刘铁桥
学历：博士
职称职务：讲师
系所： 信管
办公地点：9教-515

个人简介：2007年6月毕业于湖南师范大学数学与计算机科学学院，获工学学士学位。2010年6月和2014年6月，分别获得湖南大学工学硕士和工学博士学位。2014年5月至今，任教于杭州电子科技大学管理学院。攻读硕士和博士学位期间主要从事集成电路测试、容错计算等方向的研究。在核心以上级别期刊以第一作者发表论文5篇，其中SCI收录论文4篇，EI 收录论文 2 篇。
研究领域：容错计算，大数据研究
主讲课程：JAVA高阶，信息管理系统
科研成果：
[1] 刘铁桥; 邝继顺; 蔡烁; 尤志强. 一种将测试集嵌入到Test-Per-Clock 位流中的方法.计算机研究与发展. 2014, 51(9):2022-2029 (EI).
[2] Liu Tieqiao; Kuang Jishun; You Zhiqiang; Cai Shuo. An Effective Deterministic Test Generation for Test-Per-Clock Testing. IEEE Aerospace & Electronic Systems Magazine; 2014; 29(5): 25-33 (SCI).
[3] Liu Tieqiao; Kuang Jishun; Cai Shuo; You Zhiqiang. An Efficient Small-Delay Faults Simulator Based on Critical Path Tracing. International Journal of Circuit Theory and Applications (published online; DOI: 10.1002/cta.1990; SCI).
[4] Liu Tieqiao; Zhou Yingbo; Liu Yi; Cai Shuo. Harzard-Based ATPG for Improving Delay Test Quality. Journal of Electronic Testing, Volume 31, Issue 1, 2015, Page 27-34 (SCI).
[5] Liu Tieqiao; Kuang Jishun; Cai Shuo; You Zhiqiang. An Effective Logic BIST Scheme Based on LFSR-Reseeding and TVAC. International Journal of Electronics. 2014; 101(9): 1217- 1229 (SCI).
[6] Liu Tieqiao; Kuang Jishun; Wang Weizheng; You Zhiqiang; Cai Shuo. Embedding N-detect test set into controlled bits stream. International Journal of Digital Content Technology and its Applications. 2011; 5(10): pp. 271-278 (EI).