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个人概况
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荣誉及奖励
招生信息
王海滨
职称： 副教授 硕士生导师部门： 信息学部 物联网工程学院
学科： 信息与通信工程
教学部门： 信息学部 物联网工程学院
电话： **
邮件： wanghaibin@hhuc.edu.cn
办公地址：
通讯地址：
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个人简介
王海滨博士现任电子科学系副主任，龙城英才人才计划获得者。研究兴趣包括但不限于人工智能理论与应用、集成电路设计、嵌入式系统方面的研究，国际会议IEEEIRPS、NSREC和ESREF的技术委员会成员，在IEEE Transactions on Nuclear Science、Microelectronics Reliability等国内外高水平期刊和会议上发表SCI论文近30篇，获得8 件发明专利和20 余件软件著作权授权。曾获得2019江苏省科学技术进步三等奖、第三届电子元器件辐射效应国际会议（ICREED2019）获得最佳口头报告奖励。
研究团队与国外高校，美国范德堡大学、加拿大阿尔伯塔大学和萨省大学、日本大阪大学和韩国汉阳大学等，具有密切的合作，受邀进行口头报告，并互派学生交流访问。与国内高校和研究所等开展了项目合作，如航天五院、九院、中国电科58所、中科院微电子所等。
指导多名研究生（戴茜茜、王杨圣、Younis、Zaid等）获得国家奖学金和政府留学奖学金，以优异的学术成绩毕业，并在业内top高科技公司（AMD等）就业。
指导本科生参与学生竞赛，2020年获得江苏省电子设计大赛一等奖和华为杯物联网比赛国家二等奖。
详细成果见主页：https://www.scholarmate.com/P/7N7jQj
个人资料
姓名： 王海滨
性别： 男
学位： 工学博士学位
--> --> 出生年月： 1980-10-24 00:00:00.0
学历： 博士研究生
毕业院校： 加拿大萨省大学
教育经历
工作经历
研究领域
人工智能理论与应用、集成电路设计、嵌入式系统、计算机网络
科研项目
1、单粒子效应对基于ARM处理器的神经网络的影响研究,2020.12-2022.06,2020-07,王海滨,国防科工局,物联网工程学院
2、航天器在轨SEU错误甄别以及定位技术,2018.06-,2018-07,王海滨,国防科工局,物联网工程学院
3、航天器辐射效应传感器芯片的研发,2019.04.15-,王海滨,江苏久创电气科技有限公司,物联网工程学院
4、深度神经网络的可靠性仿真与评估技术,2019.05.08-,王海滨,中国电子科技集团公司第五十八研究所,物联网工程学院
5、纳米尺度下集成电路版图对单粒子辐射效应的影响机理研究,2016.01.01-2018.12.31,王海滨,国家自然科学基金委员会,物联网工程学院
6、深亚微米工艺下动态逻辑电路单粒子效应的建模和防辐射技术研究,王海滨,教育部中央高校业务费项目,物联网工程学院
7、面向空间应用的抗辐照纳米集成芯片关键技术研究,2017.01.01-2018.12.31,王海滨,教育部中央高校业务费项目,物联网工程学院
8、抗辐照医用RFID智能标签关键技术的研究,2018.01.01-2019.12.31,王海滨,教育部中央高校业务费项目,物联网工程学院
9、非易失逻辑电路的抗辐射加固设计,2017.07.10-,王海滨,中国科学院微电子研究所,物联网工程学院
10、光纤网络连接端口赋能管理系统研发及产业化,2016.04.01-2019.03.31,王海滨,常州太平通讯科技有限公司,物联网工程学院
11、基于虹膜识别的BIM应用服务系统关键技术研发,2017.12.15-,王海滨,常州坤智信息科技有限公司,物联网工程学院
论文
1、An SEU-Tolerant DICE Latch Design With Feedback Transistors,IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE,01-APR-15
2、An Area Efficient SEU-Tolerant Latch Design,IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE,01-DEC-14
3、A Novel Built-in Current Sensor for N-WELL SET Detection,JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS,01-AUG-15
4、Single Event Resilient Dynamic Logic Designs,JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS,01-DEC-14
5、Single-Event Transient Sensitivity Evaluation of Clock Networks at 28-nm CMOS Technology,IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE,01-FEB-16
6、Layout-based Single Event Mitigation Techniques for Dynamic Logic Circuits,JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS,01-FEB-16
7、An Area Efficient Stacked Latch Design Tolerant to SEU in 28 nm FDSOI Technology,IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE,01-DEC-16
8、SEU reduction effectiveness of common centroid layout in differential latch at 130-nm CMOS technology,MICROELECTRONICS RELIABILITY,01-JAN-17
9、Evaluation of SEU Performance of 28-nm FDSOI Flip-Flop Designs,IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE,01-JAN-17
10、An Area Efficient Stacked Latch Design Tolerant to SEU in 28 nm FDSOI Technology,IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE,01-JAN-16
11、A single event upset tolerant latch design,MICROELECTRONICS RELIABILITY,01-JAN-18
12、Resist Filling Study for UV Nanoimprint Lithography Using Stamps with Various Micro/Nano Ratios,MICROMACHINES,01-JAN-18
13、MEMS based energy harvesting for the Internet of Things: a survey,MICROSYSTEM TECHNOLOGIES-MICRO-AND NANOSYSTEMS-INFORMATION STORAGE AND PROCESSING SYSTEMS,01-JAN-18
14、Effect of stamp design on residual layer thickness and contact pressure in UV nanoimprint lithography,MICRO & NANO LETTERS,01-JAN-18
15、A single event upset hardened flip-flop design utilizing layout technique,Microelectronics Reliability,01-JAN-19
16、A Single Event Upset Resilient Latch Design with Single Node Upset Immunity,Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA),01-JAN-19
17、Investigation on the neighbouring effect of filling micro- and nanoscale cavities in ultraviolet nanoimprint lithography,MICRO & NANO LETTERS,01-JAN-19
18、A Layout-Based Rad-Hard DICE Flip-Flop Design,JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS,01-JAN-19
19、A Single Event Upset Resilient Latch Design with Single Node Upset Immunity,JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS,01-JAN-19
20、A Low-Overhead FFT Design With Higher SEU Resilience Implemented in FPGA,IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE,01-JAN-20
21、Soft Error Resilience of Deep Residual Networks for Object Recognition,IEEE ACCESS,01-JAN-20
22、A single event upset hardened flip-flop design utilizing layout technique,MICROELECTRONICS RELIABILITY,01-JAN-19
科技成果
开授课程
教学成果
2020年河海大学讲课竞赛二等奖
2020年江苏省电子设计大赛一等奖指导老师
2020年江苏省华为杯物联网比赛国家级二等奖指导老师
教学资源
社会职务
IEEE IRPS/NSREC/ESREF国际会议技术委员会成员
国家自然科学基金、江苏省科技项目评审专家
SCI期刊审稿专家
荣誉及奖励
1、高性能智能前照灯系统关键技术及产业化,2019-12,2019年度江苏省科学技术奖,三等奖
2、ICREED会议最佳论文,2019-05
招生信息
招收对人工智能理论与应用、集成电路设计、嵌入式系统方面的研究生
优秀学生代表：
戴茜茜：国家奖学金获得者，现在AMD工作，发表SCI论文3篇，授权发明专利3件
王杨圣：国家奖学金获得者，发表SCI论文1篇，在审2篇，授权发明专利2件
褚嘉敏：特等奖学金，发表SCI论文1篇，授权发明专利1件
Younis：江苏省政府留学奖学金获得者，发表SCI论文3篇
Zaid：发表SCI论文1篇，会议1篇，在审SCI论文2篇
