李震

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个人信息Personal information

高级工程师（正高）博士生导师 硕士生导师
性别：男
在职信息：在职
所在单位：光学与电子信息学院
学历：研究生(博士)毕业
学位：工学博士学位
毕业院校：华中科技大学
学科：微电子学与固体电子学


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个人简介Personal profile

李震，工学博士，华中科技大学光学与电子信息学院微电子学系高级工程师（正高），博士生导师。主要从事非易失性相变存储器的设计、建模、制造、操作方法及测试技术，存储内复杂计算方法与架构、忆阻器及其应用、多维光存储技术等方面研究，参与了国家863重大项目子课题，国家863面上项目，国际科技合作项目，湖北省重大科技攻关项目等研究。多项研究成果发表在APL、OPTICS EXPRESS、J. Opt.、Optical Engineering、Int. J. Heat...
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教育经历Education experience

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工作经历Work experience

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社会兼职Social affiliations

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研究方向Research focus

非易失性存储器
存储内计算方法和架构
大规模集成电路测试方法


团队成员Research group

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科学研究 中文主页 - 科学研究


研究领域
n非易失性存储器
n存储内计算方法
n大规模集成电路测试方法




论文成果
[1] Modelling of dual-port computing operations of a phase-change memory cell
[2] Pr-based metallic glass films used as resist for phase-change lithography
[3] Modeling of transient thermal dissipation of nanoscale phase-change memory cells in the pulse domain
[4] Temperature dependence of SET switching characteristics in phase-change memory cells
[5] Exposure strategy and crystallization of Ge-Sb-Te thin film by maskless phase-change lithography


专利
[1] 一种精确控制微纳尺寸相变材料非晶化率连续变化的方法，zl1.8
[2] 一种相变存储器芯片测试方法及其系统，zl5.4
[3] 基于数字双向脉冲对相变存储单元非晶态和晶态剪裁的方法，zl8.8
[4] 一种相变存储器热串扰测试方法，zl9.x
[5] 考虑热量积累效应的相变存储器单元SPICE模型系统及其应用，zl7.x


著作成果
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科研项目
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论文成果 中文主页 - 科学研究 - 论文成果

[1] Modelling of dual-port computing operations of a phase-change memory cell.
[2] Pr-based metallic glass films used as resist for phase-change lithography.
[3] Modeling of transient thermal dissipation of nanoscale phase-change memory cells in the pulse domain.
[4] Temperature dependence of SET switching characteristics in phase-change memory cells.
[5] Exposure strategy and crystallization of Ge-Sb-Te thin film by maskless phase-change lithography.
[6] Metallic resist for phase-change lithography, Scientific Reports.
[7] Continuous controllable amorphization ratio of nanoscale phase change memory cells.
[8] Polarization-based multiple-bit optical data storage.
[9] Thermal dispersion and secondary crystallization of phase change memory cells.
[10] Picosecond amorphization of chalcogenides material: From scattering to ionization.

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[1] 一种精确控制微纳尺寸相变材料非晶化率连续变化的方法，zl1.8.
[2] 一种相变存储器芯片测试方法及其系统，zl5.4.
[3] 基于数字双向脉冲对相变存储单元非晶态和晶态剪裁的方法，zl8.8.
[4] 一种相变存储器热串扰测试方法，zl9.x.
[5] 考虑热量积累效应的相变存储器单元SPICE模型系统及其应用，zl7.x.

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授课信息
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