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基于原子力显微技术的分子间相互作用的实空间观测研究
外文标题：Real-Space Identification of Intermolecular Bonding Using Atomic Force Microscopy
文献类型：期刊
作者：裘晓辉^[1]程志海^[2]季威^[3]
机构： 中国科学院纳米标准与检测重点实验室, 中国科学院纳米标准与检测重点实验室;;国家纳米科学中心, 北京 100190, 中国; 中国人民大学物理系, 北京 100872, 中国

年：2013
期刊名称：中国科学基金
卷：27
期：6
页码范围：370-372
增刊：增刊
收录情况：中文核心期刊要目总览中国科技核心期刊CSCD(CSCD:5008186)
语言：中文
ISSN：1000-8217
人气指数：1
浏览次数：1
关键词：非接触式原子力显微术; qPlus型力传感器; 分子间相互作用; 氢键
摘要：先进的纳米表征技术有力地推动了对微观物质世界的研究和探索。例如，扫描探针显微分析技术，尤其是扫描隧道显微术(Scanning Tunneling Mi croscopy, STM)和原子力显微术！( Atomic Force Microscopy, AFM)赋予了科研人员在实空间看见原子和分子的能力，逐渐成为在原子和分子尺度对材料结构和性质研究的一种关键实验方法。近年来，非接触式原子力显微术 (Noncontact AFM， NC AFM)发展迅速。2009年，IBM公司的研究人员利用这一技术清晰分辨了并五苯分子内的组成原子和共价化学键，实现了对分子化学结构的直观成像，这一 结果预示了可在单分子层次上进行化学识别的能力。
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