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红外检测中缺陷大小和深度的测量

外文标题	Measuring Defect Diameter and Depth in Infrared Testing
文献类型	期刊
作者	王永茂[1];郭兴旺[2];李日华[3]
机构	[1]北京航空航天大学机械工程及自动化学院,北京航空航天大学机械工程及自动化学院,北京航空航天大学机械工程及自动化学院 北京100083,北京100083,北京100083 [2]北京航空航天大学机械工程及自动化学院,北京航空航天大学机械工程及自动化学院,北京航空航天大学机械工程及自动化学院 北京100083,北京100083,北京100083 [3]北京航空航天大学机械工程及自动化学院,北京航空航天大学机械工程及自动化学院,北京航空航天大学机械工程及自动化学院 北京100083,北京100083,北京100083 ↓
来源信息	年:2002卷:32期:6页码范围:404-406
期刊信息	激光与红外ISSN:1001-5078
关键词	红外检测;热层析;无损检测
摘要	文中介绍了红外层析检测的基本原理,重点讲述了缺陷深度和缺陷大小的测量方法.
收录情况	PKU
所属部门	机械工程及自动化学院
链接地址	http://d.g.wanfangdata.com.cn/Periodical_jgyhw200206011.aspx
DOI	10.3969/j.issn.1001-5078.2002.06.011
基金	国家自然科学基金

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机电工程及自动化系郭兴旺

dc:title:红外检测中缺陷大小和深度的测量
dc:creator:王永茂;郭兴旺;李日华
dc:date: publishDate:2002-12-25
dc:type:期刊
dc:format: Media：激光与红外
dc:identifier: LnterrelatedLiterature：激光与红外.2002,32(6),404-406.
dc:identifier:DOI：10.3969/j.issn.1001-5078.2002.06.011
dc: identifier:ISBN:1001-5078