基于可靠性的I/O模块的研究与设计
| 文献类型 | 学位 |
| 作者 | 侯世国[1] |
| 机构 | 北京航空航天大学 ↓ |
| 授予学位 | 硕士 |
| 年度 | 2000 |
| 学位授予单位 | 北京航空航天大学 |
| 语言 | 中文 |
| 关键词 | 可靠性设计;双冗余;I/O模块;工业控制 |
| 摘要 | 论文从三个层次对RIO模块进行可靠性分析: 元器件级、模块级和系统级.在此基础上建立了双冗余系统的可靠性模型;并利用此模型预测、评估了双冗余系统的可靠性性能;依所得结论指导了RIO模块的硬件设计选型.论文针对RIO模块构成的双冗余系统进行了较深入的分析、研究和设计.RIO模块支持RS-485总线结构,多个RIO模块可以同时挂接在RS-485总线上.通过RS-485总线技术,RIO模块将数据采集结果向上发送, 同时接收系统的输出数据.整个RIO模块由数据采集、数模转换、模拟输出和RS-485通讯、CPU监控和冗余切换几部分构成.每个RIO模块有八路模拟输入通道和四路模拟输出通道.RIO模块具有自我诊断功能, 在系统出现故障时,RIO模块可以检测出典型的故障部位. 互为冗余的两RIO模块能够实现冗余切换,并且将诊断结果发送给系统.通过对RIO模块的热特性分析,进一步保证了RIO模块的可靠性.在论文的最后部分,设计了一组测试实验,验证了系统的有关功能.该文提出了适合RIO模块可靠性设计的技术路线,这对其它电子产品的可靠性也有借鉴之处. |
影响因子：
dc:title:基于可靠性的I/O模块的研究与设计
dc:creator:侯世国
dc:date: publishDate:1753-01-01
dc:type:学位
dc:format: Media：北京航空航天大学
dc:identifier: LnterrelatedLiterature：北京航空航天大学.2000.
dc:identifier:DOI：
dc: identifier:ISBN:
