同轴连接器S参数建模及退化机理

纪锐¹, 高锦春¹, 谢刚², 同阳³

1. 北京邮电大学 电子工程学院, 北京 100876;
2. 北京邮电大学 信息与通信工程学院, 北京 100876;
3. 奥本大学 材料工程系, 奥本 36849

收稿日期:2017-06-22出版日期:2018-04-28发布日期:2018-03-17

作者简介:纪锐(1990-),女,博士生;高锦春(1962-),女,教授,博士生导师,E-mail:gjc@bupt.edu.cn.
基金资助:国家自然科学基金项目（61674017）

Modeling and Analysis on S-parameters of Degraded Coaxial Connector

JI Rui¹, GAO Jin-chun¹, XIE Gang², TONG Yang³

1. School of Electronic Engineering, Beijing University of Posts and Telecommunications, Beijing 100876, China;
2. School of Information and Communication Engineering, Beijing University of Posts and Telecommunications, Beijing 100876, China;
3. Department of Materials Engineering, Auburn University, 36849, Auburn, AL, USA

Received:2017-06-22Online:2018-04-28Published:2018-03-17

摘要/Abstract

摘要： 以Sub-Miniature-A（SMA）型连接器为例，建立了基于等效电路法的同轴连接器S参数模型，给出了模型参数的计算方法，模拟了连接器的高频特性.特别是针对连接器接触表面退化，计算出了接触表面的高频电参数，建立了S参数与退化表面的关系，可作为连接器故障特征应用于连接器的寿命预测、可靠性评估以及故障诊断的研究.
中图分类号:
TM503⁺.5

引用本文

纪锐, 高锦春, 谢刚, 同阳. 同轴连接器S参数建模及退化机理[J]. 北京邮电大学学报, 2018, 41(2): 69-74.
JI Rui, GAO Jin-chun, XIE Gang, TONG Yang. Modeling and Analysis on S-parameters of Degraded Coaxial Connector[J]. JOURNAL OF BEIJING UNIVERSITY OF POSTS AND TELECOM, 2018, 41(2): 69-74.





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