一、基本情况
1）
2）个人主页：
3）职称：副教授
4）学位：工学博士
5）工作单位：太原理工大学电气与动力工程学院自动化系
6）职务：无
7）电话：**
8）邮箱：dingjie2015@foxmail.com
二、研究方向
1）工业自动化
2）新型半导体器件特性研究
三、教育经历
2005.9~2009.7 太原理工大学自动化系，大学本科
2009.9~2012.7 太原理工大学测控技术研究所，硕士研究生
2011.10~2015.12 英国格拉斯哥大学，博士研究生
四、工作经历
2016.1—2017.12太原理工大学，信息工程学院自动化系任教
2018.1至今 太原理工大学，电气与动力工程学院自动化系任教
2017.8—2017.9 英国格拉斯哥大学，荣誉访问****
五、学术及社会兼职
无
六、承担项目情况（以表格形式给出）
国家自然基金青年基金项目，题目《POM分子新型闪存器件统计式建模方法与电路级特性优化研究》
七、发表学术论文(论文题目/刊物/卷、期、页/作者顺序/收录情况)
[1] Ding, Jie(#) (*)，Reid, Dave，Asenov, Plamen，Millar, Campbell，Asenov, Asen，Influence of Transistors With BTI-Induced Aging on SRAM Write Performance，IEEE Transactions on Electron Devices，2015，62（10）：3133-3138。
[2] Ding, Jie(#) (*)，Reid, Dave，Millar, Campbell，Asenov, Asen, Investigation of SRAM using BTI-aware statistical compact models，Solid-State Device Research Conference (ESSDERC), 2013 Proceedings of the European，186-189，Bucharest，2013.9.16-2013.9.20。
[3] Ding, Jie(#) (*)，Reid, Dave，Millar, Campbell，Asenov, Asen, An accurate compact modelling approach for statistical ageing and reliability，Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), 2013 International Conference on，57-60，Glasgow，2013.9.3-2013.9.5。
[4] Gerrer, Louis (#) (*)，Ding, Jie，Amoroso, Salvatore，Adamu-Lema,Fikru，Hussin, Razaidi，Reid, Dave，Millar, Campbell，Asenov, Asen,Modelling RTN and BTI in nanoscale MOSFETs from device to circuit: A review，Microelectronics Reliability，2014，54（4）：682-697。
[5] Hussin, Razaidi (#) (*)，Gerrer, Louis， Ding, Jie，Wang, Liping，Amoroso,Salvatore，Cheng, Binjie，Reid, Dave，Weckx, P，Simicic, M，Franco,J， Vanderheyden, A，Vanhaeren, D，Horiguchi, N，Kaczer, B，Asenov, Asen，Statis tical simulations of 6T-SRAM cell ageing using a reliability aware simulation flow，Solid State Device Research Conference (ESSDERC), 2015 45th European，Graz，2015.9.14-2015.9.18。
[6] Hussin, Razaidi (#) (*)，Gerrer, Louis，Ding, Jie，Amoroso,Salvatore，Wang, Liping，Semicic, M，Weckx, P，Franco, J，Vanderheyden, A，Vanhaeren, D，Horiguchi, N，Kaczer, B，Asenov, Asen, Reliability aware simulation flow: From TCAD calibration to circuit level analysis，2015 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD)，Washington, DC，2015.9.9-2015.9.11。
[7] Asenov, Asen(#) (*)，Ding, Jie，Reid, Dave，Asenov, Plamen，Amoroso, Salvatore，Adamu-Lema, Fikru，Gerrer, Louis，Unified approach for simulation of statistical reliability in nanoscale CMOS transistors from devices to circuits，Circuits and Systems (ISCAS), 2015 IEEE International Symposiumon，Lisbon，2015.5.24-2015.5.27。
[8] Gerrer, Louis (#) (*)，Amoroso, Salvatore，Asenov, Plamen，Ding, Jie，Cheng, Binjie，Adamu-Lema, Fikru，Markov, Stanislav，Reid, Dave，Millar, Campbell，Asenov, Asen，Interplay Between Statistical Reliability and Variability: A Comprehensive Transistor-to-Circuit Simulation Technology，2013 IEEE International Reliability Physics Symposium, IRPS 2013，Anaheim，2013.4.14-2013.4.18。
[9] Ding, Jie(#) (*)，Reid, Dave，Asenov, Plamen，Millar, Campbell，Asenov, Asen，Evaluating the impact of ageing on SRAM stability using accurate statistical Compact Models，Proceeding of Designing with Uncertainty Opportunities & Challenges workshop，York 2014.3.17-2014.3.19。
[10] Ding, Jie(#) (*)，Asenov, Plamen，Reid, Dave，Millar, Campbell，Asenov, Asen，Statistical Compact Model Extraction in the Presence of BTI Degradation，VARI，Nice，2012.6.11-2012.6.12。

八、代表性学术成果
1、科技奖
2、发明专利
3、专著
4、教材

九、所获得荣誉（荣誉名称/荣誉授予单位/级别/时间/角色）

十、研究生指导情况

2017级4名 车玲娟 杨祖莨 刘晋峰 郭志文
2016级1名 田刚鹏

十一、联系方式
1）通讯地址
山西省太原市迎泽西大街79号，太原理工大学电气与动力工程学院自动化系
2）邮编 ：030024
3）电话：**
4）邮箱：dingjie2015@foxmail.com


丁洁承担项目统计
类别
序号
项目名称
项目属性
项目状态（在研或结题）
金额
执行期
角色

科
技
项
目
1
POM分子新型闪存器件统计式建模方法与电路级特性优化研究
国家自然基金青年基金项目
在研
19万
2017~ 2019
主持


丁洁成果统计

类别
序号
会议名称
地点
主办
时间
角色

国
际
交
流
1
Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD)
Glasgow, UK
IEEE
2013.9
做大会报告并发表论文

2
Solid-State Device Research Conference (ESSDERC)
Bucharest，
Romania
IEEE
2013.9
做大会报告并发表论文

3
VARI
Nice,
France
2012.6
做大会报告并发表论文

4
Designing with Uncertainty Opportunities & Challenges workshop
York,
UK
The University of York
2014.3
做大会报告并发表论文