[讲座]工程科学前沿讲坛第122讲20150602

【6月2日】工程科学前沿讲坛第122讲：加拿大西安大略大学专家讲座

讲座题目：Time-of-FlightSecondaryIonMassSpectrometryandItsApplicationsinMaterialsSciences

主讲人：聂恒勇研究员

讲座时间：2015年6月2日（星期二）上午9:00

讲座地点：国家镁合金工程中心会议室（A区综合实验大楼319）

讲座内容：

Time-of-flightsecondaryionmassspectrometry(ToF-SIMS)isasurface-sensitiveanalyticaltechniqueusedtoidentifyelementsandmolecules.Itprobesthetopmost1-3nmofasurfacebymeasuringthe(secondary)ionsgeneratedbybombardingthesurfacewithapulsed(primary)ionbeam.Withanothersputterionbeamtoremoveacontrollableamountofsubstance,ToF-SIMSisalsoauniquetechniquetoprobechemicalinformationindepthwithadepthresolutionof~1nm.Inthistalk,IwilldiscussinstrumentationofToF-SIMS,itsapplicationsinmaterialssciencesincludingsurfacecontaminantidentification,depth-profilingandimagingofelementsandMolecules.

主讲人介绍：

聂恒勇，毕业于中国电子科技大学（1984）,获日本筑波大学工学博士（1992）。曾任日本通产省工业技术研究院（1992-1995）及三菱化学（1995-1997）特别研究员。现任表面科学中心研究员和物理与天文学系兼职教授。在金属－半导体界面、表面化学、自组装单分子膜形成机理及其表征方面具有丰富的研究经验，已发表六十多篇论文。是原子间力显微镜及飞行时间型二次离子质谱仪方面的专家，为工业界用户提出大约700份有关表面及界面的分析报告。主要研究方向是开发表面分析方法在材料科学领域的应用，自组装单分子膜的成膜方法及其在金属和氧化物表面修饰的应用。

主办单位：重庆大学工程学部

承办单位：重庆大学材料学院

欢迎各单位老师参加，并针对有关问题现场提问。
具体详情请参见附件。
附件： 工程科学前沿讲坛第122讲20150602.doc

信息发布人：居凌桢