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MCU应用系统的可靠性设计纲要V0.5

文献类型	期刊
作者	何立民[1]
机构	[1]北京航空航天大学!100083 ↓
来源信息	年:1999卷:25期:5页码范围:4-6
期刊信息	电子技术应用ISSN:0258-7998
关键词	可靠性设计;MCU;VO.5;应用系统;软件控制;外围器件;余度;系统的可靠性;智能系统;系统集成;
摘要	MCU应用系统的可靠性设计是提高MCU应用系统设计水平的热点问题,是北京单片机联谊会第五次专题研讨会(1999年三月份)的中心议题.笔者以近年来在MCU应用系统设计中考虑的可靠性设计诸多问题形成的可靠性设计纲要V0.5呈现给读者,借机抛砖引玉.由于V0.5版本,错误难免,该纲要会成为作者未来的中的一章,希望获得广大读者的支持与帮助.单片机(MCU)作为一个智能系统,其可靠性含义很广;在现代微电子技术、系统集成、超大规模、高可靠性的IC支持下,应用系统的可靠性具有新的特点;智能系统的智能行为可实现可靠性的增强控制而随软件设计比重加大会突出软件可靠性设计的地位,来函可寄北京航空航天大学出版社(100083)转单片机联谊会收.
收录情况	PKUCSCD
链接地址	http://d.g.wanfangdata.com.cn/Periodical_dzjsyy199905001.aspx
DOI	10.3969/j.issn.0258-7998.1999.05.001

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dc:title:MCU应用系统的可靠性设计纲要V0.5
dc:creator:何立民
dc:date: publishDate:1999-05-07
dc:type:期刊
dc:format: Media：电子技术应用
dc:identifier: LnterrelatedLiterature：电子技术应用.1999,25(5),4-6.
dc:identifier:DOI：10.3969/j.issn.0258-7998.1999.05.001
dc: identifier:ISBN:0258-7998