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基于故障信息矩阵的测试点优选方法

文献类型	会议
作者	周惠艳[1];石景波[2]
机构	[1]北京航空航天大学自动化科学与电器工程学院(北京 [2]北京航空航天大学自动化科学与电器工程学院(北京 ↓
会议论文集	中国航空学会控制与应用第十届学术年会论文集
来源信息	年:2002页码范围:603-607
会议信息	中国航空学会控制与应用第十届学术年会ISSN:
关键词	数字电路;故障诊断;测试点;故障信息矩阵
摘要	本文介绍了在某型飞机ATE系统设计的电路板级测试中,针对某实际电路的特征提出了一种基于故障信息矩阵的测试点优选方法,该测试点优选法对于数字电路故障诊断中的测试点优选有一定借鉴意义.
全文链接	http://d.g.wanfangdata.com.cn/Conference_3512796.aspx
会议地点	沈阳
会议开始日期	2002-08-01

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dc:title:基于故障信息矩阵的测试点优选方法
dc:creator:周惠艳;石景波
dc:date: publishDate:2002-08-01
dc:type:会议
dc:format: Media：中国航空学会控制与应用第十届学术年会
dc:identifier: LnterrelatedLiterature：中国航空学会控制与应用第十届学术年会.2002,603-607.
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