接触式物体位姿测量装置
| 文献类型 | 专利 |
| 发明人 | 丁希仑[1];解玉文[2];战强[3] |
| 机构 | 北京航空航天大学 ↓ |
| 申请人 | 北京航空航天大学 |
| 专利类型 | 实用新型 |
| 年度 | 2002 |
| 专利申请日期 | 2002-12-30 |
| 专利公开日期 | 2003-12-10 |
| 专利公开号 | CN2591559 |
| 专利申请号 | CN02294636.5 |
| 摘要 | 本实用新型属于精密自动测量装置，特别涉及机器人臂、六维腕力传感和弹性探针来检测被测工件表面几何外形或物体的位姿。本测量装置取代了传统的双目视觉检测方法，其技术方案是：通过探针与物体表面接触点的受力信息获取物体上的点在工具坐标系中的理想坐标，进而通过机器人运动学由坐标变换求得该点在机器人基坐标系中的坐标，然后通过六维腕力传感器的信息控制机器人末端的运动，使探针与被测表面良好接触并移动，测得物体表面一系列点的位置坐标信息，从而确定物体在机器人基坐标系中的位姿或表面几何外形。也可以借助于单个摄象机观测物体表面信息，再用探针测物体表面特征点的位置信息，从而能够快速生成被测表面的几何形状或测得物体的位姿。本工件表面几何形状测量或物体位姿检测方法简单易行，计算量小，精度较高。 |
影响因子：
dc:title:接触式物体位姿测量装置
dc:creator:丁希仑;解玉文;战强
dc:date: publishDate:2002-12-30
dc:type:专利
dc:format: Media：
dc:identifier: LnterrelatedLiterature：2002.
dc:identifier:DOI：
dc: identifier:ISBN:
