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光电成像导引头抗干扰性能评估方法

外文标题	An Evaluation Method for Anti-interference Performance of Photoelectric Imaging Guiding Head
文献类型	期刊
作者	王学伟[1];熊璋[2];沈同圣[3];周晓东[4]
机构	北京航空航天大学计算机科学与工程系,北京,100083;海军航空工程学院自动控制系,山东,烟台,264001;北京航空航天大学计算机科学与工程系,北京,100083;海军航空工程学院自动控制系,山东,烟台,264001 ↓
来源信息	年:2003卷:30期:1页码范围:56-58
期刊信息	光电工程ISSN:1003-501X
关键词	光电成像导引头;抗干扰;性能评估;光电对抗;图像处理;模拟
摘要	提出了一种新的光电(红外/电视)成像导引头抗干扰性能评估方法,该半实物仿真系统采用光电跟踪仪模拟导引头的探测器,导引头图像处理单元由DSP系统硬件实现.在线实时评估方式模拟了导引头的实际工作过程,离线事后评估可以改进导引头的图像处理算法.作为一个通用评估平台,此方案可以评价不同导引头的抗干扰性能.
收录情况	PKUISTICCSCD
所属部门	计算机学院
链接地址	http://d.g.wanfangdata.com.cn/Periodical_gdgc200301016.aspx
DOI	10.3969/j.issn.1003-501X.2003.01.016
人气指数	2
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dc:title:光电成像导引头抗干扰性能评估方法
dc:creator:王学伟;熊璋;沈同圣,等
dc:date: publishDate:2003-02-28
dc:type:期刊
dc:format: Media：光电工程
dc:identifier: LnterrelatedLiterature：光电工程.2003,30(1),56-58.
dc:identifier:DOI：10.3969/j.issn.1003-501X.2003.01.016
dc: identifier:ISBN:1003-501X