空间站舱门动密封实验研究
| 文献类型 | 学位 |
| 作者 | 王广振[1] |
| 机构 | 北京航空航天大学 ↓ |
| 授予学位 | 博士 |
| 年度 | 2000 |
| 学位授予单位 | 北京航空航天大学 |
| 语言 | 中文 |
| 关键词 | 硅橡胶;载荷衰减;麦克斯尔模型;O形圈;泄漏率 |
| 摘要 | 空间站舱门密封具有工作环境恶劣、密封可靠性要求高、寿命长、泄漏率低的特点,为了潢足空间站舱门密封的要求,设计和制作了载荷衰减实验设备,原理性泄漏率实验设备和二分之一舱门模型,并对影响密封的多种因素,如温度舱门变形、原子氧辐射、O形圈载荷衰减等,进行了大量的实验和研究.为了研究O形圈的载荷衰减对泄漏率的影响,对两种硅橡胶材料的O形圈在不同压缩率及不同温度下的载荷衰减规律进行了实验研究.泄漏率是空间门舱门密封设计中的一处重要参数,为了研究密封圈本身的泄漏性能,该文在刚度很大的平板上对O形圈密封进行了大量的原理性泄漏率实验研究.为了研究舱门籴形对密封O形圈泄漏率的影响,首先在二分之一尺寸舱门模型上进行了变形实验,实验研究了压差变形、温度不均匀变形以及由O形圈的反力和门锁夹紧力造成的舱门法兰边波度变形.同时采用有限远程序对变形进行了计算,计算结果和实验结果非常接近.在变形实验的基础上,对O形圈在二分之一舱门模型上的泄漏率进行了实验研究,结果发现,舱门的变形对O形圈的泄漏率有明显影响.在波度变形小于0.05mm时,O形圈在模型上的泄漏与原理性实验的泄漏率很接近,当波度变形大于0.1mm时,泄漏率明显增加. |
影响因子：
dc:title:空间站舱门动密封实验研究
dc:creator:王广振
dc:date: publishDate:1753-01-01
dc:type:学位
dc:format: Media：北京航空航天大学
dc:identifier: LnterrelatedLiterature：北京航空航天大学.2000.
dc:identifier:DOI：
dc: identifier:ISBN:
