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一种空间圆几何参数的视觉测量方法

文献类型	专利
发明人	周富强[1];张广军[2]
机构	北京航空航天大学 ↓
申请人	北京航空航天大学
专利类型	发明专利
年度	2003
专利申请日期	2003-06-11
专利公开日期	2005-01-19
专利公开号	CN1566900
专利申请号	CN03142659.X
国家或地区	北京
摘要	本发明属于测量技术领域，涉及对空间圆几何参数非接触测量方法的改进。本发明基于立体视觉的空间圆多几何参数的非接触高精度同时测量方法，利用极线约束求出圆边缘的实际三维空间坐标，采用基于空间圆最优拟合求取空间圆几何参数。本发明方法减小了空间圆透视投影形状畸变引起的测量误差，提高了基于视觉方法的圆几何参数的测量精度。当被测空间圆所在平面与摄像机图像平面成角度大于50°时，空间圆几何中心测量的3σ重复性精度优于±0.01mm。

影响因子：


测控与信息技术系周富强
仪器科学与光电工程学院张广军

dc:title:一种空间圆几何参数的视觉测量方法
dc:creator:周富强;张广军
dc:date: publishDate:2003-06-11
dc:type:专利
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dc:identifier: LnterrelatedLiterature：2003.
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dc: identifier:ISBN: