王红 副教授
自动化系副主任
通信地址：北京清华大学自动化系 邮政编码：100084
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Email：wang_hong@tsinghua.edu.cn


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教育背景

1988年9月-1992年7月 天津大学 自动化系 获工业自动化专业和经济学专业双学士学位
1992年9月-1995年3月 天津大学 自动化系 获工业自动化专业硕士学位
2000年9月-2005年12月 清华大学 自动化系在职攻读博士 获工学博士学位

工作履历

2004年4月-2004年10月 美国麻省理工学院 电气与计算机科学系 访问
1995年4月-至今 清华大学 自动化系 任教
1995年4月-1997年7月 清华大学 自动化系 助教
1997年7月-2006年12月 清华大学 自动化系 讲师
2006年12月-至今 清华大学 自动化系 副教授


学术兼职

华北电子技术教学研究会 理事
中国计算机学会容错计算专业委员会委员

研究领域

[1] 电子电路可靠性设计
数字、模拟电路设计，鲁棒性电路系统设计
[2] 电子系统和设备的测试与故障诊断
测试技术，测试理论和自动测试设备
[3] 仪器仪表技术
高精度仪器仪表设计，工业级测量仪器

奖励与荣誉

2008年 获“霍英东教育基金会第十一届高等院校青年教师奖”，自然科学类三等奖
2008年 教材“数字电子技术基础”获清华大学优秀教材特等奖（排名第2）
2008年 获清华大学先进个人奖
2007年 项目“模拟电路测试向量自动生成平台”获中国人民解放军总装备部颁发的军队科技进步二等奖（排名第4）
2006年 项目“数字电路板故障诊断测试集自动测试系统”获得中国人民解放军总装备部颁发的军队科技进步一等奖（排名第4）
2005年 项目“数字电路板故障诊断测试集自动测试系统”获国防科工委颁发的“国防科学技术进步三等奖”（排名第3）
2005年 获“清华大学青年教师教学优秀奖”
2004年 获“清华大学教学成果优秀奖”
2004年 获“首届清华大学青年教师基本功大赛”一等奖

学术成果

主要论著
[1] 胡庚，王红，杨士元. 非线性模拟电路的故障诊断方法. 计算机辅助设计与图形学报，2009, Vol.21,No.1,1-5
[2] Hu Geng, Wang Hong, Yang Shiyuan. Combined Self-Test of Analog Portion and ADCs in Integrated Mixed-Signal Circuits. IEICE Trans. on Information and System, 2008, Vol.E91_D, No.8, August,2134-2140
[3] 胡梅，王红，杨士元，胡庚. 基于电压增量的非线性模拟电路软故障诊断. 系统工程与电子技术, 2008, Vol.30, No.2,379-383 Reliability, 46(2006), p1199-1208
[4] 成本茂，王红，杨士元，牛道恒，靳洋. 基于可测性分析的高层次寄存器分配算法.东南大学学报（自然科学版）2008, Vol.38, No.3, 396-400
[5] 牛道恒，王红，杨士元. 序列对递增生成的SOC测试调度算法. 北京邮电大学学报, 2007, 10, Vol.30, No.5,19-23
[6] Niu Daoheng, Wang Hong, Yang Shiyuan. Relation-Matrix approach for sequence pair decoding. Journal of Information and Computational Science, 2007, 7, Vol.4, No.2,643-650
[7] Niu Daoheng, Wang Hong, Yang Shiyuan. Re-Optimization Algorithm for SoC Wrapper-Chain Balance Using Mean-Value Approximation. Tsinghua Science and Technology, Vol.12, No.S1, July 2007,61-66
[8] Hu Mei, Wang Hong, Hu Geng, Yang Shiyuan. Soft Fault Diagnosis for Analog Circuits Based on Slope Fault Feature and BP Neural Networks. Tsinghua Science and Technology, Vol.12, No.S1, July 2007,26-31
[9] 邢建辉，王红，杨士元，成本茂. 构造SoC级透明路径的0-1规划方法.清华大学学报（自然科学版），2007,01,Vol.47,No.1，147-149,153
[10] 王红，成本茂，杨士元. 一种非同步时序电路的测试生成方案. 电子科技大学学报，2007,Vo1.36,No.4, 733-736
[11] Xing Jian-hui, Wang Hong, Yang Shi-yuan. Constructing Transparency Paths for IP Cores Using Greedy Search. Microelectronics Reliability，2006, Vol.46, No.7, 1199-1208
[12] 吴超, 王红, 杨士元. SoC测试集成的研究环境构建. 计算机辅助设计与图形学学报，2006, Vo1.18,No.7, 988-993
[13] 吴超，王红，杨士元. 基于复用的SOC测试集成和IEEE P1500标准. 微电子学，2005，35(3), 240-245
[14] Wang Hong, Xing Jian-hui,Yang Shi-yuan. A Test generation Approach For Non-Synchronous Sequential Circuit.In Proc. Of 7th Electronic Measurement & Instruments，2005, Vol.1, 475-480
[15] Xing Jian-hui, Wang Hong, Yang Shi-yuan. Constructing Transparency Paths for IP Cores Using Greedy Searching Strategy. In Proc.of IEEE Asian Test Symposium, Taiwan, Nov. 2004, 14-19
[16] 王红，邢建辉，杨士元. 基于复用的SOC测试技术. 半导体技术，2004，29(5), 49-51
[17] Xing Jian-hui, Wang Hong, Yang Shi-yuan. On Measuring the Transparentability of Cores in Core-based ICs. In Proc.of 5th International Conference on ASIC, April. 2003, 1145-1150
[18] 王红，邢建辉，杨士元. 基于复用的SOC测试技术. 半导体技术，Vol.29, No.5,pp49-51
[19] 薛月菊，王红，杨士元等. 数字电路的层次化测试生成新趋势. 哈尔滨工业大学学报，2003，Vol.35, No.11, 1281-1284