尘土颗粒影响下电路板电化学迁移失效寿命建模探索

周怡琳, 杨璐, 鲁文睿

北京邮电大学 自动化学院, 北京 100876

收稿日期:2019-08-13出版日期:2020-06-28发布日期:2020-06-24

作者简介:周怡琳(1972-),女,教授,E-mail:ylzhou@bupt.edu.cn.
基金资助:国家自然科学基金项目（61674017）

Exploring the Life Modeling Methods for Electrochemical Migration Failure of Printed Circuit Board under Dust Particles

ZHOU Yi-lin, YANG Lu, LU Wen-rui

Automation School, Beijing University of Posts and Telecommunications, Beijing 100876, China

Received:2019-08-13Online:2020-06-28Published:2020-06-24


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摘要/Abstract

摘要： 针对离散尘土颗粒与温度、湿度、电场强度交互作用的复杂条件下，难以有效建立电路板电化学迁移的失效物理模型的问题，通过温湿偏置加速实验，模拟不同积尘密度下电路板的电化学迁移失效，分析颗粒分布密度对电路板绝缘失效时间的作用特性.采用正交实验获取不同尘土颗粒密度、温度、湿度、电场条件下电路板绝缘失效的寿命数据.基于数据驱动的方法，探讨电路板在尘土颗粒污染下的电化学迁移失效寿命建模.对比了多项式回归、机器学习中的梯度提升回归树和随机森林3种方法在尘土分布密度的高低区间内的寿命预测效果.讨论了尘土颗粒污染下利用机器学习建立电路板电化学迁移失效寿命模型的有效性.
中图分类号:
TN406

引用本文

周怡琳, 杨璐, 鲁文睿. 尘土颗粒影响下电路板电化学迁移失效寿命建模探索[J]. 北京邮电大学学报, 2020, 43(3): 11-18,31.
ZHOU Yi-lin, YANG Lu, LU Wen-rui. Exploring the Life Modeling Methods for Electrochemical Migration Failure of Printed Circuit Board under Dust Particles[J]. Journal of Beijing University of Posts and Telecommunications, 2020, 43(3): 11-18,31.





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