具体应用中的可测性设计综合与优化--综述
| 文献类型 | 会议 |
| 作者 | 赵瑞贤[1];孟晓风[2] |
| 机构 | [1]北京航空航天大学 [2]北京航空航天大学 ↓ |
| 会议论文集 | 电子测量与仪器学报 2002增刊 |
| 来源信息 | 年:2002页码范围:110-113 |
| 会议信息 | 2002年全国电子测控工程学术年会ISSN: |
| 关键词 | 可测性设计;故障诊断;电路设计 |
| 摘要 | 本文分析了可测性设计面临的主要问题,阐述了系统可测性设计具体应用所涉及的基本技术,重点探讨了当前可测性设计的技术综合、技术优化和基于先进信息处理技术的综合优化问题. |
| 全文链接 | http://d.g.wanfangdata.com.cn/Conference_4402258.aspx |
| 会议地点 | 武夷山 |
| 会议开始日期 | 2002-10-13 |
全文
影响因子：
dc:title:具体应用中的可测性设计综合与优化--综述
dc:creator:赵瑞贤;孟晓风
dc:date: publishDate:2002-10-13
dc:type:会议
dc:format: Media：2002年全国电子测控工程学术年会
dc:identifier: LnterrelatedLiterature：2002年全国电子测控工程学术年会.2002,110-113.
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