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相干衍射成像的新进展及其在波前测量领域的应用_上海光学精密机械研究所

上海光学精密机械研究所 免费考研网/2018-05-06

中文题目: 相干衍射成像的新进展及其在波前测量领域的应用
作者: 刘诚;
来源图书: 第十六届全国光学测试学术交流会摘要集
年: 2016 页: "1"
会议名称: 第十六届全国光学测试学术交流会摘要集
中文关键词:
数字全息;波前;干涉仪;短波长光;光学元件;相位测量;相位成像;哈特曼传感器;质量要求;测量技术;
中文摘要:
传统的相干衍射成像(CDI)是专门为X-射线或者电子束等短波长光源而发展起来的相位成像技术,相比于干涉仪或者数字全息等传统相位测量方法,CDI的优点主要表现在光路简单和对光学元件质量要求低两个方面,但由于收敛速度慢和对复杂样品的测量可靠性较低,长期以来在光学频段使用很少。2004年PIE(Ptychographic Iterative


文献类型: 会议论文
正文语种: chinese
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