阐述了改进设计方法, 改进成功后提高了系统的可靠性和工作效率. 本文所采用的可靠性分析方法和对系统软件进行在线仿真跟踪的分析技术适用于各种微机测试系统的硬件和软件分析.
收录情况	EI(1999414768258)PKUCSCD
链接地址	http://d.g.wanfangdata.com.cn/Periodical_bjhkhtdxxb199901031.aspx
DOI	10.3969/j.issn.1001-5965.1999.01.031

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dc:title:一种IC测试系统的可靠性分析与改进设计
dc:creator:蔡仁钢;戴慈庄;涂泽中
dc:date: publishDate:1999-02-28
dc:type:期刊
dc:format: Media：北京航空航天大学学报
dc:identifier: LnterrelatedLiterature：北京航空航天大学学报.1999,117-120.
dc:identifier:DOI：10.3969/j.issn.1001-5965.1999.01.031
dc: identifier:ISBN:1001-5965