微机控制DR/ICT射线检测系统的研制
| 外文标题 | Development of a Computer- Control Industrial Radiographic Inspection System |
| 文献类型 | 期刊 |
| 作者 | 杜剑[1];魏东波[2];赵飞[3] |
| 机构 | [1]北京航空航天大学机械工程及自动化学院,北京航空航天大学机械工程及自动化学院,北京航空航天大学机械工程及自动化学院 北京市100083,北京市100083,北京市100083 [2]北京航空航天大学机械工程及自动化学院,北京航空航天大学机械工程及自动化学院,北京航空航天大学机械工程及自动化学院 北京市100083,北京市100083,北京市100083 [3]北京航空航天大学机械工程及自动化学院,北京航空航天大学机械工程及自动化学院,北京航空航天大学机械工程及自动化学院 北京市100083,北京市100083,北京市100083 ↓ |
| 来源信息 | 年:2001期:12页码范围:20-23 |
| 期刊信息 | 仪表技术与传感器ISSN:1002-1841 |
| 关键词 | 微机控制;射线检测;伺服控制;图像采集 |
| 摘要 | 工业X射线检测是通过数字射线成像(DR)和工业计算机层析(ICT)对金属构件进行无损检测的一项技术.结合一套DR/ICT检测设备的研制,把微机控制应用到检测系统伺服驱动和图像采集模块的控制中,实现了工业射线自动检测和控制功能,并通过实验验证了系统的可靠性和稳定性. |
| 收录情况 | PKU |
| 所属部门 | 机械工程及自动化学院 |
| 链接地址 | http://d.g.wanfangdata.com.cn/Periodical_ybjsycgq200112009.aspx |
| DOI | 10.3969/j.issn.1002-1841.2001.12.009 |
全文
影响因子：
dc:title:微机控制DR/ICT射线检测系统的研制
dc:creator:杜剑;魏东波;赵飞
dc:date: publishDate:2002-01-22
dc:type:期刊
dc:format: Media：仪表技术与传感器
dc:identifier: LnterrelatedLiterature：仪表技术与传感器.2001,20-23.
dc:identifier:DOI：10.3969/j.issn.1002-1841.2001.12.009
dc: identifier:ISBN:1002-1841
