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智能卡操作系统开发中的测试技术

外文标题	Test technology in developing smart card's chip operation system
文献类型	期刊
作者	张利华[1]
机构	[1]北京航空航天大学 北京 100083 华东交通大学,江西 南昌 330013 ↓
来源信息	年:2004卷:25期:6页码范围:901-902,931
期刊信息	计算机工程与设计ISSN:1000-7024
关键词	智能卡;操作系统;协议测试;测试用例
摘要	标准化和安全是智能卡应用的基本要求.在智能卡操作系统的开发中,要遵循软件工程和协议工程的要求.测试是其中的重要环节.在介绍智能卡操作系统的体系结构的基础上,根据硬件、规范和COS的特点,给出了双界面智能卡操作系统的测试方案,详细分析了测试用例的设计.第3方测试表明,测试方案是可行的.
收录情况	ISTIC
链接地址	http://d.g.wanfangdata.com.cn/Periodical_jsjgcysj200406017.aspx
DOI	10.3969/j.issn.1000-7024.2004.06.017
基金	华东交通大学校科研和教改项目

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dc:title:智能卡操作系统开发中的测试技术
dc:creator:张利华
dc:date: publishDate:2004-06-28
dc:type:期刊
dc:format: Media：计算机工程与设计
dc:identifier: LnterrelatedLiterature：计算机工程与设计.2004,25(6),901-902,931.
dc:identifier:DOI：10.3969/j.issn.1000-7024.2004.06.017
dc: identifier:ISBN:1000-7024