输出间断采样的线性系统参数辨识的计递推算法
| 文献类型 | 会议 |
| 作者 | 李力千[1];王占林[2];周福章[3] |
| 机构 | [1]北京航空航天大学自动控制系(北京 [2]北京航空航天大学自动控制系(北京 [3]北京航空航天大学自动控制系(北京 ↓ |
| 会议论文集 | 第三届全球智能控制与自动化大会论文集 |
| 来源信息 | 年:2000页码范围:2207～2210 |
| 会议信息 | 第三届全球智能控制与自动化大会ISSN: |
| 关键词 | 系统辨;间断采样;估计递推算法 |
| 摘要 | 系统辨识通常在连续采样的假定下进行，但是工程中会出现输出采样间断的情况。每一个采样值要被多个方程用到，如果简单剔除受到影响的方程，将使得有效方程个数显著减少，对系统辨识不利，严重时使辨识无法进行。该文提出一种新的计递推算法，将间断的输出测点用计值代替，使得递推最小二乘辨识可以进行。理论分析表明，该算法在真值的微小邻域内依概率收敛，仿真计算表明算法是实用有效的。 |
| 所属部门 | 自动化科学与电气工程学院 |
| 全文链接 | http://d.g.wanfangdata.com.cn/Conference_316426.aspx |
| 会议地点 | 合肥 |
| 会议开始日期 | 2000-06-28 |
| 人气指数 | 1 |
| 浏览次数 | 1 |
全文
影响因子：
dc:title:输出间断采样的线性系统参数辨识的计递推算法
dc:creator:李力千;王占林;周福章
dc:date: publishDate:2000-06-28
dc:type:会议
dc:format: Media：第三届全球智能控制与自动化大会
dc:identifier: LnterrelatedLiterature：第三届全球智能控制与自动化大会.2000,2207～2210.
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dc: identifier:ISBN:
