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同济大学物理科学与工程学院研究生导师简介-沈正祥

同济大学 免费考研网/2013-01-29

个人主页

  • 姓名:
    沈正祥
  • 出生年月:
    1980年05月
  • 性别:

  • 导师类别:
    硕导
  • 学历:
    博士
  • 电子邮箱:
    shenzx@tongji.edu.cn


个人简历

学习:
2002年南京师范大学物理科学与技术学院毕业;
2005年同济大学物理系光学专业硕士研究生毕业;
2006年9月-2008年1月,中国航天科工集团第8358研究所联合培养;
2008年同济大学物理系光学专业博士研究生毕业。
工作:
2008年3月—至今在同济大学物理系任讲师,硕士生导师;

教学情况

大学本科生《大学物理学》;
研究生课程《现代光学系统原理》

科研情况

研究方向:
(1)先进光学制造和检测技术;
(2)激光光学元件;
(3)光学设计和光学仪器。

奖励荣誉

2011年度同济大学教学奖励金二等奖

学术兼职


主要论著

[1].ZhengxiangShen,TaoDing,XiaowenYe,XiaodongWang,MaBin,XinbinCheng,HuasongLiu,YiqinJi,ZhanshanWang,“InfluenceofCleaningProcessontheLaserInducedDamageThresholdofSubstrates”,AppliedOptics,50(9),2011.InPress
[2].ShenZhengxiang,MaBin,TaoDing,WangXiaoqiang,WangZhanShan,WangLishuan,LiuHuasong,JiYiqin,“Fabricationandtestofsupersmoothsurfacewithsub-nanometerroughness”,Proc.SPIE,OTPA2010.2010
[3].ShenZhengxiang,MuBaozhong,WangZhanshan,WangLi,MaBin,JiYiqin,LiuHuasong,Studiesofnormalincidencetwo-mirrorreflectingsystemdesignedatEUVandX-ray[J],光子学报,2009,38(2):392-395.
[4].ZhengxiangShen,ZhanshanWang,Quantitativecharacterizationofsurpersmoothsurfacewithroughnessinthesub-nanometerrange,Proc.ofSPIE,7283:0277-786X,2009
[5].ZhengxiangShen,BinMa,ZhanshanWang,YiqinJi,TaoLiu,HuasongLiu.“Fabricationofflatandsupersmoothsurfaceswithbowl-feedpolishingprocess”,Proc.ofSPIE,6722:67220U-1-7,2007
[6].ZhengxiangShen,BinMa,ZhanshanWang,YiqinJi,TaoLiu,HuasongLiu.“Fabricationofsupersmoothsurfaceswithlowsubsurfacedamage”,Proc.ofSPIE,6722:67223W-1-7,2007
[7].ShenZhengxiang,MuBaozhong,WangZhanshan,WangLi,MaBin,JiYiqin,LiuHuasong,Amethodofsolvingtheinitialstructureoftwo-mirrorreflectingsystem[J],InfraredandLaserEngineering,37(2):343-346.2008
[8].BinMa,ZhengxiangShen,PengfeiHe,FeiSha,ChunliangWang,BinWang,YiqinJi,HuasongLiu,WeihaoLi,ZhanshanWang,Theevaluationandanalysisofpolishedfusedsilicasubsurfacequalitybynanoindentertechnique,AppliedOptics,2011,50(9),InPress
[9].BinMa,ZhengxiangShen,PengfeiHe,YiqinJi,TianSang,HongfeiJiao,HuasongLiu,DandanLiu,ZirongZhai,ZhanshanWang,SubsurfacequalityofpolishedSiO2surfaceevaluatedbyquasi-Brewsterangletechnique,Optik-Int.J.LightElectronOpt.doi:10.1016/j.ijleo.,2010,InPress
[10].Xiao-DongWang,Zheng-XiangShen,TianSang,Xin-BinCheng,Ming-FangLi,Ling-YanChen,Zhan-ShanWang,PreparationofsphericalsilicaparticlesbyStoberprocesswithhighconcentrationoftetra-ethyl-orthosilicate[J],JournalofColloidandInterfaceScience,341:23–29,2010
[11].Xiao-DongWang,Zheng-XiangShen,Jin-LongZhang,Hong-FeiJiao,Xin-BinCheng,Ling-YanChen,andZhan-ShanWang.Submicrometeraluminumspheresadhesiontoplanarsiliconsubstrates.Langmuir,26,13903-1390,2010
[12].Xiao-DongWang,Zheng-XiangShen,Jin-LongZhang,Hong-FeiJiao,Xin-BinCheng,Xiao-WenYe,Ling-YanChen,andZhan-ShanWang.ContactbetweenubmicrometerSilicaSpheres.Langmuir,26,5583~5586,2010
[13].LiWang,ZhengxiangShen,BinFan,ZhanshanWang,Hightransmittanceofconnectedresonantmodes[J],OpticsCommunications,283,2155–2159,2010
[14].BinMa,ZhengxiangShen,PengfeiHe,YiqinJi,TianSang,HuasongLiu,DandanLiu,ZhanshanWang,Detectionofsubsurfacedefectsoffusedsilicaopticsbyconfocalscatteringmicroscope[J],ChineseOpticsLetter,8(3),296-299,2010
[15].沈正祥,王占山,马彬,徐敬,陈玲燕,利用功率谱密度函数表征光学薄膜基底表面粗糙度[J],光学仪器,2006,28(4),141-145.

联系方式

通讯地址:上海市四平路1239号同济大学物理系
电子邮件:shenzx@tongji.edu.cn
办公地址:同济大学薄膜光学实验室(汽车馆)
办公电话:021-65981990-100
办公传真:021-65981990-300
相关链接:精密光学工程技术研究所

课题组主页

http://ipoe.tongji.edu.cn




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