常素萍

姓名：常素萍
电话：
职称：讲师
邮箱：Changsp@mail.hust.edu.cn


个人基本情况 常素萍（Chang Suping，Lecturer），博士，讲师。1998年和2004年分别获得华中科技大学材料加工工程专业的学士和硕士学位，2007年获得华中科技大学测试计量技术及仪器专业博士学位，并留校任教，从事测量计量技术和精密仪器等方面的教学和科研。2008年获得华中科技大学优秀博士学位论文。现已承担和参加国家自然基金、863重点项目、国家重大仪器开发专项、湖北省自然基金、横向科研课题十多项，发表文章三十多篇，申请专利7项，授权专利4项。


主要研究方向 光学精密测量技术及仪器
表面测量及分析
精密工程



开设课程 互换性与技术测量（本科）
激光检测技术及仪器（本科）
精密测量的原理与技术（研究生）
先进仪器学（研究生）



近年的科研项目、专著与论文、专利、获奖 承担的科研项目：
1.钢板毛化表面形貌特征的区域法分析和评定理论的研究，2013.01-2015.12，国家自然科学基金（青年资助项目）
2.衍生多功能二、三维微纳图像综合测量系统，2010.01-2012.12，国家自然科学基金（仪器项目）
3.微纳三维测量技术与装置的子课题—精密表面形貌测量，2008.10-2010.10，863重点项目
4.高端表面形貌测量系列仪器研究与开发，2011.10-2015.9，国家重大科学仪器专项
5.三维表面形貌综合测量分析与评定，2008.1-2009.12，湖北省自然科学基金重点项目

专利：
1.一种大量程直线型相位光栅轮廓测量位移传感器发明专利
2.一种激光相位光栅干涉位移传感器发明专利
3.一种白光干涉光学轮廓仪发明专利
4.一种基于显微白光干涉的纳米探针装置发明专利
5.一种基于激光显微干涉的多功能测量装置 发明专利
6.一种多探针平面度检测仪及其检测方法发明专利
7.一种触针式轮廓仪传感器非线性误差的校正方法发明专利

代表性著作：
1. A white light interference based atomic force probe scanning microscopy.Measurement Science and Technology，2011
2. Scanning white-light interferometric measurement of free form surface based on interference fringe tracing.Proc. of SPIE，2010
3. A controlled-force laser interference profilometer.Proceedings of the SPIE，2011
4. Design and realization of controllable measuring force profilometer.Proceedings of the SPIE，2010
5. Non-uniform interpolation and re-sampling for tactile scanning measurement.Proceedings of the SPIE，2011
6. 一种可控测量力的大量程激光干涉位移传感器 计量学报， 2010
7. 大量程触针杠杆式轮廓仪的非线性误差分析和补偿 计量技术， 2012
8. 基于CPLD的测量控制系统的设计与实现.自动化与仪表 自动化与仪表，2013
9. 毛化表面的三维表面形貌在线测量仪 计量技术，2014
10. A novel contact and non-contact hybrid profilometer. Precision Engineering，2009
11. 大行程纳米级共平面二维精密工作台的研究 机械科学与技术，2010