Key Laboratory of Advanced Optoelectronic Quantum Architecture and Measurement, Micronano Centre, Beijing Key Laboratory of Nanophotonics and Ultrafine Optoelectronic Systems, School of Physics, Beijing Institute of Technology, Beijing 100081, China
Fund Project:Project supported by the National Natural Science Foundation of China (Grant No. 11674024)
Received Date:13 July 2019
Accepted Date:05 September 2019
Available Online:01 November 2019
Published Online:20 November 2019
Abstract:HgTe/CdTe quantum well is a typical two dimensional topological material which supports the helical edge states and quantum spin Hall effect that is imposing in applying of spin electronic devices. The special plateau valued with $0.25\;h/e^{2}$ of nonlocal resistance in H-shaped four terminal devices can be used as the fingerprint of quantum spin Hall effect. Based on the HgTe/CdTe quantum well, with the aid of nonequilibrium Green's function theory and multi-terminal Landauer-Büttiker formula, we calculate the nonlocal resistance and study the dephasing effect of spin topological states in the presence of exchange field and external magnetic field. It is found the dephasing processes play a role completely different from exchange field and external magnetic field. The latter destroy time reversal symmetry and change the width and relative position of topological gap, but do not influent the topological stability of helical edge states. In the contrary, dephasing processes don't change the width and relative position, however, they broke the topological stability. We consider two kinds of dephasing: normal dephasing and spin dephasing. In the first kind, the carriers lose only the phase memory while maintaining the spin memory. In the second kind, the carriers lose both phase and spin memories. Because of the spin locking properties, normal dephasing almost have no influence on the helical edge states. While the spin dephasing will induce spin flip backscattering and finally destroy helical edge states seriously. Keywords:quantum transport/ quantum spin Hall/ nonlocal resistance/ dephasing
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--> --> --> 1.引 言拓扑绝缘体是近些年被科研领域大量研究的量子材料, 具有许多独特的物理特性[1-5],最先被发现的二维拓扑绝缘体材料是HgTe/CdTe量子阱[6,7]. HgTe/CdTe量子阱的拓扑能隙源于$ \varGamma $点的能带反转, 通过调节量子阱的宽度或调节外偏压[7,8]可以实现此能带反转. 由于具有时间反演对称性, 带隙内存在两套能量完全简并且自旋和手性都相反的边缘态, 称之为螺旋边缘态. 之后, 科研人员又陆续发现了其他的二维拓扑绝缘体材料[9,10]. 与此同时, 三维拓扑绝缘体材料的研究也取得了巨大进展, Hsieh等[11]实验证实了$ {\rm{B}}{{\rm{i}}_{1 - {{x}}}}{\rm{S}}{{\rm{b}}_{{x}}} $合金材料在 合适的组分比例下是三维拓扑绝缘体, $ {\rm{B}}{{\rm{i}}_2}{\rm{S}}{{\rm{e}}_3} $家族[12]也被证明是很好的三维拓扑绝缘体. 三维拓扑绝缘体的表面态有独特的量子涨落平台[13], 适当的磁性掺杂不仅在三维拓扑绝缘体表面态打开带隙, 而且可以加强带隙内的拓扑边缘态的稳定性[14,15]. 随着大量的拓扑绝缘体材料被发现, 对二维拓扑绝缘体的边缘态的研究也越来越受到大家的关注, 这些研究包括边缘态的穿透深度[16], 特殊的环状边缘态[17]强磁性掺杂引起的反常霍尔效应[10,18], Rashba自旋轨道相互作用[19,20]、p-n结[21]、长程库仑相互作用[22,23]、热耗散[24]、电磁噪声[25]和有限尺寸效应[26-28]对边缘态的影响, 等等. 基于螺旋边缘态, 还可以设计一些独特的自旋器件[29,30]. 按照陈数分类, 拓扑边缘态可以大致分为$ C = 0 $的受时间反演对称性保护的螺旋边缘态和$ C\ne0 $的破坏时间反演对称性的手性边缘态, 分别对应量子自旋霍尔效应和量子(反常)霍尔效应[31,32]. 通常由强磁场引起的多带隙手性边缘态和量子反常霍尔效应的边缘态都属于$ C\ne0 $的手性边缘态, 这类物质体系统称为磁拓扑绝缘体. 量子自旋霍尔效应中的螺旋边缘态不同于强磁场引起的多带隙手性边缘态, 也不同于量子反常霍尔效应中的单带隙边缘态. 后两者由于带隙结构不同, 边缘态的两参数流图的形态也不尽相同[33], 但是由于手性确定, 它们的非局域量子化平台却完全相同. 非局域电信号通常被当作各种霍尔效应的指征[34-38]. 在多端口体系中, 电压测量端的导线会接收到来自所有其他端口的载流子, 因此它自身的费米能也由所有其他端口共同决定. 对于量子霍尔体系, 边缘态手性固定, 所有电压测量端的非平衡载流子都只有一个来源, 即源自电流输入端口或输出端口. 实验上通常用六端口或“十”字形四端口体系的横向非局域电阻的量子化平台来标记手性边缘态, 并由电阻平台的精细程度来判定边缘态质量的好坏. 螺旋边缘态相当于两套手性相反的手性边缘态的叠加, 不同的手性对应不同的自旋, 但在实验上无法对自旋标记的态进行精准测量, 故无法用传统的六端口或“十”字形四端口体系来测定不同自旋对应的量子化平台. 对于量子自旋霍尔体系, 电压测量端能且只能接收到来自相邻两侧端口的非平衡载流子, 由于边缘态总手性为零, 故从电流端入口沿样品边缘到电流端出口, 无论沿顺时针还是逆时针方向, 测量端电压都将线性降落[39]. 为了能够简单有效地表征螺旋边缘态, 尽量让所有的电压测量端都位于电流端的同一侧. 通过相关实验[40]和理论[19]证明, 如图1所示的“工”字型四端口体系最为简单有效. 在“工”字型四端口体系中, 同侧纵向非局域电阻将呈现电阻值为$0.25\;h/e^{2} $的特殊量子化平台[40]. 图 1 (a) 四端口HgTe/CdTe量子阱模型, 其中1、4端口为电流输入端口, 2、3端口为电压测量端口. 图中蓝色和绿色区域分别由两个独立的门电压控制, 通过调节门电压, 两个区域可分别独立地在图(b)中所示的三个区间自由切换; (b) HgTe/CdTe量子阱二维系统的能带结构, 包含简并的螺旋边缘态和明显不对称的价带和导带. 体带隙分割出三个区域: 量子自旋霍尔区(QSH), n型自旋霍尔区(n-SH)和p型自旋霍尔区(n-SH) Figure1. (a) Four-terminal device based on HgTe/CdTe quantum well with two current terminals 1, 4 and two voltage terminals 2, 3; the blue region and green region can be independently tuned into the three region shown in panel (b); (b) band structure of 2 D HgTe/CdTe quantum well. Bulk energy gap divides three region: QSH region, n-SH region and p-SH region.
首先考虑磁交换场为零的情况. 如图5(a)所示, 随着外磁场逐渐增大, 自旋向上和自旋向下的载流子分别形成高度简并的朗道能级, 但是最接近狄拉克点的两个朗道能级始终由自旋向下的电子和自旋向上的空穴贡献, 由此形成的带隙区别于其他所有带隙, 定义为第零带隙. 第零带隙中的边缘态自旋相反, 手性也相反, 属于量子自旋霍尔效应区. 磁场不断增大, 第零带隙及相应的量子自旋霍尔效应区逐渐减小, 直到最后消失. 磁场继续增大, 体系拓扑陈数发生突变, 带隙重新打开, 形成绝缘带隙(图5(a5)), 带隙内无边缘态, 总电导为零. 图6顶栏给出带隙减小、闭合、再打开的简单示意图. 值得注意的是, 由于自旋向下的边缘态在动量空间远离体态, 因此, 即便在强磁场作用下, 与此边缘态相联系的体态带边在带隙减小、闭合、再打开的整个过程中基本保持不变(图5(a1)—图5(a5)). 图 6 零磁交换场和非零磁交换场能带随外磁场的演化趋势示意图 Figure6. Schematic diagram of the developing tendency of band structure in the presence of magnetic field for the zero exchange field (top panels) and nonzero exchange field (bottom panels).
在此基础上, 接着考虑磁交换作用的影响(图5(b)栏). 不考虑Rashba自旋轨道耦合, 自旋向上和自旋向下的载流子无耦合, 磁交换的作用仅限于让不同自旋的能带向相反的方向平移. 如图5(b1)所示, 在磁场较小的情况下, 朗道能级简并度和带隙都比较低, 可看作准连续能带. 零交换场下, 第零带隙的带边由自旋向下的电子(红色导带)和自旋向上的空穴(蓝色价带)贡献, 在磁交换场作用下, 这两个带边均向远离狄拉克点的方向平移. 与此相反, 零交换场下埋在体能带内的由自旋向下的空穴(红色价带)和自旋向上的电子(蓝色导带)的带边在磁交换场作用下向带隙内平移, 形成新的拓扑带边, 直接导致拓扑带隙变窄(和零交换场图5(a1)比较). 随着磁场不断增大, 价带和导带的体态高度简并, 朗道带隙增大, 如图5(b2)所示, 一旦第一朗道带隙超过磁交换场($ \varDelta_{\pm 1}\geqslant M $), 拓扑带隙将重新由自旋向下的电子和自旋向上的空穴构成的反带带边界定. 这两个带边在磁交换作用下, 均向远离带隙的方向平移, 导致拓扑带隙变大, 通过比较图5(a3)和图5(b3)可以清楚地看到这一点. 也正因为如此, 在非零交换场作用下, 带隙闭合需要更大的外磁场. 图6底栏给出非零交换场作用下, 带隙随磁场的演化情况, 虚线表示图5尚未画出的更强的磁场作用的情况. 同样, 由于自旋向下的边缘态在动量空间远离体态, 与此边缘态相联系的体态带边在带隙闭合再打开的整个过程中基本保持不变(图5(b1)—图5(b5)). 图7和图8分别给出了普通退相干和自旋退相干作用下, 纵向非局域电阻$ R_{23, 14} $随入射端能量$ E_1 $的变化. 其中, 左右两栏分别表示零交换场和非零交换场的曲线, (a)栏和(b)栏分别对应磁场$ B = 0.64 {\rm{T}}$和$ B = 3.2 {\rm{T}}$的情况, (a)栏中的灰色区域标记零磁场下的拓扑带隙宽度. 对比灰色区域及(a), (b)两栏可以看出, 零交换场条件下, 第零拓扑带隙随磁场增加不断减小, 直至完全关闭; 而非零交换场情况下, 第零带隙先增大再减小直至完全关闭, 这和图5和图6的能带分析是一致的. 事实上, 通过比较图7和图8的左右两栏可以发现, 交换场只能调节各个区间的相对分布, 对边缘态的性质并无实质影响. 而磁场则会引起边缘态的转变, 比如, 从螺旋边缘态转变成手性边缘态, 非局域电阻阻值的变化可以清楚地反应这种转变. 如前所述, 在强磁场作用下, 第零带隙关闭之前, 带隙内只有螺旋边缘态, 对应非局域纵向电阻$ R_{23, 14} = 0.25 $$ h/e^{2} $. 导带的第一带隙内只有手性边缘态, 相应的非局域纵向电阻$ R_{23, 14} = 0 $. 价带的朗道能级还未形成, 非局域电阻$ R_{23, 14} $不固定, 既非零也非量子化阻值. 图 7 普通退相干和磁场作用下, 纵向非局域电阻$R_{23, 14}$随入射端能量$E_1$的变化. 左栏: 零磁交换场; 右栏: 非零磁交换场. 上下两栏共享图例 Figure7.$R_{23, 14}$ vs energy $E_1$ for different normal dephasing strength $\varGamma_{\rm d}$ with (right panels) or without (left panels) exchange field. The gray region signs the energy gap in zero magnetic field.
图 8 自旋退相干作用下的纵向非局域电阻, 其余参数设置同图7 Figure8.$R_{23, 14}$ vs energy $E_1$, the dephasing precesses are spin non-conserved. The other parameters are the same as Fig. 7