纳米测量技术
外文标题 | Technique of Nano-Measurements |
文献类型 | 期刊 |
作者 | 刘广玉[1] |
机构 | [1]北京航空航天大学,北京,100083 ↓ |
来源信息 | 年:2002卷:21期:z1页码范围:27-29,34 |
期刊信息 | 测控技术ISSN:1000-8829 |
关键词 | 纳米技术;纳米传感器;纳米测量;扫描探测技术 |
摘要 | 扫描探测是纳米测量的核心技术,它的诞生促进了纳米技术的迅速发展和纳米时代的快速到来.论述了扫描探测技术在纳米测量中的作用和展望. |
链接地址 | http://d.g.wanfangdata.com.cn/Periodical_ckjs2002z1011.aspx |
DOI | 10.3969/j.issn.1000-8829.2002.z1.011 |
全文
影响因子:
dc:title:纳米测量技术
dc:creator:刘广玉
dc:date: publishDate:1753-01-01
dc:type:期刊
dc:format: Media:测控技术
dc:identifier: LnterrelatedLiterature:测控技术.2002,21(z1),27-29,34.
dc:identifier:DOI:10.3969/j.issn.1000-8829.2002.z1.011
dc: identifier:ISBN:1000-8829