基于预计的电子设备可靠性优化方法研究
文献类型 | 会议 |
作者 | 任羿[1];杨多明[2] |
机构 | [1]北京航空航天大学可靠性工程研究所(北京 [2]北京航空航天大学可靠性工程研究所(北京 ↓ |
会议论文集 | 第六届国际可靠性、维修性、安全性会议论文集 |
来源信息 | 年:2004页码范围:208-212 |
会议信息 | 第六届国际可靠性、维修性、安全性会议ISSN: |
关键词 | 军用电子设备;相关参数;预计软件;优化方案 |
摘要 | 本文结合电子设备可靠性软件给出了一套综合的电子设备可靠性预计优化方法,该方法以图形的分析为主,简单直观,适于工程应用. |
所属部门 | 可靠性与系统工程学院 |
全文链接 | http://d.g.wanfangdata.com.cn/Conference_5913234.aspx |
会议地点 | 西安 |
会议开始日期 | 2004-08-26 |
全文
影响因子:
系统安全与可靠性工程系
系统安全与可靠性工程系
dc:title:基于预计的电子设备可靠性优化方法研究
dc:creator:任羿;杨多明
dc:date: publishDate:2004-08-26
dc:type:会议
dc:format: Media:第六届国际可靠性、维修性、安全性会议
dc:identifier: LnterrelatedLiterature:第六届国际可靠性、维修性、安全性会议.2004,208-212.
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dc: identifier:ISBN: