1) 光的干涉:普通光源的发光机制与获得相干光的方法;光程与等光程性;杨氏干涉及其变形;薄膜干涉(等倾干涉和等厚干涉、牛顿环);迈克尔逊干涉仪和相干长度。
2) 光的衍射:惠更斯——菲涅尔原理;菲涅尔半波带法和夫琅和费单缝衍射;光学仪器的分辨本领;光栅衍射;X射线衍射。
3) 光的偏振:自然光和偏振光;起偏与检偏,马吕斯定律;反射起偏,布儒斯特定律;双折射现象,惠更斯原理在双折射中的应用;波晶片;椭圆偏振光和圆偏振光的获得;偏振光的干涉。
6、 近代物理学
1) 狭义相对论基础:伽利略变换与力学相对性原理;狭义相对论的两个基本假设;同时的相对性;时间膨胀和长度收缩;洛仑兹变换;相对论质量、相对论能量。
2) 量子物理基础:黑体辐射与普朗克假设;爱因斯坦光子论,光电效应和康普顿效应;氢原子光谱与和玻尔理论;德布罗意假设,电子衍射实验,波粒二象性;波函数的统计解释,不确定关系;薛定谔方程,一维势阱;电子自旋,四个量子数;泡利不相容原理,原子的壳层结构。
三、 试卷结构
1、 考试时间3小时,满分150分;
2、 题目类型:选择题、填空题、计算题、证明题、作图题。
806电磁场理论
一、 考试要求
准确掌握场与波的基本定律、定理,重要概念、重要公式的物理意义及其应用。熟练掌握场与波中基本参量的计算方法。对简单的典型的场的问题,应具有一定的综合分析、计算能力。
二、 考试内容
1、 静态场部分(含静电场、恒流磁场、恒定电场三章)
1) 关于场的两个基本性质(旋度性质及散度性质)
·物理意义
·基本方程------两个基本性质的数学描述
·基本方程的应用
2) 边界条件及其应用
3) 位函数A、Φ 的引入及其应用
4) 电场及磁场能量
5) 简单、典型系统的电感、电容、电阻的分析计算
2、 静态场边值型问题的解法
1) 拉普拉斯方程、唯一性定理
2) 直接积分法求解一维场
3) 分离变量法求解直角座标、圆柱座标中的二维场
4) 平面镜像、球面镜像、介质镜像
3、 交变电磁场、平面波
1) 麦克斯韦方程、波动方程、坡印廷定理的意义及应用
2) 边界条件及其应用
3) 极化(偏振)以及极化的分解、合成
4) 理想介质及良导体中平面波参量的分析、计算
5) 趋肤效应的概念及表面阻抗的分析计算。
4、 波的反射、折射
1) TEM波斜射到介质分界面时入射、反射、折射波的表示式及其参量
2) 反射定律、折射定律及其应用
3) 临界角θc、布儒斯特角θB、费涅尔公式(R.、T的表示式)的定义及分析方法
4) TEM波垂直入射时R、T的分析、计算
5、 规则波导(矩形波导)
1) 矩形波导中TE、TM波的波动方程的解
2) 波导模式的参量
3) TE10 模的场量表示式及TE10 模参量
6、 电磁波辐射(电偶极子Idl)
1) 由矢量磁位A求电偶极子的电磁场
2) 近区场、远区场的划分及其特点
3) 利用远区场求电偶极子的参量
4) 电偶极子的镜像及其远区电磁场
三、 试卷结构
1、 考试时间为3小时,满分150分;
2、 题目类型:约9道题,分为:(1)问答题 (2)概念分析、判断题(3)计算题。
808理论力学
一、 考试要求
要求考生系统地掌握经典力学的基本理论和基本方法,并善于应用这些理论和方法,具有较强的分析问题与解决问题能力。
二、 考试内容
1、 约束和约束力,受力分析和受力图。
2、 平面汇交力系合成与平衡的几何法,力对点的矩,平面力偶、力偶系平衡条件。
3、 平面任意力系的简化、平衡方程、物体系的平衡。
4、 空间汇交力系、力对点及对轴的矩、空间力偶、空间力系简化、平衡方程。
5、 滑动摩擦、摩擦角及自锁、考虑摩擦时物体的平衡。
6、 描述点运动的矢量法、直角坐标法、自然法。
7、 刚体定轴转动内各点的速度、加速度。用矢量表达的角速度、角加速度,用矢积表达的点的速度和加速度。
8、 三种运动,点的速度合成定理、加速度合成定理、科氏加速度。
9、 刚体平面运动中求各点速度和加速度的基点法、瞬心法、加速度的基点法、运动学的综合应用。
10、 质点动力学基本定律、运动微分方程。
11、 动量、动量定理、质心运动定理。
12、 动量矩、动量矩定理、定轴转动微分方程、转动惯量、质点系相对质心的动量矩定理、刚体平面运动微分方程。
13、 功、动能、动能定理、功率方程、势能、普遍定理的综合应用。
14、 惯性力、达朗贝尔原理、惯性力系的简化、轴承动约束力。
15、 虚位移、虚功、虚位移原理。
16、 非惯性力系中质点动力学基本方程及动能定理。
17、 碰撞问题的简化、基本定理、恢复系数、撞击中心。
18、 自由度、广义坐标、广义力、动力学普遍方程。第二类拉格朗日方程及初积分。
19、 单自由度系统的振动、固有频率、有阻尼的受迫振动、转子的临界转速、隔振、二个自由度系统的振动。
三、 试卷结构
1、 考试时间3小时,满分150分;
2、 题目类型:计算题。
809光学
一、 考试要求
要求考生系统地掌握光学的基本概念与原理,并能灵活运用,具有较强的分析问题与解决问题能力。
二、 考试内容
1、 几何光学基本定律,薄透镜及光度学基本知识
2、 波动光学的基本原理
3、 光波的空间相干性和时间相干性
4、 衍射光栅
5、 光波的色散及群速度
6、 光的偏振与晶体光学基础
三、 试卷结构
1、 考试时间3小时,满分150分
2、 题目类型:问答题(包括分析、计算),证明题
810自动控制理论
一、 考试要求
要求考生系统地掌握自动控制理论的基本概念与理论,并且能够灵活运用,具有较强的分析问题与解决问题的能力,了解试验环节。
二、 考试内容
1、 自动控制理论的基本概念
1) 自动控制的基本控制方式
2) 自动控制系统的分类
3) 闭环控制系统的基本组成
4) 评价控制系统的基本指标
5) 控制系统状态空间的基本概念
2、 控制系统的数学模型
1) 线性系统微分方程的建立
2) 非线性特性及其线性化
3) 线性系统的传递函数
4) 线性系统的方框图的建立
5) 线性系统的信号流图的建立
6) 系统的状态空间表达式
7) 系统的状态空间表达式的解
3、 线性系统的时域分析法
1) 线性系统时间响应的性能指标
2) 一阶系统的时域分析
3) 二阶系统的时域分析
4) 线性系统的稳定性分析
5) 线性系统的稳态误差
4、 线性系统的根轨迹法
1) 根轨迹的幅值条件和幅角条件
2) 绘制根轨迹的基本规则
3) 用根轨迹法分析控制系统
5、 控制系统的频域分析
1) 频率特性的概念
2) 系统的开环幅相频率特性
3) 系统的开环对数频率特性
4) 奈奎斯特稳定性判据
5) 系统的相对稳定性
6、 自动控制系统的校正
1) 控制系统校正的概念
2) 串联校正装置的功能和特性
3) 串联校正的频率响应设计法
7、 采样控制系统分析基础
1) 采样器和保持器
2) 脉冲传递函数
3) 采样控制系统的稳定性分析
4) 采样控制系统的稳态误差
5) 采样系统的动态性能分析
6) 采样控制系统的校正
7) 最少拍采样控制系统的校正