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电子设备可靠性预计参数综合分析方法研究

外文标题	Integrated analysis methods for reliability prediction parameters of electronic device
文献类型	期刊
作者	任羿[1];曾声奎[2];李晓阳[3]
机构	[1]北京航空航天大学可靠性工程研究所,北京航空航天大学可靠性工程研究所,北京航空航天大学可靠性工程研究所 北京100083,北京100083,北京100083 [2]北京航空航天大学可靠性工程研究所,北京航空航天大学可靠性工程研究所,北京航空航天大学可靠性工程研究所 北京100083,北京100083,北京100083 [3]北京航空航天大学可靠性工程研究所,北京航空航天大学可靠性工程研究所,北京航空航天大学可靠性工程研究所 北京100083,北京100083,北京100083 ↓
来源信息	年:2003卷:24期:3页码范围:318-321
期刊信息	宇航学报ISSN:1000-1328
关键词	可靠性预计;参数;故障率曲面;故障率等值线;综合分析
摘要	如何调整元器件的参数以满足可靠性要求并达到最佳的效费比?传统的方法是绘制故障率随单个预计参数变化的曲线,然后根据变化的趋势分别进行调整,但该方法很难直观地反映出多参数对故障率的综合影响,为了达到优化的目的,设计人员需要根据经验反复地调整各类参数.为此,本文结合电子产品可靠性预计软件,给出了直观分析各参数对电子设备可靠性预计结果综合影响的方法.
收录情况	PKUISTICCSCD
所属部门	可靠性与系统工程学院
链接地址	http://d.g.wanfangdata.com.cn/Periodical_yhxb200303021.aspx
DOI	10.3321/j.issn:1000-1328.2003.03.021
人气指数	3
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院机关曾声奎
可靠性与环境工程技术重点实验室李晓阳
系统安全与可靠性工程系任羿

dc:title:电子设备可靠性预计参数综合分析方法研究
dc:creator:任羿;曾声奎;李晓阳
dc:date: publishDate:2003-06-10
dc:type:期刊
dc:format: Media：宇航学报
dc:identifier: LnterrelatedLiterature：宇航学报.2003,24(3),318-321.
dc:identifier:DOI：10.3321/j.issn:1000-1328.2003.03.021
dc: identifier:ISBN:1000-1328