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退火算法在电子元件位置优化上的应用

外文标题	Application of Annealing Algorithm in Optimal Placement of Electronic Components
文献类型	期刊
作者	李晓明[1];高泽溪[2];吕善伟[3]
机构	[1]北京航空航天大学 [2]北京航空航天大学 [3]北京航空航天大学 ↓
来源信息	年:1999期:1页码范围:1-4
期刊信息	北京航空航天大学学报ISSN:1001-5965
关键词	差分法;温度;最佳化;系统可靠性;退火算法
摘要	一块电路板上有电子元件,它们不仅有热源,而且相互作用,另外与空气还交换热. 对这类问题建立线性数学模型,从而算出温度稳态分布. 因为许多集成电路系统的可靠性很大程度上取决于温度,所以温度的模拟显得很重要.把温度模型与退火算法相结合可以获得元件最接近优化的布局,并用一个例子加以说明,通过优化能降低板子最高温度,从而提高系统的可靠性.
收录情况	PKUCSCD
链接地址	http://d.g.wanfangdata.com.cn/Periodical_bjhkhtdxxb199901001.aspx
DOI	10.3969/j.issn.1001-5965.1999.01.001
人气指数	3
浏览次数	3
基金	国家部级科研项目

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dc:title:退火算法在电子元件位置优化上的应用
dc:creator:李晓明;高泽溪;吕善伟
dc:date: publishDate:1999-02-28
dc:type:期刊
dc:format: Media：北京航空航天大学学报
dc:identifier: LnterrelatedLiterature：北京航空航天大学学报.1999,1-4.
dc:identifier:DOI：10.3969/j.issn.1001-5965.1999.01.001
dc: identifier:ISBN:1001-5965