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基于X射线数字图像序列的缺陷自动识别技术

文献类型	会议
作者	周正干[1];杜圆媛[2]
机构	[1]北京航空航天大学机械工程及自动化学院,北京,100083 [2]北京航空航天大学机械工程及自动化学院,北京,100083 ↓
来源信息	年:2004页码范围:256-262
会议信息	中国机械工程学会;中国无损检测学会ISSN:
关键词	无损检测 数字图像 自动识别 缺陷检测 X射线
摘要	在现有的X射线数字图像自动识别方法中,多采用对单幅数字图像进行孤立评判的方法.在这种方法中,由于阈值选取难以最优化,因而存在一定的误判率.为了解决这一问题,提出了一种X射线数字图像自动识别新方法.该方法将识别过程分为两步:①缺陷提取.运用数学形态学的开运算模拟出试件X射线原始数字图像的背景图像,将原始图像与背景图像相减得到差值图像,再选取一定的阈值进行缺陷分割,得到试件上潜在缺陷(真缺陷和伪缺陷的统称)的影像.②缺陷跟踪.旋转试件,获得不同方向X射线照射下的试件数字图像.由于不同方向X射线投影下的真缺陷之间满足一定的几何关系,运用立体视觉中的算法,可以跟踪得到真缺陷,并剔除伪缺陷.试验结果表明,该方法可有效降低缺陷误判率,是识别真缺陷去除伪缺陷的高效方法.
所属部门	机械工程及自动化学院
会议地点	宁波

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院机关周正干

dc:title:基于X射线数字图像序列的缺陷自动识别技术
dc:creator:周正干;杜圆媛
dc:date: publishDate:1753-01-01
dc:type:会议
dc:format: Media：中国机械工程学会;中国无损检测学会
dc:identifier: LnterrelatedLiterature：中国机械工程学会;中国无损检测学会.2004,256-262.
dc:identifier:DOI：
dc: identifier:ISBN: