面向板级的数字电路可测性设计研究
| 文献类型 | 学位 |
| 作者 | 梁佐庆[1] |
| 机构 | 北京航空航天大学 ↓ |
| 授予学位 | 硕士 |
| 年度 | 2003 |
| 学位授予单位 | 北京航空航天大学 |
| 语言 | 中文 |
| 关键词 | 可测性;数字电路;故障隔离;时滞故障;边界扫描 |
| 摘要 | 该文针对航空电子和非航空电子可测性设计技术研究的要求,在面向电路板级的数字电路的可测试性方面进行了深入的探讨和研究,该文主要对以下三个方面进行了探讨. 1、首先,针对数字电路板级进行了分块和改进了如何选择最佳测试点的算法.2、其次,分析了电路中的不稳定现象.3.再次,分析了边界扫描测试技术在电路板级的应用方法和策略. |
影响因子：
dc:title:面向板级的数字电路可测性设计研究
dc:creator:梁佐庆
dc:date: publishDate:1753-01-01
dc:type:学位
dc:format: Media：北京航空航天大学
dc:identifier: LnterrelatedLiterature：北京航空航天大学.2003.
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dc: identifier:ISBN:
