高岩，申立勇

中国科学院大学数学科学学院, 北京 100049

出版日期:2021-05-25发布日期:2021-08-12

Screen Defect Detection Based on Edge Detection

GAO Yan, SHEN Liyong

School of Mathematical Sciences, University of Chinese Academy of Sciences, Beijing 100049

Online:2021-05-25Published:2021-08-12







摘要
图/表
参考文献
相关文章
编辑推荐
-->Metrics
本文评论

在电子屏幕的生产中, 缺陷检测是生产线中重要一环. 目前很多生产线仍然通过人工观察的方式, 其结果依赖人工经验而不稳定, 且生产成本高, 因而人工检测需通过机器智能技术替换. 针对工业生产中要求简单可靠、准确实时, 且需快速应用于新生产线的特点, 文章设计了一种基于图像处理的屏幕缺陷检测算法. 基于新的边缘检测算法,通过比较正常区域与有缺陷区域之间图像的灰度差异来检测缺陷部位,进而对屏幕中不同类型的缺陷进行高效准确的定位.
分享此文:

()

No related articles found!

-->

PDF全文下载地址:

http://sysmath.com/jweb_xtkxysx/CN/article/downloadArticleFile.do?attachType=PDF&id=14226