药物颗粒的形貌由它的晶型和晶习决定，晶型与药物颗粒的外形可能相关。基于计算机X-射线断层扫描技术，中国科学院上海药物研究所张继稳课题组联合上海应用物理研究所肖体乔研究组的科研人员利用上海光源，定量表征了硫酸氢氯吡格雷（CLP）的两种晶型微粒的三维结构特征。通过三维重建获得共计4544个晶体颗粒的高分辨三维形貌结构信息，并对不规则的多晶颗粒三维结构进行定量表征。
CLPⅡ比CLPⅠ晶型颗粒的表面更为粗糙，且表面分布有较大的孔隙的结构特征。本研究基于表面平滑体积偏差（VBP）的表面粗糙度量化算法，实现了对CLP两种晶型微粒在含有辅料的混合物中原位识别。在逐个匹配的实验中，该晶型识别方法达到99.91%的检测精度，最低检测限可达1%。
该研究建立了新的晶型辨识方法，这一方法可以避免剂型中辅料的干扰，实现制剂内晶体的无损伤原位检测。基于量化的形貌结构特征，该研究成功地在含有辅料的混合物中原位识别药物颗粒晶型，为多晶型混合物中药物微粒的晶型鉴定提供了新的思路和方法，对药物一致性评价中的晶型证实、多晶型药物中晶型杂质的控制具有重要价值。
相关成果于2016年4月发表于SCIENTIFIC REPORTS杂志。该研究工作得到了国家自然科学基金委和科技部重大专项课题的资助。
全文链接：http://www.nature.com/articles/srep24763
CLPⅠ和CLPⅡ单个颗粒的3D形貌
基于表面平滑体积偏差算法的晶型识别
（供稿部门：张继稳课题组）
